Phoenix V|tome|x L 300 - 微焦点 CT 系统
 
工业 X 射线检测
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phoenix v|tome|x L 300

 

phoenix v|tome|x L 300 是一个多功能高分辨率微焦点系统,用于 3D 计算机断层扫描 (microCT) 和 2D X 射线无损检测。 它配备了单极 300kV/500W 微焦点射线源,以及可选配与 180kV/20W 高功率纳米焦点 X 射线管进行 dual|tube 组合的 nanoCT 功能。

该系统以极高的精度处理重达 50 公斤、直径达 500 毫米的大型样品。 该系统是一个非常灵活的解决方案,可用于复合材料、铸件和精密部件(如注射喷嘴或涡轮叶片)的空隙和缺陷检测以及 3D 测量(如首件检测)。

Waygate Technologies(前身为 GE Inspection Technologies)是无损检测解决方案的全球领导者,在确保质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。

 

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