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Phoenix V|tome|x S240 CT system wiht Operator
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菲尼克斯V|tome|x S240创新型

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在本文中:

  • Waygate Technologies 推出 Phoenix V|tome|x S240:新一代工业 CT 系统具有更快的扫描时间和更高的分辨率,是电子、汽车和研发应用的理想之选
  • 双管灵活性,应用范围广泛: 该系统配备 180 kV 纳焦和 240 kV 微焦 X 射线管,可在超高分辨率和高穿透扫描之间无缝切换
  • 动态 41|200p+ 探测器使吞吐量增加一倍: S240 配备了新一代 16" 探测器,灵敏度更高、成像面积更大、帧速率更快--在不影响图像质量的情况下提高了工作效率。
  • 宽敞的设计增强了可用性: 重新设计的机柜更易于接近,更便于样品装载和维修,提高了实验室和生产环境的运行效率
  • 多功能 CT 功能确保质量和安全: 从三维孔隙分析到 CAD 对比和内部缺陷检测,S240 可支持各种工业和科学检测任务


威盖特科技公司推出新一代 Phoenix V|tome|x S240 CT 系统

新系统分辨率更高,扫描量更大,适用于各种工业 CT 应用

2020 年 9 月 23 日,德国乌恩施多夫。 世界领先的工业检测解决方案提供商威盖特技术公司(前身为通用电气检测技术公司)推出了新一代多功能工业二维射线照相和三维 CT 系统 Phoenix V|tome|x S240。 新系统保留了业界公认的纳米聚焦和微聚焦 X 射线管的可选组合,同时配备了动态 41|200p+ 探测器技术,可在更快的扫描时间内获得更高的分辨率和图像质量。 经过改进的更宽敞的机舱设计进一步提高了使用效率,便于样品装载和维修。 新功能旨在提高质量控制和生产流程的效率,确保客户的安全、质量和生产率。 新一代V|tome|x S240涵盖了研究机构和工业质量实验室的各种CT应用,包括内部缺陷分析、三维定量孔隙率分析、材料结构分析、装配控制和坐标测量任务(如CAD数据标称/实际对比)。

畅销的工业 CT 主力机型

2003 年推出的 Phoenix V|tome|x S 是第一款实验室规模的高分辨率微焦和纳米焦 CT 系统。 凭借其独特的双管配置选项和内含的二维 X 射线检查功能,该紧凑型机型迅速成为同类 CT 系统中最畅销的机型,目前已在全球安装了约 500 台。

改进的探测器性能、更快的速度和试管灵活性

新型 V|tome|x S240 的主要更新是新一代 16" Dynamic 41|200p+ 数字探测器。 通过将更高的探测器灵敏度和更大的成像区域与更快的帧频和自适应成像模式相结合,它在与传统 DXR 探测器相同的质量水平上将 CT 吞吐量提高了一倍。

通过将更多能量集中在更小的焦斑上,威盖特技术公司提供的可选高通量|目标可将分辨率或扫描速度提高一倍。 因此,可以在不影响精度和准确性的情况下进一步提高生产量。

凭借成熟的双管技术,V|tome|x S240 可在几分钟内自动在 180 kV/20 W 高功率纳米聚焦 X 射线管和 240 kV/320 W 微聚焦 X 射线管之间切换。 这一系列功能使该系统能够应对电子和汽车行业以及研发和科学应用中的检测挑战,从对低吸收材料进行细节检测可达 200 纳米的极高分辨率 nanoCT 扫描,到对直径达 400 毫米的高吸收物体进行 3D microCT 分析。

该 CT 系统还标配有一个额外的倾斜轴,可进行灵活的二维 X 射线检测。

更快地扫描较长工件,精确测量复杂工件

Phoenix V®tome®x S240 能够进行螺旋(或螺旋)扫描,样品在 X 射线束中向上移动,因此能够更快地扫描较长的零件,而无需在扫描后将多个部分扫描结果拼接在一起。 利用新的偏移|CT 扫描功能,系统还能扫描比以往更大的部件,或分辨率更高的相同尺寸部件。

自动扫描、数据采集和处理

Phoenix V|tome|x S240 配备了先进、高度直观的 CT 扫描软件,可实现全自动数据采集和体积处理。 在生产模式下,只需按下按钮即可启动整个 CT 扫描和评估流程链,并自动执行三维故障分析或三维计量任务。

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