POINTS FORTS
La résolution. Redéfinie.
Le Phoenix Nanotom HR redéfinit la tomographie submicronique en alliant une résolution de qualité recherche à une facilité d'utilisation au quotidien. Offrant une détectabilité des détails de 50 nm, un contraste saisissant et une vitesse inégalée, il comble le fossé entre la découverte et la productivité. Grâce à sa conception à tube ouvert, à sa technologie de détection à grande surface et à son flux de travail fluide, le Nanotom HR vous permet de résoudre les détails les plus fins, d'accélérer vos recherches et de prendre des décisions en toute confiance plus rapidement.
<0,4 µm
Résolution spatiale JIMA
300 nm
Stabilité du point focal
40-160 kV
Polyvalence de la gamme énergétique
100 µm
Détecteur à grande surface
ULTRA-HAUTE RÉSOLUTION
Voir le plus petit.
Obtenez la meilleure qualité possible.
Découvrez une imagerie submicronique qui établit une nouvelle référence en matière de tomodensitométrie de recherche. Avec une taille de voxel inférieure à 400 nm (norme JIMA) et une détectabilité des détails jusqu'à 50 nm, le Nanotom HR révèle les moindres détails avec une grande clarté.
- Résolution voxel submicronique → résolution des microstructures et des détails fins invisibles à la tomodensitométrie conventionnelle.
- Performances du point focal de 300 nm → contraste plus net et résultats plus précis, même lors de scans longs à fort grossissement.
- Manipulateur à base de granit → stabilité sans vibrations pour des données scientifiquement fiables et reproductibles.
- Confiance dans la clarté → moins de répétitions, plus de cohérence et une confiance accrue à chaque scan.
Pour les chercheurs, cela signifie pouvoir analyser en toute confiance les microstructures, les porosités et les caractéristiques fines qui échappent à la tomodensitométrie classique. Pour les fabricants, cela signifie des données plus précises et plus stables qui accélèrent la découverte, rapides la validation et garantissent la qualité au plus haut niveau.
Champ de vision élargi sans perte de résolution - glisser pour comparer.
CHAMP DE VISION
Plus d'échantillons, même clarté.
Le Phoenix Nanotom HR combine un détecteur grande surface avec une géométrie optimisée pour la précision afin d'étendre le champ de vision visible tout en conservant des capacités submicroniques.
- Permet l'analyse comparative de plusieurs caractéristiques dans un seul ensemble de données.
- Réduit le besoin de sectionnement destructif ou de scans répétés.
- Améliore la cohérence des données en maintenant une résolution uniforme sur des zones plus étendues.
En élargissant la zone couverte par un seul scan, le Nanotom HR permet aux utilisateurs de capturer des zones d'intérêt plus vastes sans sacrifier la résolution, offrant ainsi une image plus complète des structures complexes.
FONCTIONNEMENT SANS EFFORT
Une facilité d'utilisation qui vous convient
Conçu pour éliminer la complexité, afin que vous puissiez vous concentrer sur les résultats, et non sur la configuration.
- Interface logicielle intuitive pour une utilisation simplifiée
- Alignement automatique du point focal
- Porte à ouverture frontale et commandes CNC
Avec le Nanotom HR, la facilité d'utilisation va au-delà de l'interface. La formation est plus rapide, les flux de travail sont intuitifs et les équipes peuvent se mettre rapidement au travail, même dans l'environnement de travail dynamique d'aujourd'hui.
RÉSOLUTION À GRANDE VITESSE
Conservez les détails, réduisez le temps.
Découvrez une résolution ultra-élevée à des vitesses inégalées par rapport à la technologie d'agrandissement optique.
120 min → 40 min à 0,5 µm voxel
60 min → 10 min à 1,0 µm voxel
En alliant vitesse et précision, vous obtenez des résultats plus rapides, des cycles de R&D plus courts et des contrôles qualité de production accélérés. Des scans plus rapides signifient des informations plus rapides et plus de temps pour l'innovation.
Exemples d'application
CT et SEM (batterie)
Image : Faites glisser pour comparer la reconstruction CT avec l'imagerie SEM de l'anode d'une batterie Li-ion.
- La tomodensitométrie révèle l'architecture volumétrique tandis que le MEB capture les détails nanométriques de la surface, offrant ainsi une vue complète à plusieurs échelles.
- Associé au Nanotom HR, il révèle la distribution des particules, la porosité et les voies de dégradation essentielles au stockage d'énergie de nouvelle génération.
- Ensemble, la tomographie assistée par ordinateur et la microscopie électronique à balayage constituent des outils complémentaires puissants pour la recherche avancée, l'enseignement et la découverte scientifique.
Emballage avancé (semi-conducteurs)
Image : Le balayage transversal de la pile HBM met en évidence les TSV et les connexions par bosses.
- Inspectez les vias traversants en silicium (TSV), les micro-bossages et les couches de redistribution.
- Détectez les vides, les désalignements et les défaillances d'interconnexion qui compromettent les performances thermiques et électriques.
- Idéal pour les boîtiers IC 2,5D / 3D avancés.
Mousse plastique (science des matériaux)
Image : Coupe CT fractionnée de mousse polymère mettant en évidence la géométrie des pores (à gauche) et la mesure de l'épaisseur des entretoises (à droite).
- Analyser la distribution de la taille des pores et l'épaisseur des entretoises pour évaluer la stabilité mécanique.
- Détectez les variations de densité et les incohérences microstructurales qui ont un impact sur les performances.
- Soutenir le développement de mousses légères pour l'isolation, l'emballage et les applications structurelles.
Graine de pavot (sciences de la vie)
Image : Coupe CT d'une graine de pavot révélant sa microstructure cellulaire.
- Inspectez la morphologie des graines et la répartition de la croissance en haute résolution.
- Mesurer l'épaisseur individuelle des cellules pour étudier le développement biologique.
- Permettre la recherche non destructive en biologie végétale, en sciences alimentaires et en agriculture.
Condensateurs et MLCC (électronique)
Image : Coupe CT d'un condensateur MLCC révélant les couches d'électrodes empilées.
- Analyser l'espacement des électrodes et l'intégrité diélectrique dans les condensateurs céramiques multicouches (MLCC).
- Détectez les fissures, les délaminations et les vides qui entraînent des défaillances prématurées.
- Indispensable pour les cartes à haute densité dans les secteurs de l'automobile, des télécommunications et de l'électronique grand public.
Grès (Géosciences)
Image : Scanner CT d'un échantillon de grès montrant le réseau de pores et les phases minérales.
- Caractériser la porosité et les structures poreuses interconnectées pour évaluer la qualité des roches.
- Évaluer la perméabilité et les voies de circulation des fluides essentielles à la recherche en géosciences et en énergie.
- Analyser l'hétérogénéité minérale et les microfissures ayant un impact sur la stabilité à long terme.
Cartes et assemblages (électronique)
Image : De la vue d'ensemble au scan ROI qui révèle les interconnexions en haute résolution.
- Évaluer la qualité des soudures, le placement des fils de liaison et l'intégrité des connecteurs.
- Vérifiez les vides ou fractures cachés qui causent des défaillances latentes sur le terrain.
- Inspectez l'ensemble des interconnexions en un seul balayage sans sacrifier la résolution grâce à un grand champ de vision.
DONNER PLUS DE POUVOIR AUX UNIVERSITÉS
Alimenter la recherche,
faire progresser la découverte
Le Nanotom HR fournit des services de tomodensitométrie de qualité scientifique aux universités, laboratoires et centres de recherche et développement, dans des domaines allant des polymères et composites aux biosciences et fossiles.
- Science des matériaux
- Vie et sciences biologiques
- Géosciences
- Fabrication additive
CONNEXIONS CRITIQUES
Électronique et semi-conducteurs – du silicium au circuit.
L'électronique moderne exige une fiabilité absolue, des modules de mémoire empilés aux minuscules condensateurs et joints au niveau des cartes. Le Nanotom HR révèle les défauts cachés et la qualité des interconnexions à l'échelle qui compte, là où les performances et le rendement dépendent de l'intégrité structurelle.
Construit pour la découverte.
Conçu autour d'une source nanofocus de pointe et d'une architecture axée sur la stabilité
Le Nanotom HR permet de distinguer clairement des caractéristiques à l'échelle nanométrique sur des matériaux à faible et à forte constante diélectrique. Qu'il s'agisse de mener des recherches en science des matériaux et en géologie, d'évaluer l'intégrité des interconnexions dans les emballages avancés, de suivre la porosité dans les électrodes de batterie ou d'inspecter les fils de connexion et les connecteurs dans les composants à haute densité, suivant la porosité des électrodes de batterie ou inspectant les connexions filaires et les connecteurs dans les circuits imprimés haute densité et l'électronique de puissance, le Nanotom HR fournit des informations avec une résolution submicronique. Avec des images plus nettes, des scans plus rapides et des performances stables, il offre des solutions puissantes et pratiques pour la recherche de pointe et l'innovation industrielle.
LOGICIEL
Datos|x 3 - L'avenir de la tomodensitométrie, accéléré
Découvrez l'avenir de la tomographie industrielle avec Datos|x 3, le logiciel exclusif de Waygate Technologies, conçu pour une acquisition et une reconstruction fluides des données. S'appuyant sur plus de 20 ans d'innovation, Datos|x 3 offre une interface intuitive et une reconstruction jusqu'à 40 % plus rapide.
Découvrez des détails submicroniques dans les domaines universitaires, électroniques et des semi-conducteurs grâce à des modules avancés tels que Fast|scan et Sector|scan, qui facilitent l'analyse d'échantillons complexes.
Numérisation ultra-rapide avec Fast|scan
Capturez des images nettes et haute résolution en un clin d'œil, idéales pour les recherches urgentes et les analyses d'échantillons complexes.
Flux de travail flexible
Adaptez les paramètres de numérisation et de reconstruction à votre application précise, de la recherche universitaire à la R&D industrielle.
Interface moderne et conviviale
La conception intuitive minimise les courbes d'apprentissage et maximise la productivité à tous les niveaux de compétence.
Fort grossissement pour les échantillons de grande taille avec Sector|scan
Zoomez sur les microstructures des composants électroniques, des semi-conducteurs et des matériaux avancés avec clarté et précision.
Intégration transparente
Exportez et analysez les données dans des formats conformes aux normes de l'industrie, afin d'accélérer la collaboration et le partage des informations.
Des résultats constants et de haute qualité
Obtenez des images sans artefacts, même sur les échantillons les plus exigeants, pour des avancées scientifiques et des innovations produits fiables.
Une seule plate-forme. Des découvertes sans fin.
Découvrez toute la gamme d'applications, des structures biologiques aux assemblages industriels.
Rendement et fiabilité garantis dans les emballages de nouvelle génération.
Caractérisez les TSV, micro-bosses, billes de soudure et RDL jusqu'à l'échelle submicronique.
Détectez les vides, microfissures ou désalignements qui compromettent les performances et la fiabilité des appareils.
Vérifiez l'uniformité de la fixation des puces, la répartition de l'époxy et l'intégrité des liaisons avec une stabilité reproductible.
Détectez les défauts aussi bien sur les détails fins que sur les assemblages complets.
Détectez les vides dans les joints de soudure, les défauts d'adhérence et les problèmes de connexion des fils.
Vérifiez les connecteurs et les grilles de connexion à l'aide d'une imagerie nette.
Tirez parti du détecteur grande surface pour scanner des composants entiers comme de petites zones d'intérêt.
Révéler les relations entre la structure et les propriétés d'un large éventail de matériaux de recherche.
• Analysez les polymères, composites, revêtements et dispersions de nanoparticules.
• Caractérisez en détail la porosité, les fissures et les sites d'initiation de fracture.
• Comptez sur la stabilité mécanique pour des analyses approfondies.
• Utilisez la large plage de 40 à 160 kV pour étudier à la fois les matériaux légers et denses.
Des microfossiles aux structures rocheuses poreuses, capturez toute la complexité sans compromis.
Étudier les microfossiles, les inclusions minérales et la porosité des roches.
Cartographier les réseaux de fractures et quantifier la connectivité des pores.
Caractériser les matériaux multiphases, des argiles aux structures cristallines.
Capturez les phases à faible et à haute densité en un seul balayage.
Des cellules aux tissus mous, visualisez les structures avec un niveau de détail sans précédent, sans préparation destructive.
Examinez les tissus biologiques et les matières molles dans leur état naturel.
Analysez la morphologie, l'épaisseur et les schémas de croissance des cellules avec une grande précision.
Visualisez les structures végétales telles que les graines, les tiges et les feuilles en 3D.
Différencier les porosités fines et les inclusions denses dans les échantillons biologiques.
Des électrodes aux matériaux à l'état solide, analysez en toute confiance les microstructures et les interfaces critiques.
Visualisez la porosité des électrodes, la distribution du liant et les interfaces électrolytiques avec une précision submicronique.
Soutenir l'innovation dans le domaine des batteries à semi-conducteurs et de nouvelle génération en révélant les structures critiques des matériaux.
Raccourcissez les cycles d'itération grâce au mode Fast|Scan pour obtenir rapidement des retours sur la R&D.
Faites progresser l'innovation dans le domaine des matériaux et de la fabrication grâce à l'imagerie haute résolution non destructive.
Caractériser les polymères et composites au niveau microstructural.
Évaluer les poudres additives pour détecter les inclusions, les pores et les vides.
Accélérez le développement des matériaux et l'optimisation des processus grâce à des résultats cohérents et reproductibles.
Découvrez nos services
Services et assistance
Lorsque vous avez besoin de pièces, nous vous en fournissons des d'origine afin de vous permettre de reprendre votre activité. En cas de défaillance, nous fournissons des services de réparation des systèmes radiographiques sur le terrain et tenons compte de la garantie complète pour réaliser les réparations nécessaires.
Pièces détachées
Waygate Technologies propose des pièces détachées des fabricants d'équipements d'origine (OEM), ce qui signifie que ces pièces sont produites par la société qui produit nos systèmes de contrôle industriel par radiographie partout dans le monde. Ainsi, nos clients sont sûrs d'avoir les bonnes pièces pour des performances optimales de leurs machines.
Mises à jour et mises à niveau
Nous avons les outils nécessaires à la mise à jour de votre logiciel et de vos systèmes, afin de vous assurer qu'ils fonctionnent de manière efficace, à leur plein potentiel. Nous pouvons vous aider pour les certifications, les étalonnages, les réparations, les pièces de rechange, et généralement, cela peut se faire directement dans votre usine.
Services de contrôle et conseil
Rendez-vous dans nos centres de solutions client (CSC) pour tirer parti des services éprouvés de test par radiographie et tomographie industrielles, disponibles à la demande pour le contrôle des pièces en plastique, matériaux composites, pièces issues de la fabrication additive, composants céramiques, composants électroniques, batteries et plus encore.
Spécifications des produits
Détail
Données
Type de tube à rayons X
Tube à rayons X nanofocus à résolution extrême capable de fonctionner 24 heures sur 24, 7 jours sur 7, avec une excellente stabilité
Tension / puissance max.
160 kV / 17 W
Agrandissement géométrique (3D)
1,4 x - 300 x
Détectabilité des détails
Jusqu'à 50 nm (0,05 micron)
Résolution 3D*
<<1 µm (résolution totale et claire)
Résolution spatiale
<400 nm (JIMA)
Diamètre maximal de l'échantillon
< 1 mm à 240 mm
Diamètre maximal de l'échantillon
< 1 mm à 240 mm
Hauteur/poids max. de l'échantillon
250 mm / 3 kg (6,6 lb)
Dimensions du système
1 980 mm x 1 600 mm x 925 mm (78 po x 63 po x 36,4 po)
Poids du système
Environ 1 900 kg / 4 190 lb.
Chaque détail, jusqu'à 50 nm.
Le Nanotom HR établit une nouvelle référence en matière de tomodensitométrie haute résolution, offrant une imagerie submicronique réelle avec une résolution spatiale pouvant atteindre 400 nm (JIMA). Il ne s'agit pas seulement de voxels plus petits, mais d'un système complet conçu pour offrir stabilité et répétabilité.
La source de rayons X nanofocus minimise la dérive, tandis que le manipulateur à base de granit garantit un positionnement sans vibration, même lors des scans les plus longs.
Pour les chercheurs, cela signifie pouvoir résoudre les microstructures, les porosités et les détails fins que la tomodensitométrie conventionnelle ne peut pas atteindre. Pour les fabricants, cela signifie avoir la certitude de pouvoir valider des composants complexes avec clarté.
Il s'agit de notre scanner CT de recherche le plus performant à ce jour, dont la précision ne se contente pas de mesurer les détails, mais les révèle également.
Faites-en plus en un seul scan.
Les méthodes conventionnelles imposent souvent un compromis : capturer un champ de vision plus large ou conserver les détails. Le Nanotom HR réduit ce compromis. Grâce à son détecteur grande surface et à la géométrie optimisée du système, vous pouvez scanner une zone d'intérêt plus grande tout en conservant la clarté submicronique qui caractérise ce système.
Pour de nombreuses applications, allant des boîtiers électroniques avancés aux échantillons de recherche, cela signifie qu'il est possible de voir davantage de la structure en un seul balayage, sans avoir besoin d'une préparation destructive.
La plus grande fenêtre sur les détails submicroniques que nous ayons jamais créée : plus d'échantillons, même niveau de détail.
Une seule maintenance par an.
Une technologie de pointe ne signifie pas nécessairement un coût élevé sur toute la durée de vie. Conçu pour être fiable, le Nanotom HR est pensé pour vous permettre de continuer à scanner sans avoir à vous soucier de la maintenance. Sa conception à tube ouvert réduit les besoins en maintenance et les temps d'arrêt, même en cas d'utilisation intensive, ce qui permet de réduire les coûts à long terme là où cela compte le plus.
Avec un seul cycle de maintenance par an, vous minimisez les interruptions et maximisez le temps de fonctionnement. Cela signifie moins d'appels au service après-vente, des coûts d'exploitation réduits et un retour sur investissement plus rapide.
Le résultat : un système qui offre des performances de classe mondiale sans coûts cachés, rendant la tomodensitométrie haut de gamme plus durable pour les laboratoires et les environnements de recherche actuels.
Numérise jusqu'à 5 fois plus rapidement.
Avec le Nanotom HR, la rapidité ne se fait plus au détriment du détail. Grâce à une technologie CT submicronique avancée, il fournit des scans avec une résolution voxel < 1 µm en quelques minutes — des résultats qui prenaient auparavant des heures sont désormais à portée de main.
En combinant précision et débit inégalé, le système permet aux laboratoires et aux centres de R&D d'accélérer leur travail. Des analyses plus rapides signifient des découvertes plus rapides, des cycles de R&D plus courts et des flux de travail plus productifs, tout en conservant la qualité irréprochable exigée par la recherche.
Le résultat : une innovation sans délai — vous permettant de prendre des décisions en toute confiance plus rapidement et de garder une longueur d'avance dans des domaines concurrentiels où chaque seconde compte.
Contraste plus net, résultats plus propres.
Grâce à son tube à rayons X nanofocus offrant une performance de point focal de 300 nm et à son manipulateur à base de granit pour une stabilité maximale, il produit des scans sans compromis — même pendant les cycles les plus longs et à fort grossissement.
Cela signifie moins de répétitions, des résultats plus clairs dès la première fois et une plus grande confiance à chaque scan.
Le résultat : des données plus précises, plus stables et scientifiquement fiables pour accélérer la découverte et garantir une qualité optimale.
Utilisation facile dès le premier jour.
La haute résolution n'est plus synonyme de grande complexité. Le Nanotom HR a été conçu pour être facile à utiliser dès le départ.
L'alignement automatique du point focal élimine le besoin d'un étalonnage fastidieux. Une porte avant coulissante, des commandes CNC et une caméra intérieure intégrée facilitent et sécurisent le placement des échantillons. Des rails soutenus par du granit garantissent la stabilité.
Par ailleurs, un logiciel intuitif guide les utilisateurs tout au long de la configuration et de la numérisation, réduisant ainsi les besoins en formation et raccourcissant le temps de mise en route.
Résultat : les opérateurs passent moins de temps à configurer et plus de temps à obtenir des réponses. Chaque analyse démarre plus rapidement, est plus fiable et plus facile à répéter — vous offrant ainsi une console en laquelle vous pouvez avoir confiance et des résultats sur lesquels vous pouvez vous appuyer.