용접 검사 프로브
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위상 배열 프로브

일반 제품에서 소형 프로브, 내장형 용접 프로브에 이르기까지, Waygate Technologies의 위상 배열 용접 검사 프로브는 견고하면서도 인체 공학적으로 설계되었습니다. 소형 프로브가 표준 싱글 엘리먼트 MSWS 웨지에 적합한 반면(위상 배열 기능이 있는 표준 싱글 엘리먼트 MSWS 프로브와 유사) 내장형 웨지 프로브는 기존 프로브와 유사한 설계로 종래의 검사 방식에서 기존 기기를 사용한 위상 배열 검사로 쉽게 전환할 수 있습니다.



모델별 제품 특징
일반 용접 검사 프로브

웨지, 지연선 또는 마모 캡(wear cap)이 장착된 일반 용접 검사 프로브를 섹터 스캔 또는 선형 스캔 용도로 사용할 수 있습니다. 다양한 선택이 가능하도록 세 가지 다른 커넥터 유형을 제공합니다.

phased array probe, phased array transducer, general use probes
소형 용접 프로브

이 프로브는 접촉면이 적어 위상 배열 기능이 있는 표준 싱글 엘리먼트 MSWS 프로브와 마찬가지로 표준 싱글 엘리먼트 MSWS 웨지에 적합합니다. 커넥터는 세 가지 다른 유형이 제공됩니다.

Phased Array Small Footprint Weld probes and transducers
내장형 웨지 프로브

Waygate Technologies의 내장형 웨지 프로브는 종래의 프로브처럼 다이 캐스트 하우징이 내구성과 인체 공학을 고려해서 설계된 제품입니다. 종래의 검사 방식에서 위상 배열 검사 방식으로 쉽게 전환할 수 있어 기존 기기와 프로브 홀더를 재사용할 수 있습니다. 비분리형 웨지를 사용하여 프로브와 웨지 간에 결합 손실이 발생하지 않습니다. 또한 교체식 밑판(별도 판매)으로 제품을 오래 사용할 수 있습니다.

Phased Array Integral Wedge Weld



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