ASPECTOS DESTACADOS
Resolución. Redefinida.
El Phoenix Nanotom HR redefine la TC submicrométrica al combinar una resolución de nivel de investigación con una facilidad de uso cotidiana. Con una capacidad de detección de detalles de 50 nm, un contraste sorprendente y una velocidad inigualable, tiende un puente entre el descubrimiento y la productividad. Con su diseño de tubo abierto, tecnología de detector de gran superficie y flujo de trabajo fluido, el Nanotom HR le permite resolver los detalles más precisos, acelerar su investigación y tomar decisiones seguras con mayor rapidez.
<0,4 µm
Resolución espacial JIMA
300 nm
Estabilidad del punto focal
40-160 kV
Versatilidad en el rango energético
100 µm
Detector de gran superficie
ULTRA ALTA RESOLUCIÓN
Ver lo más pequeño.
Consigue la mayor claridad.
Experimente la verdadera imagen submicrométrica que establece un nuevo punto de referencia para la TC de grado investigador. Con tamaños de vóxel de tan solo 400 nm (estándar JIMA) y una capacidad de detección de detalles de hasta 50 nm, el Nanotom HR revela los detalles más pequeños con claridad.
- Resolución de vóxeles submicrométrica → resuelve microestructuras y características finas invisibles para la TC convencional.
- Rendimiento del punto focal de 300 nm → contraste más nítido y resultados más limpios, incluso en exploraciones largas y con gran aumento.
- Manipulador con base de granito → estabilidad sin vibraciones para obtener datos científicamente fiables y repetibles.
- Confianza en la claridad → menos repeticiones, mayor coherencia y confianza en cada exploración.
Para los investigadores, esto significa resolver con confianza microestructuras, porosidades y características finas que están fuera del alcance de la TC convencional. Para los fabricantes, significa datos más nítidos y estables que aceleran el descubrimiento, agilizan la validación y garantizan la calidad al más alto nivel.
Campo de visión ampliado sin pérdida de resolución - deslice para comparar.
CAMPO DE VISIÓN
Más muestra, misma claridad.
El Phoenix Nanotom HR combina un detector de gran superficie con una geometría optimizada para la precisión con el fin de ampliar el campo de visión visible, al tiempo que mantiene capacidades submicrométricas.
- Permite el análisis comparativo de múltiples características en un conjunto de datos.
- Reduce la necesidad de realizar cortes destructivos o escaneos repetidos.
- Mejora la coherencia de los datos al mantener una resolución uniforme en áreas más amplias.
Al ampliar lo que cabe en una sola exploración, el Nanotom HR permite a los usuarios capturar regiones de interés más amplias sin sacrificar la resolución, lo que proporciona una imagen más completa de estructuras complejas.
FUNCIONAMIENTO SIN ESFUERZO
Facilidad de uso que se adapta a tus necesidades
Diseñado para eliminar la complejidad, para que puedas centrarte en los resultados, no en la configuración.
- Interfaz de software intuitiva para un funcionamiento simplificado.
- Alineación automática del punto focal
- Puerta con apertura frontal y controles CNC
Con Nanotom HR, la facilidad de uso va más allá de la interfaz. La formación es más rápida, los flujos de trabajo son intuitivos y los equipos pueden ponerse al día rápidamente, incluso en el dinámico entorno laboral actual.
RESOLUCIÓN A VELOCIDAD
Mantén los detalles, reduce el tiempo.
Disfrute de una resolución ultraalta a velocidades sin igual en comparación con la tecnología de aumento óptico.
120 min → 40 min a 0,5 µm voxel
60 min → 10 min a 1,0 µm vóxel
Al combinar velocidad y precisión, se obtienen resultados más rápidos, ciclos de I+D más ágiles y controles de calidad de producción acelerados. Un escaneo más rápido significa información más rápida y más tiempo para la innovación.
Ejemplos de aplicación
CT y SEM (batería)
Imagen: Arrastre para comparar la reconstrucción por TC con la imagen SEM del ánodo de una batería de ionen litio.
- La TC revela la arquitectura volumétrica, mientras que el SEM captura los detalles de la superficie a escala nanométrica, lo que ofrece una visión multiescala completa.
- En combinación con el Nanotom HR, revela la distribución de partículas, la porosidad y las vías de degradación fundamentales para el almacenamiento de energía de última generación.
- Juntos, el CT y el SEM constituyen potentes herramientas complementarias para la investigación avanzada, la enseñanza y los descubrimientos científicos.
Empaquetado avanzado (semiconductores)
Imagen: El escaneo transversal de la pila HBM destaca las conexiones TSV y bump.
- Inspeccione las vías a través del silicio (TSV), los microbump y las capas de redistribución.
- Detecta huecos, desalineaciones y fallos de interconexión que comprometen el rendimiento térmico y eléctrico.
- Ideal para el encapsulado avanzado de circuitos integrados 2.5D/3D.
Espuma plástica (Ciencia de los materiales)
Imagen: Corte transversal por TC de espuma polimérica que destaca la geometría de los poros (izquierda) y la medida del grosor de los puntales (derecha).
- Analizar la distribución del tamaño de los poros y el grosor de los puntales para evaluar la estabilidad mecánica.
- Detectar variaciones de densidad e inconsistencias microestructurales que afectan al rendimiento.
- Apoyar el desarrollo de espumas ligeras para aislamiento, embalaje y usos estructurales.
Semilla de amapola (Ciencias de la vida)
Imagen: Corte transversal por TC de una semilla de amapola que revela su microestructura celular.
- Inspeccione la morfología de las semillas y la distribución del crecimiento en alta resolución.
- Medir el grosor de cada célula para estudiar el desarrollo biológico.
- Permitir la investigación no destructiva en biología vegetal, ciencia alimentaria y agricultura.
Condensadores y MLCC (Electrónica)
Imagen: La sección transversal por TC del condensador MLCC revela capas de electrodos apiladas.
- Analizar la separación entre electrodos y la integridad dieléctrica en condensadores cerámicos multicapa (MLCC).
- Detecta grietas, delaminaciones y huecos que provocan fallos prematuros.
- Esencial para placas de alta densidad en automoción, telecomunicaciones y electrónica de consumo.
Arenisca (Geociencias)
Imagen: Tomografía computarizada de una muestra de arenisca que muestra la red de poros y las fases minerales.
- Caracterizar la porosidad y las estructuras de poros interconectados para evaluar la calidad de la roca.
- Evaluar la permeabilidad y las vías de flujo de fluidos que son fundamentales para la investigación en geociencias y energía.
- Analizar la heterogeneidad mineral y las microfisuras que afectan a la estabilidad a largo plazo.
Placas y conjuntos (electrónica)
Imagen: Desde la placa completa hasta el escáner ROI que revela las interconexiones en alta resolución.
- Evaluar la calidad de las juntas soldadas, la colocación de los cables de unión y la integridad de los conectores.
- Verifique los huecos ocultos o las fracturas que causan fallos latentes en el campo.
- Inspeccione interconexiones completas en un solo escaneo sin sacrificar la resolución gracias al amplio campo de visión.
POTENCIANDO LAS UNIVERSIDADES
Impulsando la investigación,
avanzando en el descubrimiento
El Nanotom HR ofrece tomografía computada de grado científico para universidades, laboratorios e I+D, desde polímeros y compuestos hasta biociencias y fósiles.
- Ciencia de los materiales
- Ciencias de la vida y biológicas
- Ciencias de la Tierra
- Fabricación aditiva
CONEXIONES CRÍTICAS
Electrónica y semiconductores: del silicio al circuito.
La electrónica moderna exige una fiabilidad absoluta, desde paquetes de memoria apilados hasta diminutos condensadores y juntas a nivel de placa. El Nanotom HR revela defectos ocultos y la calidad de las interconexiones a las escalas que importan, donde el rendimiento y el rendimiento dependen de la integridad estructural.
Creado para descubrir.
Diseñado en torno a una fuente nanofocus de última generación y una arquitectura que prioriza la estabilidad.
El Nanotom HR resuelve características a escala nanométrica con claridad en materiales de baja y alta densidad atómica. Ya sea impulsando la investigación en ciencia de materiales y geología, evaluando la integridad de las interconexiones en envases avanzados, el seguimiento de la porosidad en electrodos de baterías, o la inspección de uniones de cables y conectores en alta densidad PCB y electrónica de potencia, el Nanotom HR ofrece información con una resolución submicrométrica. Con imágenes más nítidas, escaneos más rápidos y un rendimiento estable, ofrece soluciones potentes y prácticas tanto para la investigación de vanguardia como para la innovación industrial.
SOFTWARE
Datos|x 3: el futuro de la TC, acelerado
Experimente el futuro de la TC industrial con Datos|x 3, el software exclusivo de Waygate Technologies, diseñado para una adquisición y reconstrucción de datos sin fisuras. Basado en más de 20 años de innovación, Datos|x 3 ofrece una interfaz intuitiva y una reconstrucción hasta un 40 % más rápida.
Descubra detalles submicrométricos en el ámbito académico, la electrónica y los semiconductores con módulos avanzados como Fast|scan y Sector|scan, que facilitan el análisis de muestras complejas.
Escaneo ultrarrápido con Fast|scan
Captura imágenes nítidas y de alta resolución en una fracción del tiempo, ideal para investigaciones urgentes y análisis de muestras complejas.
Flujo de trabajo flexible
Adapte los ajustes de escaneo y reconstrucción a su aplicación específica, desde la investigación académica hasta la I+D industrial.
Interfaz moderna y fácil de usar.
El diseño intuitivo minimiza las curvas de aprendizaje y maximiza la productividad en todos los niveles de habilidad.
Alto aumento para muestras grandes con Sector|scan
Acercaos a las microestructuras de la electrónica, los semiconductores y los materiales avanzados con claridad y precisión.
Integración perfecta
Exporte y analice datos en formatos estándar del sector, acelerando la colaboración y el intercambio de información.
Resultados consistentes y de alta calidad
Consiga imágenes sin artefactos incluso en las muestras más exigentes, lo que permite avances fiables en la ciencia y la innovación de productos.
Una plataforma. Un sinfín de descubrimientos.
Explora toda la gama de aplicaciones, desde estructuras biológicas hasta ensamblajes industriales.
Rendimiento y fiabilidad garantizados en los envases de última generación.
Caracterizar TSV, microprotuberancias, bolas de soldadura y RDL hasta el rango submicrométrico.
Detecta huecos, microfisuras o desalineaciones que comprometen el rendimiento y la fiabilidad del dispositivo.
Verifique la uniformidad de la unión del chip, la distribución del epoxi y la integridad de la unión con una estabilidad repetible.
Detecta defectos tanto en detalles finos como en conjuntos completos.
Descubra huecos en las juntas de soldadura, defectos de unión y problemas en las uniones de cables.
Verifique los conectores y los marcos de plomo con imágenes nítidas.
Aproveche el detector de gran área para escanear componentes completos y pequeñas regiones de interés (ROI) por igual.
Revelar las relaciones entre estructura y propiedades en una amplia gama de materiales de investigación.
• Analice polímeros, compuestos, recubrimientos y dispersiones de nanopartículas.
• Caracterice la porosidad, las grietas y los puntos de inicio de fracturas en detalle.
• Confíe en la estabilidad mecánica para realizar exploraciones de investigación prolongadas.
• Utilice el amplio rango de 40-160 kV para estudiar tanto materiales ligeros como densos.
Desde microfósiles hasta estructuras rocosas porosas, captura la complejidad sin concesiones.
Estudiar microfósiles, inclusiones minerales y porosidad de las rocas.
Mapa redes de fracturas y cuantificar la conectividad de los poros.
Caracterizar materiales multifásicos, desde arcillas hasta estructuras cristalinas.
Captura tanto fases de baja como de alta densidad en un solo escaneo.
Desde células hasta tejidos blandos, visualice estructuras con un nivel de detalle sin precedentes sin necesidad de preparación destructiva.
Examine tejidos biológicos y materia blanda en su estado natural.
Analizar la morfología, el grosor y los patrones de crecimiento de las células con alta precisión.
Visualiza estructuras vegetales como semillas, tallos y hojas en 3D.
Diferenciar porosidades finas e inclusiones densas en muestras biológicas.
Desde electrodos hasta materiales de estado sólido, resuelva con confianza microestructuras e interfaces críticas.
Visualice la porosidad de los electrodos, la distribución del aglutinante y las interfaces electrolíticas con una claridad submicrométrica.
Apoyar la innovación en baterías de estado sólido y de última generación mediante el descubrimiento de estructuras materiales fundamentales.
Acorta los ciclos de iteración con el modo Fast|Scan para obtener una rápida respuesta de I+D.
Impulse la innovación en materiales y fabricación con imágenes de alta resolución y no destructivas.
Caracterizar polímeros y compuestos a nivel microestructural.
Evaluar los polvos aditivos en busca de inclusiones, poros y huecos.
Acelere el desarrollo de materiales y la optimización de procesos con resultados consistentes y repetibles.
Descubra nuestros servicios
Servicio y soporte
Si necesita piezas de repuesto, podemos suministrarle recambios originales para que pueda volver a trabajar. Cuando es necesario realizar reparaciones, nuestros servicios de campo para equipos de rayos X son los mejores del sector y cuentan con una amplia garantía que permite completar las tareas necesarias.
Piezas de repuesto
Waygate Technologies ofrece piezas de repuesto originales, lo que significa que las fabrica la misma empresa que produce nuestros sistemas de inspección de rayos X industriales en todo el mundo. De este modo, nos aseguramos de que nuestros clientes dispongan de las piezas adecuadas para obtener un rendimiento óptimo de los equipos.
Actualizaciones
Disponemos de las herramientas necesarias para actualizar su software y sistemas, para que pueda tener la tranquilidad de que funcionarán de forma eficiente y desarrollarán todo su potencial. Le ayudaremos con certificaciones, calibraciones, reparaciones o piezas de repuesto, y la mayoría de estas tareas podremos realizarlas directamente en su planta.
Servicios de inspección y asesoría
En nuestros Customer Solutions Centers (CSC) internacionales, le ofrecemos el uso bajo demanda de nuestros probados servicios de inspección por escaneado de TC industrial y pruebas radiográficas industriales para plásticos, materiales compuestos, moldeados, piezas de fabricación aditiva, cerámica, electrónica, baterías y mucho más.
Especificaciones del producto
Detalle
Datos
Tipo de tubo de rayos X
Tubo de rayos X nanofocus de resolución extrema capaz de funcionar las 24 horas del día, los 7 días de la semana, con una estabilidad excelente.
Voltaje/potencia máximos
160 kV / 17 W
Aumento geométrico (3D)
1,4 x - 300 x
Detectabilidad de detalles
Hasta 50 nm (0,05 micras)
Resolución 3D*
<<1 µm (resolución completa y clara)
Resolución espacial
<400 nm (JIMA)
Diámetro máximo de la muestra
< 1 mm a 240 mm
Diámetro máximo de la muestra
< 1 mm a 240 mm
Altura/peso máximo de la muestra
250 mm / 3 kg (6,6 libras)
Dimensiones del sistema
1980 mm x 1600 mm x 925 mm (78” x 63” x 36,4”)
Peso del sistema
Aproximadamente 1900 kg / 4190 libras.
Cada detalle, hasta 50 nm.
El Nanotom HR establece un nuevo punto de referencia para la TC de alta resolución, ya que ofrece imágenes submicrométricas reales con una resolución espacial de hasta 400 nm (JIMA). No se trata solo de vóxeles más pequeños, sino de todo un sistema diseñado para ofrecer estabilidad y repetibilidad.
La fuente de rayos X nanofocus minimiza la deriva, mientras que el manipulador con base de granito garantiza un posicionamiento sin vibraciones incluso en los escaneos más largos.
Para los investigadores, esto significa resolver microestructuras, porosidades y detalles finos que la TC convencional no puede alcanzar. Para los fabricantes, significa la confianza para validar componentes complejos con claridad.
Este es nuestro escáner CT de grado investigador más avanzado hasta la fecha: una precisión que no solo mide los detalles, sino que los revela.
Haz más con un solo escaneo.
Los métodos convencionales suelen obligar a elegir entre dos opciones: capturar un campo de visión más amplio o conservar los detalles. El Nanotom HR reduce esa disyuntiva. Gracias a su detector de gran superficie y a la geometría optimizada del sistema, es posible escanear un área de interés más amplia de las muestras, manteniendo al mismo tiempo la claridad submicrométrica que caracteriza a este sistema.
Para muchas aplicaciones, desde el embalaje de productos electrónicos avanzados hasta muestras de investigación, esto significa poder ver más de la estructura en un solo escaneo, sin necesidad de una preparación destructiva.
La ventana más grande que hemos creado nunca para ver detalles submicrométricos: más muestra, mismo nivel de detalle.
Solo un mantenimiento al año.
Una capacidad de vanguardia no tiene por qué implicar un alto coste a lo largo de su vida útil. Diseñado para ofrecer fiabilidad, el Nanotom HR está pensado para que usted pueda seguir escaneando, sin tener que preocuparse por el mantenimiento. Su diseño de tubo abierto reduce los requisitos de mantenimiento y el tiempo de inactividad, incluso en condiciones de uso intensivo, lo que permite reducir los costes a largo plazo donde más importa.
Con un solo ciclo de mantenimiento al año, minimiza las interrupciones y maximiza el tiempo de actividad. Eso se traduce en menos llamadas al servicio técnico, menores costes operativos y un rápido retorno de la inversión.
El resultado: un sistema que ofrece un rendimiento de primera clase sin costes ocultos, lo que hace que la TC de alta gama sea más sostenible para los laboratorios y entornos de investigación actuales.
Escanea hasta 5 veces más rápido.
Con el Nanotom HR, la velocidad ya no se consigue a expensas del detalle. Aprovechando la avanzada tecnología de TC submicrométrica, ofrece exploraciones con una resolución de vóxel < 1 µm en cuestión de minutos: los resultados que antes tardaban horas en obtenerse ahora están al alcance de la mano.
Al combinar precisión con un rendimiento inigualable, el sistema permite a los laboratorios y centros de I+D acelerar su trabajo. Un escaneo más rápido significa descubrimientos más rápidos, ciclos de I+D más cortos y flujos de trabajo más productivos, todo ello sin comprometer la calidad que exige la investigación.
El resultado: innovación sin demora — lo que le permite tomar decisiones con confianza más rápidamente y mantenerse a la vanguardia en campos competitivos donde cada segundo cuenta.
Contraste más nítido, resultados más limpios.
Gracias a su tubo de rayos X nanofocus que ofrece un rendimiento de punto focal de 300 nm y a su manipulador con base de granito para una estabilidad máxima, produce escaneos que no pierden calidad — ni siquiera durante las sesiones más largas y con mayor aumento.
Esto significa menos repeticiones, resultados más claros a la primera y mayor confianza en cada exploración.
El resultado: datos más precisos, estables y científicamente fiables para acelerar los descubrimientos y garantizar la máxima calidad.
Funcionamiento sin esfuerzo desde el primer día.
La alta resolución ya no implica una gran complejidad. El Nanotom HR se diseñó para que la facilidad de uso estuviera integrada desde el principio.
La alineación automática del punto focal elimina la necesidad de realizar tediosas calibraciones. Una puerta frontal deslizante, controles CNC y una cámara interior integrada facilitan y garantizan la colocación segura de las muestras. Los rieles con soporte de granito garantizan la estabilidad.
Por otra parte, el software intuitivo guía a los usuarios a través de la configuración y el escaneo, lo que reduce las necesidades de formación y acorta el tiempo de puesta en marcha.
El resultado: los operadores dedican menos tiempo a la configuración y más tiempo a obtener respuestas. Cada análisis se inicia más rápido, es más fiable y más fácil de repetir — lo que le proporciona confianza en la consola y resultados en los que puede confiar.
Recursos
