Rayos X y TC avanzados Phoenix|x-ray para aplicaciones industriales

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Un nivel superior de precisión, rendimiento y productividad

Nuestras soluciones galardonadas Phoenix|x-ray combinan los sistemas avanzados de TC y radiografía industriales para una amplia gama de aplicaciones de inspección y metrología, desde la metrología 3D y la TC científica e industrial a inspecciones de componentes electrónicos con una resolución extremadamente alta. Los conocimientos e innovaciones más avanzados se han integrado en todos los elementos de nuestros equipos, nuestro software y nuestros servicios patentados para que pueda encontrar todos los defectos con un nivel inédito de velocidad y precisión.

Un nivel superior de velocidad y precisión para las inspecciones en laboratorio y atline

No tendrá que sacrificar la precisión de los resultados para obtener una velocidad mayor con nuestros potentes sistemas exclusivos de TC de rayos X, diseñados para un amplio espectro de tareas de inspección 2D y 3D en laboratorio y atline, entre las que se incluyen la metrología 3D y el análisis. Inspeccione muestras pequeñas o grandes de muchos materiales, objetos y componentes diferentes con la máxima precisión.

Mejore la automatización de su línea de producción

Aumente la productividad sin sacrificar la calidad de imagen con nuestras soluciones de inspección 3D inline y atline. Nuestro escáner Phoenix Speed|scan CT64 permite realizar escaneados in-line totalmente automatizados, lo que se traduce en inspecciones cuatro veces más rápidas que las de los modelos anteriores y 100 veces más rápidas que la TC industrial convencional de haz en abanico para grandes piezas de fundición de metales ligeros. 

Un acceso más sencillo a los conocimientos y a la tecnología más avanzada

Acceda a nuestros conocimientos y tecnologías más avanzados a través de nuestros servicios de inspección, que incluyen inspecciones bajo demanda en nuestros Customer Solutions Centers (CSC), alquileres, formación, personalización y consultoría. Los servicios de escaneado de inspección que utilizan nuestras soluciones de TC Phoenix|x-ray más avanzadas están disponibles por horas, por escaneado o por proyecto, y se pueden combinar con nuestros servicios remotos ininterrumpidos de soporte técnico y diagnóstico de problemas, así como con otras muchas opciones.



Discover Our Products



phoenix micromex and nanomex neo

Phoenix Microme|x Neo y Nanome|x Neo

Tecnología de inspección de componentes electrónicos mediante rayos X 2D de alta precisión con opción de tomografía computarizada (TC) 3D en un mismo sistema, una solución perfecta para los ensayos no destructivos (END) eficientes de componentes electrónicos como los semiconductores, los circuitos impresos, las baterías de iones de litio, etc.



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Phoenix V|tome|x S240

Un sistema de alta resolución con una gran versatilidad para la inspección con rayos X 2D y la tomografía computarizada 3D que ofrece un nivel excepcional de flexibilidad y eficiencia en un escáner de microCT y nanoCT con escaneados microCT dos veces más rápidos y con el doble de resolución.



Phoenix V|tome|x M300

Phoenix V|tome|x M300

El primer escáner de microTC del mundo para el análisis y la metrología 3D con la tecnología scatter|correct, que elimina automáticamente los artefactos de dispersión para proporcionar una calidad de imagen superior. Loa resultados de microCT y nanoCT 3D de alta calidad y una extraordinaria precisión metrológica con una energía de penetración de 300 kV mejoran la seguridad y el rendimiento.



Phoenix V|tome|x C CT scanner

Phoenix V|tome|x C450

Un escáner de TC de 450 kV preciso, eficaz y compacto, con la edición opcional de metrología, especialmente diseñado para piezas absorbentes y piezas de gran tamaño.
Su diseño de bajo mantenimiento orientado a la producción ofrece velocidad y flexibilidad y permite realizar tareas de metrología 3D y ensayos no destructivos semiautomatizados.





Phoenix Nanotom® M

Phoenix Nanotom® M

El Phoenix Nanotom® M es un sistema de TC de rayos X con nanoenfoque para la tomografía computarizada (microCT y nanoCT®) y la metrología 3D en el ámbito científico e industrial. El sistema obtiene una excepcional resolución espacial y de contraste en una amplia gama de muestras y aplicaciones. La ejecución totalmente automatizada de procesos de escaneado, reconstrucción y análisis de CT facilita el uso y garantiza que los resultados de CT son rápidos y fiables. Se pueden obtener mediciones 3D reproducibles de objetos complejos y generar informes de la inspección del primer artículo en una hora.



Phoenix V|tome|x L 300

Phoenix V|tome|x L 300

El Phoenix V|tome|x L 300 es un sistema versátil de microenfoque de alta resolución para cabina de rayos X con opción de nanoCT® para tomografía computarizada 3D (análisis de fallos de estructuras y metrología) e inspección no destructiva por rayos X en 2D.



Phoenix V|tome|x L450

Phoenix V|tome|x L450

Escaneado avanzado con minienfoque en los límites de la densidad y el tamaño de la muestra

Como siguiente etapa de expansión técnica del sistema Phoenix V|tome|x L300, el Phoenix V|tome|x L450 proporciona aún más flexibilidad, tamaño de muestra y, con su minienfoque de 450 kV/1500 W y su tubo de rayos X de microenfoque de 300 kV opcional, más capacidad de penetración lo convierten en una solución excelente para la detección de huecos y defectos y la metrología 3D de piezas de moldeado, grandes ensamblajes y piezas de fabricación aditiva.



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Soluciones de TC Phoenix|x-ray para END y metrología