El Phoenix V|tome|x L450 es un versátil sistema de minienfoque para la inspección con rayos X no destructiva 2D y la tomografía computarizada 2D y 3D. Gracias a su manipulación basada en granito, puede manejar muestras aún más grandes con una precisión elevada. El sistema es una excelente solución para la detección de defectos y vacío y la metrología 3D (p. ej., inspección de primer artículo) de moldeados. Un segundo tubo de rayos X opcional con microenfoque de 300 kV con high-flux|target opcional permite adaptar el Phoenix V|tome|x L450 a una enorme gama de aplicaciones de CT industriales y científicas.
- Tubo de rayos X con minienfoque bipolar de 450 kV/1500 W especialmente optimizado para aplicaciones de TC con un diseño de metal y cerámica para obtener escaneados de CT nítidos de muestras grandes y muy absorbentes
- Vida útil del filamento hasta 10 veces superior para garantizar la estabilidad a largo plazo y optimizar la eficiencia del sistema con Long-life|filament (opcional)
- Rápida adquisición de CT e imágenes nítidas gracias a la alta sensibilidad del detector Dynamic 41|200 de última generación. (Dynamic 41|100 opcional con espesor de píxel de 100 µm para la detección de defectos dos veces más pequeños y la inspección de objetos más grandes a una resolución más alta).
- High-flux|target opcional para escaneados de CT con el doble de velocidad o resolución.
- Paquete de medición para realizar mediciones dimensionales con un nivel muy alto de precisión, reproducibilidad y sencillez de uso
- Función opcional Offset|scan y Helix|scan para maximizar la flexibilidad de escaneado
- Excelentes módulos de software para optimizar la calidad y la facilidad de uso de la CT
- Metrología 3D con un alto grado de reproducibilidad gracias a click & measure|CT con datos|x: ejecución totalmente automatizada del proceso de escaneado, reconstrucción y análisis de CT
- Detección de fallos y metrología 3D reproducible de piezas de acero y moldeados de aluminio grandes
- Resultados de reconstrucción de TC 3D acelerados en cuestión de segundos o minutos (dependiendo del volumen) con velo|CT
- Tecnología scatter|correct avanzada para realizar escaneados de CT cien veces más rápidos sin reducir la calidad de imagen, incluso para materiales con un alto grado de dispersión o muestras compuestas.

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