La inspección electrónica empieza aquí

La tecnología de rayos X de alta resolución se usa extensamente en el análisis de fallos y las pruebas de calidad de la producción de los dispositivos electrónicos para realizar inspecciones más precisas. En los casos en los que la AXI 2D estándar no permite obtener resultados fiables porque hay elementos superpuestos, las tecnologías de rayos X con nanoenfoque y microenfoque de Waygate Technologies proporcionan vistas claras de cortes de paquetes o PCBS. Cualquier defecto del material o característica de calidad que afecte a la forma de las uniones de soldadura se puede detectar, por ejemplo, falta de soldaduras en ángulo, vacíos y ampollas, puentes de soldadura o defectos por falta de agente de soldadura.

Para la evaluación 3D de los detalles más pequeños con la máxima resolución, los escáneres de TC avanzados y las tecnologías de rayos X con nanoenfoque y microenfoque de Waygate Technologies permiten introducir en las líneas de producción de alta velocidad las inspecciones extremadamente precisas que suelen estar reservadas para laboratorios de investigación y calidad. Nuestros sistemas, combinados con algoritmos de reconocimiento automatizado de defectos basados en la IA (para aplicaciones como el análisis de salientes de ánodos en baterías), se pueden integrar por completo en su línea de producción electrónica para garantizar un nivel óptimo de calidad y eficiencia.

Además de ofrecer las mejores soluciones de ensayos para componentes electrónicos, Waygate Technologies le proporciona el asesoramiento experto y las certificaciones que necesita para completar sus tareas de inspección electrónica e interpretar los resultados. Contacte con un experto de Waygate Technologies para obtener más información sobre nuestras ofertas de formación.