HIGHLIGHTS
Auflösung. Neu definiert.
Der Phoenix Nanotom HR definiert die Submikron-CT neu, indem er eine Auflösung auf Forschungsniveau mit alltäglicher Benutzerfreundlichkeit verbindet. Mit einer Detailerkennbarkeit von 50 nm, einem beeindruckenden Kontrast und einer unübertroffenen Geschwindigkeit schließt er die Lücke zwischen Entdeckung und Produktivität. Mit seinem offenen Röhrendesign, der großflächigen Detektortechnologie und dem nahtlosen Arbeitsablauf ermöglicht Ihnen der Nanotom HR, feinste Details zu erkennen, Ihre Forschung zu beschleunigen und schneller sichere Entscheidungen zu treffen.
<0,4 µm
JIMA-Raumauflösung
300 nm
Fokussierpunktstabilität
40–160 kV
Vielseitigkeit im Energiebereich
100 µm
Großflächiger Detektor
ULTRAHOHE AUFLÖSUNG
Siehe das Kleinste.
Holen Sie sich das Klarste.
Erleben Sie echte Submikron-Bildgebung, die neue Maßstäbe für die Forschungstomographie setzt. Mit einer Voxelgröße von nur 400 nm (JIMA-Standard) und einer Detailerkennbarkeit von bis zu 50 nm zeigt der Nanotom HR selbst kleinste Details klar und deutlich.
- Submikron-Voxelauflösung → Auflösung von Mikrostrukturen und feinen Merkmalen, die mit herkömmlicher CT nicht sichtbar sind.
- 300 nm Fokuspunktleistung → schärferer Kontrast und sauberere Ergebnisse, selbst bei langen Scans mit hoher Vergrößerung.
- Manipulator auf Granitbasis → vibrationsfreie Stabilität für wissenschaftlich zuverlässige, wiederholbare Daten.
- Vertrauen in Klarheit → weniger Wiederholungen, höhere Konsistenz und Vertrauen bei jedem Scan.
Für Forscher bedeutet dies, dass sie Mikrostrukturen, Porositäten und feine Merkmale, die mit herkömmlicher CT nicht erfasst werden können, zuverlässig auflösen können. Für Hersteller bedeutet dies schärfere, stabilere Daten, die Entdeckungen beschleunigen, die Validierung beschleunigen und Qualität auf höchstem Niveau gewährleisten.
Erweitertes Sichtfeld ohne Verlust der Auflösung - Zum Vergleich verschieben.
SICHTFELD
Mehr Probe, gleiche Klarheit.
Der Phoenix Nanotom HR kombiniert einen großflächigen Detektor mit einer präzisionsoptimierten Geometrie, um das sichtbare Sichtfeld zu erweitern und gleichzeitig die Submikron-Fähigkeiten beizubehalten.
- Ermöglicht die parallele Analyse mehrerer Merkmale in einem Datensatz.
- Reduziert die Notwendigkeit destruktiver Schnitte oder wiederholter Scans.
- Verbessert die Datenkonsistenz, indem die Auflösung über größere Bereiche hinweg einheitlich bleibt.
Durch die Erweiterung dessen, was in einen einzigen Scan passt, ermöglicht der Nanotom HR den Benutzern, größere Bereiche von Interesse zu erfassen, ohne dabei an Auflösung einzubüßen – und liefert so ein vollständigeres Bild komplexer Strukturen.
MÜHELOSE BEDIENUNG
Benutzerfreundlichkeit, die zu Ihnen passt
Entwickelt, um Komplexität zu beseitigen, damit Sie sich auf Ergebnisse konzentrieren können – nicht auf die Einrichtung.
- Intuitive Software-Oberfläche für vereinfachte Bedienung
- Automatische Fokussierung
- Frontöffnungstür und CNC-Steuerung
Beim Nanotom HR geht die Benutzerfreundlichkeit über die Benutzeroberfläche hinaus. Die Einarbeitung geht schneller, die Arbeitsabläufe sind intuitiv und die Teams können sich schnell einarbeiten – selbst in der heutigen dynamischen Arbeitswelt.
Schnelle Lösung
Behalte die Details – spare Zeit.
Erleben Sie ultrahohe Auflösung bei unvergleichlichen Geschwindigkeiten im Vergleich zur optischen Vergrößerungstechnologie.
120 min → 40 min bei 0,5 µm Voxel
60 min → 10 min bei 1,0 µm Voxel
Durch die Kombination von Geschwindigkeit und Präzision erzielen Sie schnellere Ergebnisse, kürzere Forschungs- und Entwicklungszyklen und beschleunigte Produktionsqualitätsprüfungen. Schnellere Scans bedeuten schnellere Erkenntnisse und mehr Zeit für Innovationen.
Anwendungsbeispiele
CT und SEM (Batterie)
Bild: Ziehen Sie, um die CT-Rekonstruktion mit der SEM-Bildgebung der Anode einer Lithium-Ionen-Batterie zu vergleichen.
- CT zeigt die volumetrische Architektur, während SEM Details der Oberfläche im Nanobereich erfasst und so eine vollständige Multiskalenansicht bietet.
- In Kombination mit dem Nanotom HR lassen sich Partikelverteilung, Porosität und Abbauwege aufzeigen, die für die Energiespeicherung der nächsten Generation entscheidend sind.
- Zusammen dienen CT und SEM als leistungsstarke, sich ergänzende Werkzeuge für fortgeschrittene Forschung, Lehre und wissenschaftliche Entdeckungen.
Fortschrittliche Verpackung (Halbleiter)
Bild: Querschnittsscan des HBM-Stapels zeigt TSVs und Bump-Verbindungen.
- Überprüfen Sie Durchkontaktierungen (TSVs), Mikro-Bumps und Umverteilungsschichten.
- Erkennen Sie Hohlräume, Fehlausrichtungen und Verbindungsfehler, die die thermische und elektrische Leistung beeinträchtigen.
- Ideal für fortschrittliche 2,5D-/3D-IC-Verpackungen.
Kunststoffschaum (Materialwissenschaft)
Bild: Geteilte CT-Scheibe aus Polymerschaum, die die Porengeometrie (links) und die Strebendicke (rechts) hervorhebt.
- Analysieren Sie die Porengrößenverteilung und die Strebendicke, um die mechanische Stabilität zu beurteilen.
- Erkennen Sie Dichteunterschiede und mikrostrukturelle Unregelmäßigkeiten, die sich auf die Leistung auswirken.
- Unterstützung der Entwicklung von Leichtschäumen für Isolierungs-, Verpackungs- und Strukturzwecke
Mohnsamen (Biowissenschaften)
Bild: CT-Aufnahme von Mohnsamen, die die zelluläre Mikrostruktur zeigt.
- Untersuchen Sie die Morphologie der Samen und die Wachstumsverteilung in hoher Auflösung.
- Messen Sie die Dicke einzelner Zellen, um die biologische Entwicklung zu untersuchen.
- Ermöglichen Sie zerstörungsfreie Forschung in den Bereichen Pflanzenbiologie, Lebensmittelwissenschaft und Landwirtschaft.
Kondensatoren und MLCCs (Elektronik)
Bild: CT-Aufnahme eines MLCC-Kondensators zeigt gestapelte Elektrodenschichten.
- Analysieren Sie den Elektrodenabstand und die dielektrische Integrität in mehrschichtigen Keramikkondensatoren (MLCCs).
- Erkennen Sie Risse, Delaminationen und Hohlräume, die zu vorzeitigen Ausfällen führen.
- Unverzichtbar für hochdichte Leiterplatten in der Automobilindustrie, Telekommunikation und Unterhaltungselektronik.
Sandstein (Geowissenschaften)
Bild: CT-Scan einer Sandsteinprobe, der das Porennetzwerk und die Mineralphasen zeigt.
- Charakterisieren Sie die Porosität und die miteinander verbundenen Porenstrukturen für die Bewertung der Gesteinsqualität.
- Bewertung der Durchlässigkeit und der Flüssigkeitswege, die für die Geowissenschaften und die Energieforschung von entscheidender Bedeutung sind.
- Analysieren Sie die Heterogenität der Mineralien und Mikrorisse, die sich auf die langfristige Stabilität auswirken.
Platinen und Baugruppen (Elektronik)
Bild: Von Vollpension bis zum ROI-Scan, der Verbindungen in hoher Auflösung aufdeckt.
- Beurteilen Sie die Qualität der Lötstellen, die Platzierung der Bonddrähte und die Unversehrtheit der Steckverbinder.
- Überprüfen Sie versteckte Hohlräume oder Brüche, die zu latenten Feldausfällen führen.
- Überprüfen Sie dank des großen Sichtfelds alle Verbindungen in einem einzigen Scan, ohne dabei an Auflösung einzubüßen.
STÄRKUNG DER HOCHSCHULEN
Forschung vorantreiben,
Entdeckungen vorantreiben
Der Nanotom HR liefert CT-Bilder in Forschungsqualität für Universitäten, Labore und F&E – von Polymeren und Verbundwerkstoffen bis hin zu Biowissenschaften und Fossilien.
- Materialwissenschaft
- Leben & Biowissenschaften
- Geowissenschaften
- Additive Fertigung
KRITISCHE VERBINDUNGEN
Elektronik und Halbleiter – vom Silizium zum Schaltkreis.
Moderne Elektronik erfordert absolute Zuverlässigkeit, von gestapelten Speicherpaketen bis hin zu winzigen Kondensatoren und Verbindungen auf Leiterplattenebene. Der Nanotom HR deckt versteckte Defekte und die Qualität der Verbindungen in den entscheidenden Bereichen auf, in denen Leistung und Ausbeute von der strukturellen Integrität abhängen.
Gebaut für Entdeckungen.
Entwickelt auf Basis einer hochmodernen Nanofokus-Quelle und einer auf Stabilität ausgelegten Architektur
Der Nanotom HR löst Merkmale bis hinunter zur Nanoskala mit hoher Klarheit bei Materialien mit niedrigem und hohem Z-Wert. Ob es um die Förderung der Forschung in den Bereichen Materialwissenschaften und Geologie, die Bewertung der Integrität von Verbindungen in fortschrittlichen Verpackungen, die Verfolgung der Porosität in Batterieelektroden oder die Inspektion von Drahtverbindungen und Steckverbindern in hochdichten Bereichen geht. der Porosität von Batterieelektroden oder der Inspektion von Drahtverbindungen und Steckverbindern in hochdichten Leiterplatten und Leistungselektronik – der Nanotom HR liefert Erkenntnisse mit einer Auflösung im Submikrometerbereich. Mit schärferen Bildern, schnelleren Scans und stabiler Leistung bietet er leistungsstarke und dennoch praktische Lösungen sowohl für die Spitzenforschung als auch für industrielle Innovationen.
SOFTWARE
Datos|x 3 – Die Zukunft der CT, beschleunigt
Erleben Sie die Zukunft der industriellen CT mit Datos|x 3 – der exklusiven Software von Waygate Technologies, die für eine nahtlose Datenerfassung und -rekonstruktion entwickelt wurde. Basierend auf mehr als 20 Jahren Innovation bietet Datos|x 3 eine intuitive Benutzeroberfläche und eine um bis zu 40 % schnellere Rekonstruktion.
Entdecken Sie Details im Submikrometerbereich in Wissenschaft, Elektronik und Halbleitertechnik mit fortschrittlichen Modulen wie Fast|scan und Sector|scan, die die Analyse komplexer Proben zum Kinderspiel machen.
Ultraschnelles Scannen mit Fast|scan
Nehmen Sie scharfe, hochauflösende Bilder in einem Bruchteil der Zeit auf – ideal für zeitkritische Forschungsarbeiten und komplexe Probenanalysen.
Flexibler Arbeitsablauf
Passen Sie die Scan- und Rekonstruktionseinstellungen genau an Ihre Anwendung an, von der akademischen Forschung bis hin zur industriellen Forschung und Entwicklung.
Moderne, benutzerfreundliche Oberfläche
Das intuitive Design minimiert die Einarbeitungszeit und maximiert die Produktivität für alle Qualifikationsstufen.
Hohe Vergrößerung für große Proben mit Sector|scan
Zoomen Sie klar und präzise in Mikrostrukturen in Elektronik, Halbleitern und fortschrittlichen Materialien hinein.
Nahtlose Integration
Exportieren und analysieren Sie Daten in branchenüblichen Formaten, um die Zusammenarbeit und den Austausch von Erkenntnissen zu beschleunigen.
Konsistente, qualitativ hochwertige Ergebnisse
Erzielen Sie selbst bei anspruchsvollsten Proben artefaktfreie Bilder und ermöglichen Sie so zuverlässige Durchbrüche in Wissenschaft und Produktinnovation.
Eine Plattform. Unendliche Entdeckungen.
Entdecken Sie das gesamte Anwendungsspektrum, von biologischen Strukturen bis hin zu industriellen Baugruppen.
Sichere Erträge und Zuverlässigkeit in Verpackungen der nächsten Generation.
Charakterisieren Sie TSVs, Mikro-Bumps, Lötkugeln und RDLs bis in den Submikrometerbereich.
Erkennen Sie Hohlräume, Mikrorisse oder Fehlausrichtungen , die die Leistung und Zuverlässigkeit des Geräts beeinträchtigen.
Überprüfen Sie die Gleichmäßigkeit der Die-Befestigung, die Epoxidverteilung und die Verbindungsintegrität mit wiederholbarer Stabilität.
Erkennen Sie Fehler sowohl an feinen Details als auch an kompletten Baugruppen.
Decken Sie Lötstellenhohlräume, Verbindungsfehler und Probleme mit Drahtverbindungen auf.
Überprüfen Sie Steckverbinder und Leiterrahmen mit sauberer Bildgebung.
Nutzen Sie den Großflächen-Detektor, um sowohl ganze Komponenten als auch kleine ROIs zu scannen.
Aufdeckung von Struktur-Eigenschafts-Beziehungen in einer Vielzahl von Forschungsmaterialien.
• Analysieren Sie Polymere, Verbundwerkstoffe, Beschichtungen und Nanopartikel-Dispersionen.
• Charakterisieren Sie Porosität, Risse und Bruchstellen im Detail.
• Verlassen Sie sich bei umfangreichen Forschungsscans auf die mechanische Stabilität.
• Nutzen Sie den breiten Bereich von 40 bis 160 kV, um sowohl leichte als auch dichte Materialien zu untersuchen.
Von Mikrofossilien bis hin zu porösen Gesteinsstrukturen – erfassen Sie Komplexität ohne Kompromisse.
Untersuche Mikrofossilien, Mineraleinschlüsse und Gesteinsporosität.
Karte Bruchnetzwerke und Quantifizierung der Porenkonnektivität.
Charakterisieren Sie mehrphasige Materialien von Tonen bis zu kristallinen Strukturen.
Erfassen Sie sowohl Phasen mit niedriger als auch mit hoher Dichte in einem einzigen Scan.
Von Zellen bis hin zu Weichteilen – visualisieren Sie Strukturen in beispielloser Detailgenauigkeit ohne zerstörende Präparation.
Untersuchen Sie biologische Gewebe und weiche Materie in ihrem natürlichen Zustand.
Analysieren Sie Zellmorphologie, Dicke und Wachstumsmuster mit hoher Präzision.
Visualisieren Sie Pflanzenstrukturen wie Samen, Stängel und Blätter in 3D.
Unterscheiden Sie zwischen feinen Porositäten und dichten Einschlüssen in biologischen Proben.
Von Elektroden bis hin zu Festkörpermaterialien – analysieren Sie kritische Mikrostrukturen und Grenzflächen mit Zuversicht.
Visualisieren Sie Elektrodenporosität, Bindemittelverteilung und Elektrolytgrenzflächen mit einer Genauigkeit im Submikrometerbereich.
Unterstützung von Innovationen im Bereich Festkörper- und Batterien der nächsten Generation durch Aufdeckung kritischer Materialstrukturen.
Verkürzen Sie die Iterationszyklen mit dem Fast|Scan-Modus für schnelles Feedback aus der Forschung und Entwicklung.
Fördern Sie Innovationen im Bereich Materialien und Fertigung mit hochauflösender, zerstörungsfreier Bildgebung.
Charakterisieren Sie Polymere und Verbundwerkstoffe auf mikrostruktureller Ebene.
Bewertung von additiven Pulvern auf Einschlüsse, Poren und Hohlräume.
Beschleunigen Sie die Materialentwicklung und Prozessoptimierung mit konsistenten, wiederholbaren Ergebnissen.
Entdecken Sie unsere Dienstleistungen
Service und Support
Wenn Teile benötigt werden, können wir Ihnen Original-Ersatzteile bereitstellen, damit Sie wieder voll einsatzbereit sind. Bei Reparaturen kümmert sich unser erstklassiger Außendienst für Röntgenmaschinen im Rahmen der umfassenden Garantie um alles, was zu erledigen ist.
Updates und Upgrades
Wir verfügen über die Werkzeuge, die zur Aktualisierung Ihrer Software und Ihrer Systeme erforderlich sind, sodass Sie entspannt darauf vertrauen können, dass Ihre Systeme effizient laufen und ihr Potenzial ausschöpfen. Wir bieten Unterstützung bei Zertifizierungen, Kalibrierungen, Reparaturen, Ersatzteilen und das meiste hiervon können wir sogar direkt in Ihrer Anlage erledigen.
Inspektionsservices und Beratung
In unseren weltweiten Customer Solutions Centers (CSC) bieten wir Ihnen auf Abruf die Nutzung unserer bewährten industriellen CT-Scan- und Radiographie-Inspektionsservices für Kunststoffe, Verbundwerkstoffe, Gussteile, additiv gefertigte Teile, Keramik, Elektronik, Batterien und mehr.
Produktspezifikationen
Detail
Daten
Röntgenröhrentyp
Nanofokus-Röntgenröhre mit extremer Auflösung, geeignet für den 24/7-Betrieb mit ausgezeichneter Stabilität
Max. Spannung / Leistung
160 kV / 17 W
Geometrische Vergrößerung (3D)
1,4 x – 300 x
Detailerkennbarkeit
Bis zu 50 nm (0,05 Mikrometer)
3D-Auflösung*
<<1 µm (vollständig, klar aufgelöst)
Räumliche Auflösung
<400 nm (JIMA)
Max. Probendurchmesser
< 1 mm bis 240 mm
Max. Probendurchmesser
< 1 mm bis 240 mm
Max. Probenhöhe/-gewicht
250 mm / 3 kg (6,6 lbs.)
Systemabmessungen
1,980 mm x 1,600 mm x 925 mm (78” x 63” x 36.4”)
Systemgewicht
Ca. 1.900 kg / 4.190 lbs.
Jedes Detail, bis hinunter zu 50 nm.
Der Nanotom HR setzt neue Maßstäbe für hochauflösende CT-Untersuchungen und liefert echte Submikron-Bildgebung mit einer räumlichen Auflösung von bis zu 400 nm (JIMA). Dabei geht es nicht nur um kleinere Voxel, sondern um ein komplettes System, das auf Stabilität und Wiederholbarkeit ausgelegt ist.
Die Nanofokus-Röntgenquelle minimiert Drift, während der Manipulator auf Granitbasis selbst bei längsten Scans eine vibrationsfreie Positionierung gewährleistet.
Für Forscher bedeutet dies, dass sie Mikrostrukturen, Porositäten und feine Details auflösen können, die mit herkömmlicher CT nicht erreichbar sind. Für Hersteller bedeutet dies die Gewissheit, komplexe Komponenten mit Klarheit validieren zu können.
Dies ist unser bislang leistungsfähigstes CT-Gerät für Forschungszwecke – mit einer Präzision, die Details nicht nur misst, sondern auch sichtbar macht.
Erledigen Sie mehr mit einem einzigen Scan.
Herkömmliche Methoden zwingen oft zu Kompromissen: Entweder wird ein größeres Sichtfeld erfasst oder es werden Details verloren. Der Nanotom HR reduziert diesen Kompromiss. Mit seinem Großflächendetektor und der optimierten Systemgeometrie können Sie einen größeren ROI von Proben scannen und dabei die für dieses System charakteristische Submikron-Schärfe beibehalten.
Für viele Anwendungen – von hochentwickelten Elektronikgehäusen bis hin zu Forschungsproben – bedeutet dies, dass mit einem einzigen Scan mehr von der Struktur sichtbar wird, ohne dass eine zerstörende Vorbereitung erforderlich ist.
Das größte Fenster zu Details im Submikrometerbereich, das wir je geschaffen haben – mehr Probe, gleiche Detailgenauigkeit.
Nur eine Wartung pro Jahr.
Modernste Technologie muss nicht unbedingt mit hohen Lebenszykluskosten einhergehen. Der Nanotom HR wurde mit Blick auf Zuverlässigkeit entwickelt, damit Sie sich ganz auf das Scannen konzentrieren können und nicht auf Wartungsarbeiten. Sein offenes Röhrendesign reduziert den Wartungsaufwand und Ausfallzeiten selbst bei intensiver Nutzung und senkt so langfristig die Kosten dort, wo es am wichtigsten ist.
Mit nur einem einzigen Wartungszyklus pro Jahr minimieren Sie Unterbrechungen und maximieren die Betriebszeit. Das bedeutet weniger Serviceeinsätze, geringere Betriebskosten und eine schnellere Amortisation Ihrer Investition.
Das Ergebnis: ein System, das Weltklasse-Leistung ohne versteckte Kosten bietet und High-End-CT für moderne Labore und Forschungsumgebungen nachhaltiger macht.
Bis zu 5-mal schnelleres Scannen.
Mit dem Nanotom HR geht Geschwindigkeit nicht mehr auf Kosten der Detailgenauigkeit. Dank fortschrittlicher Submikron-CT-Technologie liefert er Scans mit einer Voxelauflösung von < 1 µm in wenigen Minuten – Ergebnisse, für die früher Stunden benötigt wurden, sind nun im Handumdrehen verfügbar.
Durch die Kombination von Präzision mit unübertroffenem Durchsatz ermöglicht das System Laboren und Forschungs- und Entwicklungszentren eine Beschleunigung ihrer Arbeit. Schnellere Scans bedeuten schnellere Entdeckungen, kürzere Forschungs- und Entwicklungszyklen und produktivere Arbeitsabläufe – und das alles bei gleichbleibender, kompromissloser Qualität, wie sie in der Forschung gefordert wird.
Das Ergebnis: Innovation ohne Verzögerung – damit Sie schneller sichere Entscheidungen treffen und in wettbewerbsintensiven Bereichen, in denen jede Sekunde zählt, die Nase vorn behalten.
Schärferer Kontrast, sauberere Ergebnisse.
Dank seiner Nanofokus-Röntgenröhre mit einer Brennfleckleistung von 300 nm und seinem Manipulator auf Granitbasis für maximale Stabilität liefert es Scans ohne Kompromisse – selbst bei längsten Durchläufen mit hoher Vergrößerung.
Das bedeutet weniger Wiederholungen, klarere Ergebnisse beim ersten Mal und mehr Vertrauen in jeden Scan.
Das Ergebnis: präzisere, stabilere und wissenschaftlich zuverlässigere Daten, um Entdeckungen zu beschleunigen und höchste Qualität zu gewährleisten.
Mühelose Bedienung vom ersten Tag an.
Hohe Auflösung bedeutet nicht mehr hohe Komplexität. Der Nanotom HR wurde so konzipiert, dass die Benutzerfreundlichkeit von Anfang an berücksichtigt wurde.
Die automatische Fokussierung macht langwierige Kalibrierungen überflüssig. Eine Schiebetür an der Vorderseite, CNC-Steuerung und eine integrierte Innenkamera ermöglichen eine einfache und sichere Platzierung der Proben. Granitgestützte Schienen sorgen für Stabilität.
Intuitive Software führt den Benutzer durch die Einrichtung und das Scannen, wodurch der Schulungsaufwand reduziert und die Einarbeitungszeit verkürzt wird.
Das Ergebnis: Die Bediener verbringen weniger Zeit mit der Einrichtung und haben mehr Zeit, um Antworten zu finden. Jeder Scan startet schneller, ist vertrauenswürdiger und einfacher zu wiederholen – das gibt Ihnen Sicherheit an der Konsole und Ergebnisse, hinter denen Sie stehen können.