HIGHLIGHTS

Auflösung. Neu definiert.

Der Phoenix Nanotom HR definiert die Submikron-CT neu, indem er eine Auflösung auf Forschungsniveau mit alltäglicher Benutzerfreundlichkeit verbindet. Mit einer Detailerkennbarkeit von 50 nm, einem beeindruckenden Kontrast und einer unübertroffenen Geschwindigkeit schließt er die Lücke zwischen Entdeckung und Produktivität. Mit seinem offenen Röhrendesign, der großflächigen Detektortechnologie und dem nahtlosen Arbeitsablauf ermöglicht Ihnen der Nanotom HR, feinste Details zu erkennen, Ihre Forschung zu beschleunigen und schneller sichere Entscheidungen zu treffen. 



Image
Graphic showcasing detail detectability of Nanotom HR
Image
Graphic showcasing 1 maintenance / year
Image
Graphic showcasing larger FOV vs market leader


Image
Graphic showcasing sharper scans at high resolution
Image
Graphic showcasing ease of use of system and software
Image
Graphic showcasing 1 maintenance / year


<0,4 µm

JIMA-Raumauflösung

300 nm

Fokussierpunktstabilität

40–160 kV

Vielseitigkeit im Energiebereich

100 µm

Großflächiger Detektor



Image
Nanotom HR Rendering - Side Profile


Image
Graphic showcasing high resolution of NTM HR

ULTRAHOHE AUFLÖSUNG

Siehe das Kleinste.

Holen Sie sich das Klarste.

Erleben Sie echte Submikron-Bildgebung, die neue Maßstäbe für die Forschungstomographie setzt. Mit einer Voxelgröße von nur 400 nm (JIMA-Standard) und einer Detailerkennbarkeit von bis zu 50 nm zeigt der Nanotom HR selbst kleinste Details klar und deutlich.

  • Submikron-Voxelauflösung → Auflösung von Mikrostrukturen und feinen Merkmalen, die mit herkömmlicher CT nicht sichtbar sind.
  • 300 nm Fokuspunktleistung → schärferer Kontrast und sauberere Ergebnisse, selbst bei langen Scans mit hoher Vergrößerung.
  • Manipulator auf Granitbasis → vibrationsfreie Stabilität für wissenschaftlich zuverlässige, wiederholbare Daten.
  • Vertrauen in Klarheit → weniger Wiederholungen, höhere Konsistenz und Vertrauen bei jedem Scan.

Für Forscher bedeutet dies, dass sie Mikrostrukturen, Porositäten und feine Merkmale, die mit herkömmlicher CT nicht erfasst werden können, zuverlässig auflösen können. Für Hersteller bedeutet dies schärfere, stabilere Daten, die Entdeckungen beschleunigen, die Validierung beschleunigen und Qualität auf höchstem Niveau gewährleisten.



CT scan showcasing Nanotom HR FOV CT scan showcasing market leader's FOV
Sehen Sie den Unterschied

Erweitertes Sichtfeld ohne Verlust der Auflösung - Zum Vergleich verschieben. 

SICHTFELD

Mehr Probe, gleiche Klarheit.

Der Phoenix Nanotom HR kombiniert einen großflächigen Detektor mit einer präzisionsoptimierten Geometrie, um das sichtbare Sichtfeld zu erweitern und gleichzeitig die Submikron-Fähigkeiten beizubehalten.

  • Ermöglicht die parallele Analyse mehrerer Merkmale in einem Datensatz.
  • Reduziert die Notwendigkeit destruktiver Schnitte oder wiederholter Scans.
  • Verbessert die Datenkonsistenz, indem die Auflösung über größere Bereiche hinweg einheitlich bleibt.

Durch die Erweiterung dessen, was in einen einzigen Scan passt, ermöglicht der Nanotom HR den Benutzern, größere Bereiche von Interesse zu erfassen, ohne dabei an Auflösung einzubüßen – und liefert so ein vollständigeres Bild komplexer Strukturen.



 

MÜHELOSE BEDIENUNG

Benutzerfreundlichkeit, die zu Ihnen passt

Entwickelt, um Komplexität zu beseitigen, damit Sie sich auf Ergebnisse konzentrieren können – nicht auf die Einrichtung.

  • Intuitive Software-Oberfläche für vereinfachte Bedienung
  • Automatische Fokussierung
  • Frontöffnungstür und CNC-Steuerung

Beim Nanotom HR geht die Benutzerfreundlichkeit über die Benutzeroberfläche hinaus. Die Einarbeitung geht schneller, die Arbeitsabläufe sind intuitiv und die Teams können sich schnell einarbeiten – selbst in der heutigen dynamischen Arbeitswelt. 

 

 

Image
Graphic showcasing ease of use of system and software


Image
Graphic showcasing various scan times of applications

Schnelle Lösung

Behalte die Details – spare Zeit.

Erleben Sie ultrahohe Auflösung bei unvergleichlichen Geschwindigkeiten im Vergleich zur optischen Vergrößerungstechnologie.

120 min → 40 min bei 0,5 µm Voxel

60 min → 10 min bei 1,0 µm Voxel

Durch die Kombination von Geschwindigkeit und Präzision erzielen Sie schnellere Ergebnisse, kürzere Forschungs- und Entwicklungszyklen und beschleunigte Produktionsqualitätsprüfungen. Schnellere Scans bedeuten schnellere Erkenntnisse und mehr Zeit für Innovationen.  



Image
Collage including various CT scans from Academia &amp; Science

 

STÄRKUNG DER HOCHSCHULEN

Forschung vorantreiben,

Entdeckungen vorantreiben

Der Nanotom HR liefert CT-Bilder in Forschungsqualität für Universitäten, Labore und F&E – von Polymeren und Verbundwerkstoffen bis hin zu Biowissenschaften und Fossilien.

  • Materialwissenschaft
  • Leben & Biowissenschaften
  • Geowissenschaften
  • Additive Fertigung


KRITISCHE VERBINDUNGEN

Elektronik und Halbleiter – vom Silizium zum Schaltkreis.

Moderne Elektronik erfordert absolute Zuverlässigkeit, von gestapelten Speicherpaketen bis hin zu winzigen Kondensatoren und Verbindungen auf Leiterplattenebene. Der Nanotom HR deckt versteckte Defekte und die Qualität der Verbindungen in den entscheidenden Bereichen auf, in denen Leistung und Ausbeute von der strukturellen Integrität abhängen.

 

Image
Various CT images of an HBM stack

 

 





Gebaut für Entdeckungen.

Diagram Sketch of Nanotom HR

Entwickelt auf Basis einer hochmodernen Nanofokus-Quelle und einer auf Stabilität ausgelegten Architektur

Der Nanotom HR löst Merkmale bis hinunter zur Nanoskala mit hoher Klarheit bei Materialien mit niedrigem und hohem Z-Wert. Ob es um die Förderung der Forschung in den Bereichen Materialwissenschaften und Geologie, die Bewertung der Integrität von Verbindungen in fortschrittlichen Verpackungen, die Verfolgung der Porosität in Batterieelektroden oder die Inspektion von Drahtverbindungen und Steckverbindern in hochdichten Bereichen geht. der Porosität von Batterieelektroden oder der Inspektion von Drahtverbindungen und Steckverbindern in hochdichten Leiterplatten und Leistungselektronik – der Nanotom HR liefert Erkenntnisse mit einer Auflösung im Submikrometerbereich. Mit schärferen Bildern, schnelleren Scans und stabiler Leistung bietet er leistungsstarke und dennoch praktische Lösungen sowohl für die Spitzenforschung als auch für industrielle Innovationen.



Diagram of Nanotom HR






Image
Image of monitor with Datos software open

 

 

 

SOFTWARE

Datos|x 3 – Die Zukunft der CT, beschleunigt

Erleben Sie die Zukunft der industriellen CT mit Datos|x 3 – der exklusiven Software von Waygate Technologies, die für eine nahtlose Datenerfassung und -rekonstruktion entwickelt wurde. Basierend auf mehr als 20 Jahren Innovation bietet Datos|x 3 eine intuitive Benutzeroberfläche und eine um bis zu 40 % schnellere Rekonstruktion.

Entdecken Sie Details im Submikrometerbereich in Wissenschaft, Elektronik und Halbleitertechnik mit fortschrittlichen Modulen wie Fast|scan und Sector|scan, die die Analyse komplexer Proben zum Kinderspiel machen.

 




 
 
 

Ultraschnelles Scannen mit Fast|scan

Nehmen Sie scharfe, hochauflösende Bilder in einem Bruchteil der Zeit auf – ideal für zeitkritische Forschungsarbeiten und komplexe Probenanalysen.


 
 
 

Flexibler Arbeitsablauf

Passen Sie die Scan- und Rekonstruktionseinstellungen genau an Ihre Anwendung an, von der akademischen Forschung bis hin zur industriellen Forschung und Entwicklung.


 
 
 

Moderne, benutzerfreundliche Oberfläche

Das intuitive Design minimiert die Einarbeitungszeit und maximiert die Produktivität für alle Qualifikationsstufen.


 
 
 

Hohe Vergrößerung für große Proben mit Sector|scan

Zoomen Sie klar und präzise in Mikrostrukturen in Elektronik, Halbleitern und fortschrittlichen Materialien hinein.


 
 
 

Nahtlose Integration

Exportieren und analysieren Sie Daten in branchenüblichen Formaten, um die Zusammenarbeit und den Austausch von Erkenntnissen zu beschleunigen.


 
 
 

Konsistente, qualitativ hochwertige Ergebnisse

Erzielen Sie selbst bei anspruchsvollsten Proben artefaktfreie Bilder und ermöglichen Sie so zuverlässige Durchbrüche in Wissenschaft und Produktinnovation.



Eine Plattform. Unendliche Entdeckungen.

Entdecken Sie das gesamte Anwendungsspektrum, von biologischen Strukturen bis hin zu industriellen Baugruppen.

Halbleiter & FA

Sichere Erträge und Zuverlässigkeit in Verpackungen der nächsten Generation. 
 

  • Charakterisieren Sie TSVs, Mikro-Bumps, Lötkugeln und RDLs bis in den Submikrometerbereich.

  • Erkennen Sie Hohlräume, Mikrorisse oder Fehlausrichtungen , die die Leistung und Zuverlässigkeit des Geräts beeinträchtigen.

  • Überprüfen Sie die Gleichmäßigkeit der Die-Befestigung, die Epoxidverteilung und die Verbindungsintegrität mit wiederholbarer Stabilität.

Elektronik

Erkennen Sie Fehler sowohl an feinen Details als auch an kompletten Baugruppen.

  • Decken Sie Lötstellenhohlräume, Verbindungsfehler und Probleme mit Drahtverbindungen auf.

  • Überprüfen Sie Steckverbinder und Leiterrahmen mit sauberer Bildgebung.

  • Nutzen Sie den Großflächen-Detektor, um sowohl ganze Komponenten als auch kleine ROIs zu scannen.

Werkstoffkunde

Aufdeckung von Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in einer Vielzahl von Forschungsmaterialien. 
•     Analysieren Sie Polymere, Verbundwerkstoffe, Beschichtungen und Nanopartikel-Dispersionen.
•    Charakterisieren Sie Porosität, Risse und Bruchstellen im Detail. 
•     Verlassen Sie sich bei umfangreichen Forschungsscans auf die mechanische Stabilität
•    Nutzen Sie den breiten Bereich von 40 bis 160 kV, um sowohl leichte als auch dichte Materialien zu untersuchen.
 

Geowissenschaften

Von Mikrofossilien bis hin zu porösen Gesteinsstrukturen – erfassen Sie Komplexität ohne Kompromisse.

  • Untersuche Mikrofossilien, Mineraleinschlüsse und Gesteinsporosität.

  • Karte Bruchnetzwerke und Quantifizierung der Porenkonnektivität.

  • Charakterisieren Sie mehrphasige Materialien von Tonen bis zu kristallinen Strukturen.

  • Erfassen Sie sowohl Phasen mit niedriger als auch mit hoher Dichte in einem einzigen Scan. 

Biologie und Biowissenschaften

Von Zellen bis hin zu Weichteilen – visualisieren Sie Strukturen in beispielloser Detailgenauigkeit ohne zerstörende Präparation.

  • Untersuchen Sie biologische Gewebe und weiche Materie in ihrem natürlichen Zustand.

  • Analysieren Sie Zellmorphologie, Dicke und Wachstumsmuster mit hoher Präzision.

  • Visualisieren Sie Pflanzenstrukturen wie Samen, Stängel und Blätter in 3D.

  • Unterscheiden Sie zwischen feinen Porositäten und dichten Einschlüssen in biologischen Proben.

Batterieforschung

Von Elektroden bis hin zu Festkörpermaterialien – analysieren Sie kritische Mikrostrukturen und Grenzflächen mit Zuversicht.

  • Visualisieren Sie Elektrodenporosität, Bindemittelverteilung und Elektrolytgrenzflächen mit einer Genauigkeit im Submikrometerbereich.

  • Unterstützung von Innovationen im Bereich Festkörper- und Batterien der nächsten Generation durch Aufdeckung kritischer Materialstrukturen.

  • Verkürzen Sie die Iterationszyklen mit dem Fast|Scan-Modus für schnelles Feedback aus der Forschung und Entwicklung. 

Industrielle F&E

Fördern Sie Innovationen im Bereich Materialien und Fertigung mit hochauflösender, zerstörungsfreier Bildgebung.

  • Charakterisieren Sie Polymere und Verbundwerkstoffe auf mikrostruktureller Ebene.

  • Bewertung von additiven Pulvern auf Einschlüsse, Poren und Hohlräume.

  • Beschleunigen Sie die Materialentwicklung und Prozessoptimierung mit konsistenten, wiederholbaren Ergebnissen.



Produktspezifikationen

Detail
Daten
 
 
 

Röntgenröhrentyp

Nanofokus-Röntgenröhre mit extremer Auflösung, geeignet für den 24/7-Betrieb mit ausgezeichneter Stabilität

Max. Spannung / Leistung

160 kV / 17 W

Geometrische Vergrößerung (3D)

1,4 x – 300 x

Detailerkennbarkeit

Bis zu 50 nm (0,05 Mikrometer)

3D-Auflösung*

<<1 µm (vollständig, klar aufgelöst)

Räumliche Auflösung

<400 nm (JIMA)

Max. Probendurchmesser

< 1 mm bis 240 mm

Max. Probendurchmesser

< 1 mm bis 240 mm

Max. Probenhöhe/-gewicht

250 mm / 3 kg (6,6 lbs.)

Systemabmessungen

1,980 mm x 1,600 mm x 925 mm (78” x 63” x 36.4”)

Systemgewicht

Ca. 1.900 kg / 4.190 lbs.



image for cards form
Kontakt

Senden Sie uns eine Nachricht

Sprechen Sie mit einem unserer Experten für zerstörungsfreie Prüfungen, um die für Ihre Anforderungen am besten geeigneten Inspektionslösungen zu finden.

shutter-speed-zodmxpvujqa-unsplash.jpg
Abonnieren

Bleiben Sie in Kontakt

Folgen Sie Waygate Technologies auf YouTube und LinkedIn, um die neuesten Updates und Informationen zu erhalten.

absolutvision-wyd_pkca1by-unsplash.jpg
Mehr lesen

Nachrichten & Blog

Erfahren Sie mehr über unsere Innovationsgeschichte und stöbern Sie in den neuesten Nachrichten, Expertenmeinungen und ausgewählten Fallstudien aus unseren verschiedenen Geschäftsbereichen.



Grid image showcasing various scans in different applications with Nanotom HR
Überzeugen Sie sich selbst.

Vorführung anfordern

Kontaktieren Sie uns und vereinbaren Sie einen Termin für eine Vorführung vor Ort oder virtuell, um Ihre einzigartigen Anwendungsanforderungen und wie wir diese optimal erfüllen können zu besprechen.

Sub-Mikron-Auflösung
Jedes Detail, bis hinunter zu 50 nm.

Der Nanotom HR setzt neue Maßstäbe für hochauflösende CT-Untersuchungen und liefert echte Submikron-Bildgebung mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 400 nm (JIMA). Dabei geht es nicht nur um kleinere Voxel, sondern um ein komplettes System, das auf Stabilität und Wiederholbarkeit ausgelegt ist.

 
Die Nanofokus-Röntgenquelle minimiert Drift, während der Manipulator auf Granitbasis selbst bei längsten Scans eine vibrationsfreie Positionierung gewährleistet.


Für Forscher bedeutet dies, dass sie Mikrostrukturen, Porositäten und feine Details auflösen können, die mit herkömmlicher CT nicht erreichbar sind. Für Hersteller bedeutet dies die Gewissheit, komplexe Komponenten mit Klarheit validieren zu können.


Dies ist unser bislang leistungsfähigstes CT-Gerät für Forschungszwecke – mit einer Präzision, die Details nicht nur misst, sondern auch sichtbar macht.

Größerer ROI bei gleicher Auflösung
Erledigen Sie mehr mit einem einzigen Scan.

Herkömmliche Methoden zwingen oft zu Kompromissen: Entweder wird ein größeres Sichtfeld erfasst oder es werden Details verloren. Der Nanotom HR reduziert diesen Kompromiss. Mit seinem Großflächendetektor und der optimierten Systemgeometrie können Sie einen größeren ROI von Proben scannen und dabei die für dieses System charakteristische Submikron-Schärfe beibehalten.


Für viele Anwendungen – von hochentwickelten Elektronikgehäusen bis hin zu Forschungsproben – bedeutet dies, dass mit einem einzigen Scan mehr von der Struktur sichtbar wird, ohne dass eine zerstörende Vorbereitung erforderlich ist.

Das größte Fenster zu Details im Submikrometerbereich, das wir je geschaffen haben – mehr Probe, gleiche Detailgenauigkeit. 

Niedrige Gesamtbetriebskosten (TCO)
Nur eine Wartung pro Jahr.

Modernste Technologie muss nicht unbedingt mit hohen Lebenszykluskosten einhergehen. Der Nanotom HR wurde mit Blick auf Zuverlässigkeit entwickelt, damit Sie sich ganz auf das Scannen konzentrieren können und nicht auf Wartungsarbeiten. Sein offenes Röhrendesign reduziert den Wartungsaufwand und Ausfallzeiten selbst bei intensiver Nutzung und senkt so langfristig die Kosten dort, wo es am wichtigsten ist.

Mit nur einem einzigen Wartungszyklus pro Jahr minimieren Sie Unterbrechungen und maximieren die Betriebszeit. Das bedeutet weniger Serviceeinsätze, geringere Betriebskosten und eine schnellere Amortisation Ihrer Investition.

Das Ergebnis: ein System, das Weltklasse-Leistung ohne versteckte Kosten bietet und High-End-CT für moderne Labore und Forschungsumgebungen nachhaltiger macht.
 

Hochgeschwindigkeits-Bildgebung
Bis zu 5-mal schnelleres Scannen.

Mit dem Nanotom HR geht Geschwindigkeit nicht mehr auf Kosten der Detailgenauigkeit. Dank fortschrittlicher Submikron-CT-Technologie liefert er Scans mit einer Voxelauflösung von < 1 µm in wenigen Minuten – Ergebnisse, für die früher Stunden benötigt wurden, sind nun im Handumdrehen verfügbar.
 

Durch die Kombination von Präzision mit unübertroffenem Durchsatz ermöglicht das System Laboren und Forschungs- und Entwicklungszentren eine Beschleunigung ihrer Arbeit. Schnellere Scans bedeuten schnellere Entdeckungen, kürzere Forschungs- und Entwicklungszyklen und produktivere Arbeitsabläufe – und das alles bei gleichbleibender, kompromissloser Qualität, wie sie in der Forschung gefordert wird.


Das Ergebnis: Innovation ohne Verzögerung – damit Sie schneller sichere Entscheidungen treffen und in wettbewerbsintensiven Bereichen, in denen jede Sekunde zählt, die Nase vorn behalten.

Scharfe, hochauflösende Scans
Schärferer Kontrast, sauberere Ergebnisse.

Dank seiner Nanofokus-Röntgenröhre mit einer Brennfleckleistung von 300 nm und seinem Manipulator auf Granitbasis für maximale Stabilität liefert es Scans ohne Kompromisse selbst bei längsten Durchläufen mit hoher Vergrößerung.

Das bedeutet weniger Wiederholungen, klarere Ergebnisse beim ersten Mal und mehr Vertrauen in jeden Scan.


Das Ergebnis: präzisere, stabilere und wissenschaftlich zuverlässigere Daten, um Entdeckungen zu beschleunigen und höchste Qualität zu gewährleisten. 

Benutzerfreundlichkeit
Mühelose Bedienung vom ersten Tag an.

Hohe Auflösung bedeutet nicht mehr hohe Komplexität. Der Nanotom HR wurde so konzipiert, dass die Benutzerfreundlichkeit von Anfang an berücksichtigt wurde.


Die automatische Fokussierung macht langwierige Kalibrierungen überflüssig. Eine Schiebetür an der Vorderseite, CNC-Steuerung und eine integrierte Innenkamera ermöglichen eine einfache und sichere Platzierung der Proben. Granitgestützte Schienen sorgen für Stabilität.


Intuitive Software führt den Benutzer durch die Einrichtung und das Scannen, wodurch der Schulungsaufwand reduziert und die Einarbeitungszeit verkürzt wird.


Das Ergebnis: Die Bediener verbringen weniger Zeit mit der Einrichtung und haben mehr Zeit, um Antworten zu finden.  Jeder Scan startet schneller, ist vertrauenswürdiger und einfacher zu wiederholen  – das gibt Ihnen Sicherheit an der Konsole und Ergebnisse, hinter denen Sie stehen können. 



Downloads

Image
Flyer of Nanotom HR
/sites/bakerhughes/files/2025-07/wt2025_nanotom-hr_teaser-flyer_v34.pdf

Fragen Sie den Experten.

Ihre Anfrage wurde abgeschickt.
Vielen Dank für Ihr Interesse. Ein Experte wird sich in Kürze mit Ihnen in Verbindung setzen.