Phoenix V|tome|x L 300 - 微焦点 CT 系统
工业 X 射线检测
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phoenix v|tome|x L 300 是一个多功能高分辨率微焦点系统，用于 3D 计算机断层扫描 (microCT) 和 2D X 射线无损检测。 它配备了单极 300kV/500W 微焦点射线源，以及可选配与 180kV/20W 高功率纳米焦点 X 射线管进行 dual|tube 组合的 nanoCT 功能。
该系统以极高的精度处理重达 50 公斤、直径达 500 毫米的大型样品。 该系统是一个非常灵活的解决方案，可用于复合材料、铸件和精密部件（如注射喷嘴或涡轮叶片）的空隙和缺陷检测以及 3D 测量（如首件检测）。
Waygate Technologies（前身为 GE Inspection Technologies）是无损检测解决方案的全球领导者，在确保质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。
