亮点
决议。重新定义。
凤凰纳托姆HR通过融合研究级分辨率与日常易用性，重新定义了亚微米级CT技术。凭借50纳米细节可检测性、卓越对比度与无与伦比的速度，它架起了发现与生产力之间的桥梁。凭借开放式管腔设计、大面积探测器技术及无缝工作流程，Nanotom HR助您解析极致细节、加速科研进程、更快做出精准决策。
<0.4 微米
JIMA空间分辨率
300 纳米
焦点稳定性
40-160千伏
能量范围多样性
100 微米
大面积探测器
超高分辨率
看见最小的。
获取最清晰的。
体验真正的亚微米级成像，为研究级CT树立全新标杆。凭借小至400纳米（JIMA标准）的体素尺寸和可检测至50纳米的细节分辨能力，纳米托姆HR清晰呈现最微小的细节。
- 亚微米体素分辨率 → 可解析传统CT无法显示的微观结构与精细特征。
- 300纳米焦斑性能 → 即使在长程高倍扫描中，也能呈现更锐利的对比度和更清晰的成像效果。
- 花岗岩基座机械臂 → 无振动稳定性，确保科学可靠、可重复的数据。
- 清晰度带来的信心 → 减少重复操作、提升一致性，让每次扫描都值得信赖。
对于研究人员而言，这意味着能够清晰解析传统CT无法触及的微观结构、孔隙率及精细特征。对制造商而言，这意味着更清晰、更稳定的数据，从而加速创新发现、加快验证流程，并确保最高水平的质量保障。
扩展视野而不损失分辨率- 滑动比较。
视野
更多样本，同样清晰。
凤凰纳米托姆HR系统将大面积探测器与精密优化的几何结构相结合，在保持亚微米级成像能力的同时，扩展了可见视野范围。
- 支持对单个数据集中的多个特征进行并行分析。
- 减少了破坏性切片或重复扫描的需求。
- 通过在更广阔区域保持分辨率统一，从而提升数据一致性。
通过扩大单次扫描的覆盖范围，Nanotom HR 使用户能够在不牺牲分辨率的前提下捕捉更大的感兴趣区域——从而为复杂结构提供更完整的图像。
轻松操作
专为您打造的便捷体验
专为消除复杂性而设计，让您专注于成果——而非设置。
- 直观的软件界面，操作更简便
- 自动焦点对准
- 前开式门和数控控制系统
Nanotom HR的易用性不仅体现在界面设计上。培训周期更短、工作流程更直观，团队能快速上手——即便在当今动态的劳动力环境中亦是如此。
极速决议
保留细节，节省时间。
相较于光学放大技术，体验无与伦比的速度下的超高分辨率。
120 分钟 → 40 分钟 在 0.5 微米 体素
60 分钟 → 10 分钟 在 1.0 微米 体素
通过将速度与精度相结合，您将获得更快的成果、更短的研发周期以及加速的生产质量检查。 更快的扫描意味着更快的洞察，为创新腾出更多时间。
应用实例
CT和SEM（电池）
图片：拖动比较锂离子电池负极的CT重建图像与SEM成像。
- CT技术揭示体积结构，而SEM则捕捉纳米级表面细节，从而提供完整的多尺度视图。
- 配合纳米托姆HR系统，揭示对下一代储能至关重要的颗粒分布、孔隙率及降解途径。
- CT与SEM共同构成强大的互补工具，为尖端研究、教学及科学探索提供有力支持。
先进封装（半导体）
图示：HBM堆栈横截面扫描图突显了通孔（TSV）与凸点连接结构。
- 检查硅通孔（TSVs）、微凸点和再分布层。
- 检测影响热性能和电气性能的空隙、错位及互连故障。
- 适用于先进的2.5D/3D集成电路封装。
塑料泡沫（材料科学）
图像： 聚合物泡沫的切片CT图像，左侧突出显示孔隙几何结构，右侧呈现支撑杆厚度测量结果。
- 分析孔隙尺寸分布与支撑杆厚度以评估机械稳定性
- 检测影响性能的密度变化和微观结构不一致性
- 支持开发用于隔热、包装和结构用途的轻质泡沫材料
罂粟籽（生命科学）
图像： 罂粟籽的CT切片显示细胞微观结构。
- 以高分辨率观察种子形态与生长分布。
- 测量单个细胞的厚度以研究生物发育。
- 实现植物生物学、食品科学和农业领域的无损研究。
电容器与MLCC（电子元件）
图像：MLCC电容器的CT切片显示其叠层电极结构。
- 分析多层陶瓷电容器（MLCC）中的电极间距与介电完整性。
- 检测导致过早失效的裂纹、分层和空隙。
- 适用于汽车、电信和消费电子领域的高密度电路板。
砂岩（地球科学）
图：砂岩样本的CT扫描图像，显示其孔隙网络与矿物相。
- 表征岩石的孔隙度和连通孔隙结构，用于岩石质量评价。
- 评估对地球科学和能源研究至关重要的渗透性和流体通道。
- 分析影响长期稳定性的矿物异质性和微裂缝。
电路板与组件（电子）
图片：从全脑成像到高分辨率的ROI扫描，揭示神经连接的高精度图谱。
- 评估焊点质量、键合线位置及连接器完整性。
- 验证导致潜在现场故障的隐蔽空洞或裂缝。
- 凭借大视场，可在单次扫描中检查完整的互连结构，且不牺牲分辨率。
赋能大学
推动研究，
推进发现
纳托姆HR为高校、实验室及研发机构提供研究级CT解决方案——从聚合物与复合材料到生物科学及化石研究。
- 材料科学
- 生命与生物科学
- 地球科学
- 增材制造
关键连接
电子与半导体——从硅到电路。
现代电子设备要求绝对可靠性，从堆叠式存储器封装到微型电容器及电路板级连接点皆是如此。纳米托姆HR系统能在关键尺度上揭示隐蔽缺陷与互连质量，这些维度正是性能与良率取决于结构完整性的关键所在。
为探索而生
基于尖端纳米聚焦光源和稳定性优先架构精心设计
纳米托姆HR系统能够清晰解析低导电率与高导电率材料中的纳米级特征。无论是推动材料科学与地质学领域的研究，评估先进封装中的互连完整性， 追踪电池电极的孔隙率，或检测高密度PCB与电力电子器件中的焊线与连接器，Nanotom HR均能提供亚微米级分辨率的深度洞察。凭借更清晰的图像、更快的扫描速度和稳定的性能，它为尖端研究和工业创新提供了强大而实用的解决方案。
软件
Datos|x 3 - 加速推进CT的未来
体验工业CT的未来——Datos|x 3（Waygate Technologies独家软件），专为无缝数据采集与重建而设计。凭借二十余年的创新积淀，Datos|x 3提供直观界面，重建速度提升高达40%。
借助Fast|scan和Sector|scan等先进模块，在学术研究、电子学及半导体领域解锁亚微米级细节，让复杂样品分析变得轻而易举。
超快速扫描，采用Fast|scan
在极短时间内捕捉清晰锐利的高分辨率图像，特别适用于时间敏感的研究和复杂样本分析。
灵活的工作流程
根据您的具体应用需求调整扫描与重建设置，无论是学术研究还是工业研发。
现代、用户友好的界面
直观的设计最大限度地降低了学习曲线，并为所有技能水平的用户提供了最高的工作效率。
高倍放大适用于大样本，配备扇区扫描
清晰精准地放大电子、半导体和先进材料中的微观结构。
无缝集成
以行业标准格式导出并分析数据，加速协作与洞察共享。
始终如一的高质量成果
即使在最苛刻的样本上也能获得无伪影的图像，助力科学研究和产品创新实现可靠突破。
一个平台。无尽的发现。
探索应用的完整谱系，从生物结构到工业组件。
确保新一代封装的可靠性和稳定性。
表征TSVs、微凸点、焊球和RDLs至亚微米级。
检测可能影响设备性能和可靠性的空洞、微裂纹或错位。
验证晶圆贴合均匀性、环氧树脂分布及键合完整性，确保其具有可重复的稳定性。
检测精细特征和完整组件中的缺陷。
揭示焊点空隙、键合缺陷和引线键合问题
通过清晰成像验证连接器和引线框架 。
利用大面积探测器，可同时扫描整个组件及微小感兴趣区域。
揭示各类研究材料的结构-性能关系。
• 分析聚合物、复合材料、涂层及纳米粒子分散体系。
• 详细表征孔隙率、裂纹及断裂起始点。
• • 依托机械稳定性实现长时研究扫描。
• 利用40-160千伏宽广电压范围同时研究轻质与致密材料。
从微化石到多孔岩石结构，精准捕捉复杂性，毫不妥协。
研究微化石、矿物包体和岩石孔隙度。
绘制断裂网络 并量化孔隙连通性。
表征从粘土到晶体结构的多相材料。
在单次扫描中同时捕获低密度和高密度相 。
从细胞到软组织，无需破坏性制备即可实现前所未有的精细结构可视化。
研究生物组织和软物质的自然状态。
高精度分析细胞形态、厚度及生长模式。
以三维形式可视化植物结构，例如种子、茎和叶片。
区分生物样本中的细孔隙与致密包体。
从电极到固态材料，精准解析关键微观结构与界面。
以亚微米级清晰度可视化电极多孔性、粘结剂分布及电解质界面。
通过揭示关键材料结构，支持固态电池和下一代电池的创新发展。
通过快速扫描模式缩短迭代周期，实现快速研发反馈。
通过高分辨率无损成像技术，推动材料与制造领域的创新发展。
在微观结构层面表征聚合物和复合材料。
评估添加剂粉末中的夹杂物、气孔和空隙。
通过一致且可重复的结果，加速材料开发与工艺优化。
了解我们的服务
服务和支持
如果需要零部件，我们可以提供原装 OEM 部件以帮助您的机器恢复正常运行。 当需要维修时，我们在业界首屈一指的 X 射线机器现场服务可提供全面的保修来完成所需的工作。
产品规格
细节
数据
X射线管类型
具备卓越稳定性的极高分辨率纳米聚焦X射线管，可实现全天候连续运行
最大电压/功率
160千伏 / 17瓦
几何放大（3D）
1.4 x - 300 x
细节可检测性
缩小至50纳米（0.05微米）
3D分辨率*
<<1微米（完全清晰分辨）
空间分辨率
<400 纳米 (JIMA)
最大样品直径
< 1 毫米至 240 毫米
最大样品直径
< 1 毫米至 240 毫米
最大样品高度/重量
250 毫米 / 3 千克（6.6 磅）
系统尺寸
1,980 毫米 × 1,600 毫米 × 925 毫米（78 英寸 × 63 英寸 × 36.4 英寸）
系统重量
约1,900千克 / 4,190磅
每个细节，精确至50纳米。
纳托姆HR为高分辨率CT树立了新标杆，实现真正的亚微米成像，空间分辨率可达400纳米（JIMA）。这不仅关乎更小的体素——更在于整个系统专为稳定性和可重复性而设计。
纳米聚焦X射线源将漂移降至最低，而花岗岩基座机械臂确保即使在最长的扫描过程中也能实现无振动定位。
对研究人员而言，这意味着能够解析传统CT无法企及的微观结构、孔隙率及精细细节。对制造商而言，这意味着能够清晰验证复杂组件，从而建立信心。
这是我们迄今为止性能最卓越的研究级CT设备——其精准度不仅能测量细节，更能揭示细节。
一次扫描，完成更多任务。
传统方法往往迫使人们做出妥协：要么捕捉更宽广的视野，要么保留细节。纳米托姆HR系统消除了这种取舍。凭借其大面积探测器和优化的系统几何结构，您可以在扫描更大样本区域的同时，保持该系统标志性的亚微米级清晰度。
对于许多应用场景——从先进电子封装到研究样本——这意味着单次扫描即可观察到更多结构细节，且无需破坏性制备。
我们创造的最大亚微米级细节窗口——更多样本，同等细节。
每年仅需一次维护。
尖端性能不必意味着高昂的终身成本。纳米托姆HR扫描仪以可靠性为核心设计理念，让您专注于扫描而非维护。其开放式扫描管设计显著降低维护需求和停机时间，即使在高负荷使用下也能有效控制关键领域的长期成本。
每年仅需一次维护周期，即可最大限度减少中断并延长运行时间。这意味着减少服务呼叫次数、降低运营成本，并实现更快的投资回报。
结果：打造出具备世界级性能且无隐性成本的系统，使高端CT技术在当今实验室和研究环境中更具可持续性。
扫描速度最高可达5倍。
借助纳米托姆HR，速度不再以牺牲细节为代价。凭借先进的亚微米CT技术，它能在数分钟内提供< 1微米体素分辨率的扫描结果——以往耗时数小时的成果，如今触手可及。
通过将精准度与无与伦比的吞吐量相结合，该系统助力实验室和研发中心加速工作进程。更快的扫描速度意味着更快的发现、更短的研发周期以及更高效的工作流程——同时始终保持研究所需的严苛品质。
结果：即时创新——助您更快做出自信决策，在分秒必争的竞争领域保持领先优势。
更鲜明的对比，更纯净的效果。
得益于其纳米聚焦X射线管实现300纳米焦斑性能和花岗岩基座操纵器确保最高稳定性，即使在长时间高倍扫描过程中，其成像质量也始终保持卓越——毫不妥协。
这意味着重复次数更少，首次结果更清晰，每次扫描都更可靠。
最终成果：更精确、更稳定且科学可靠的数据，以加速发现进程并确保最高水准的质量。
从第一天起就能轻松操作。
高分辨率不再意味着高复杂度。纳托姆HR的设计理念是：从一开始就融入了易用性。
自动焦斑对准功能省去了繁琐的校准步骤。滑动式前门、数控控制系统及内置摄像头使样品放置简便安全。花岗岩支撑导轨确保稳定性。
与此同时，直观的软件引导用户完成设置和扫描操作，从而降低培训需求并缩短上手时间。
结果：操作员减少了设置时间，更多时间用于获取答案。 每次扫描启动更快、更值得信赖、更易于重复 ——让您在控制台操作时充满信心，并获得值得信赖的结果。
资源
