El Phoenix V|tome|x L 300 es un versátil sistema de microenfoque de alta resolución para la inspección de rayos X no destructuva 2D y la tomografía computarizada 3D (microCT). Está equipado con una fuente de microenfoque monopolar de 300 kV/500 W y con una función de nanoCT opcional en la combinación dual|tube con un tubo de rayos X de nanoenfoque de alta energía de 180 kV/20 W.
El sistema permite inspeccionar muestras grandes de hasta 50 kg y con un diámetro de hasta 500 mm con una precisión extremadamente alta. El sistema es una excelente solución de gran flexibilidad para la detección de defectos y vacío y la metrología 3D (p. ej., inspección de primer artículo) de compuestos, moldeados y piezas de precisión, como las boquillas de injección o las cuchillas de turbinas.
Nuestra empresa, antes conocida como GE Inspection Technologies, ha pasado a llamarse Waygate Technologies y es uno de los líderes globales en el ámbito de las soluciones de ensayos no destructivos (END), con más de 125 años de experiencia dedicados a garantizar la calidad, la seguridad y la productividad.
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