一振動子垂直探触子
Image
ultrasonic contact transducer

 

超音波直接接触探触子

手探傷で使用される一振動子垂直探触子は、比較的滑らかな接触面を持つ試験体を検査するのに適しています。 平面や曲率面の探傷が可能で、探傷面に対して垂直方向に超音波を入射させ、表面に平行なきずや底面エコーを受信します。 ディレイライン付垂直探触子を使用すると、表面直下の分解能が高くなります。使用するにはマシン油、グリセリンペーストなどの接触媒質が必要です。ディレイライン付き、耐摩耗面、保護膜付き探触子などがあります。

用途

手探傷ときず検出に最適な探触子を提供しています。

適用例

  • 表面近傍のきず検出
  • 薄い試験体の探傷
  • 厚い試験体や減衰材料の検査
  • 複合材料、プラスチック材料
  • タービンブレード
  • 汎用、単純形状の金属部品
  • 板材、大型鍛造品、棒材、ビレット、鋳造品の検査
  • パイプ、管材、小型鋳造品
  • ラミネーション、層間剥離の検出
  • 接着部材
  • 機械部品
  • 容器


超音波探触子、探傷器のカタログを見る


製品モデルの詳細
保護膜付き垂直探触子

欧州モデル: プローブは、DGS によるきずサイジングに適しており、保護膜付きで、凹凸面や曲面でのカップリング性能がよく、トランスデューサーの寿命を向上します。

標準の横付きコネクタまたはオプションの上付きコネクタがあり、Lemo 1 (B..S) または Lemo 00 (MB..S )コネクタで使用します。 高温用ディレイライン

北米モデル: 探触子は、 凹凸や曲面でのカップリングを改善する膜付き保護膜の3種類で使用できます。 ウェアキャップを定期的に交換することで、探触子の寿命を向上することが可能です。

最大 200°C (400°F) の表面でのテストを可能にする十分な遅延線とともに、サイドマウントまたはトップマウントの BNC コネクタと一緒に使用します。

protective face, straight beam transducers, ultrasonic probes, ultrasonic testing
耐摩耗性垂直探触子

保護膜付きモデルに比べ高感度となります。 耐摩耗性に優れており、持ちやすいグリップ形状を備えています。また、フィンガーチップタイプは狭い場所の検査に対応可能です。

欧州モデル: コネクタは、Lemo 00 横付とマイクロドット横付 (K..KおよびG..K) があります。

北米モデル: コネクタは、BNC横付または上付。F型はマイクロドット横付

wear resistant, ultrasonic probes, straight beam transducers, ultrasonic testing
ディレイライン付き垂直探触子

ディレイライン付き垂直探触子は、高周波により分解能と微小なきずの検出率が向上でき、近距離分解能が良好です。 ディレイラインは交換可能で、コネクタは、マイクロドットコネクタ(横付)となります。

delay line transducer, ultrasonic transducers, ultrasonic testing
Image Card Ultrasound Request A Demo
ご自分の目でお確かめください

デモをリクエストする

当社にお問い合わせの上、オンサイトまたは仮想デモをご予約ください。お客様独自の用途ニーズや、当社がどのようにお客様に安心を提供できるかについてお話させていただきます。




お気軽にお問い合わせください。

リクエストが送信されました。
関心をお寄せいただき、ありがとうございます。 担当者が折り返しご連絡を差し上げます。