工业计量:3D 扫描解决方案
 
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3D Scanning Solutions
无与伦比的 3D 精度,让您对产品充满信心

要想了解您生产的零件和资产的安全性和可靠性,就需要在整个制造过程中进行高度精确的测量。 Waygate Technologies 先进的高精度工业计算机断层扫描测量系统甚至能测量隐藏的内表面,其精度仅为几微米,只需一次扫描就能捕捉到高精度的几何图形。

测量无法触及之处

Waygate Technologies 的 CT 扫描仪能够以高分辨率测量最先进的坐标测量机 (CMM) 都无法测量的内部几何偏差。 我们的解决方案囊括各式扫描仪:从小型部件扫描仪到工业生产线扫描仪和龙门式机器人扫描仪,以提供您所需要的任何检测指标。

降低运行成本

我们的解决方案为您提供正确的工具,无需召集技术人员就可随时完成真正的自动化校准和系统验证测试。 使用我们的专利 Ruby|plate 标准件和 True|position 技术,以 3 倍的速度和更简单的系统校准提高效率。我们的解决方案还可简化升级,Phoenix V|tome|x M microCT 扫描仪现在即可选配计量 2.0 升级包。 Phoenix V|tome|x C450 和 V|tome|x L300/L450 系统还提供符合 VDI/VDE 标准 2630-1.3 的计量升级,适用于需要更大扫描量或使用小聚焦或将小聚焦与微聚焦相结合的应用。

实现更高的生产率和更高的检测质量

Waygate Technologies 的 Scatter|correct 等专有技术可以对散射材料进行扫描,其精度与扇束 CT 一样无伪影,但其速度却是锥束 CT 的数倍。此外,使用我们的专利 Ruby|plate 标准件,系统校准速度可以提升 3倍,也更加简便,从而减少停机时间。



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探索 Phoenix V|tome|x M300

利用我们强大的工业 CT 系统提高安全性和可靠性

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升级您的 Phoenix V|tome|x M CT

用最新的计量 2.0 升级包改造您的系统



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观看点播网络研讨会

了解如何提高 CT 精度

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认识 Phoenix V|tome|x M

以更高的速度和精度进行 CT 扫描计量

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发现新的 Scatter|correct

查看我们独特的自动散射伪影校正工具,以最高的吞吐量进行高质量扫描。



了解我们的产品

True|position and Ruby|plate

True|position 和 Ruby|plate

为补偿计量 2.0 软件包中包含的残余系统机械不确定性,True|position 将具有 VDI 2630 规定精度的两个测量位置扩展到所有位置,以改善 3D 计量工作流程和精度。 这可以通过 Waygate Technologies 的专利产品 Ruby-plate 校准标准件进行验证,使系统精度验证的速度提高 3 倍,无需任何用户干预。



Phoenix V|tome|x M300

Phoenix V|tome|x M300

世界上第一台为 3D 计量和故障分析而设计的高度灵活的微j焦点 CT 扫描仪,采用 Scatter|correct 技术,可自动去除散射伪影,提高图像质量。在其 Metrology|edition 配置中,该系统允许最高且可重复的 VDI 2630-1.3 计量标准,可满足精度为 SD ≤ (3.8 ± L/100 mm) µm 的测量。



Phoenix V|tome|x C450

Phoenix V|tome|x C450

一台功能强大、结构紧凑的 450 千伏精密 CT 扫描仪,专为大样本 3D 计算机断层扫描设计。 其面向生产、易维护的设计提升了速度和灵活性,可实现安全生产检测和计量,符合 VDI/VDE 2630-1.3 标准,精度为 SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm。



Phoenix Nanotom M

Phoenix Nanotom M

我们的 nanoCT® 系统用于科学和工业计算机断层扫描(microCT 和nanoCT)检测和 3D 计量,实现了全自动化的 CT 扫描、重构和分析,可在诸如材料研究、电子或医疗设备检测领域快速简便地获得可靠的 CT 结果。



Phoenix V|tome|x L 300

Phoenix V|tome|x L 300

用于三维计算机断层扫描(microCT+ 可选的 nanoCT)和二维无损 X 射线检测的多功能大型柜式微聚焦系统,能够处理重达 50 千克、直径达 950 毫米的大型样品,其 SD ≤ (6.8 ± L/100 mm) µm 的极高精度规格符合 VDI/VDE 2630-1.3 标准。



Phoenix V|tome|x L450

Phoenix V|tome|x L450

Phoenix V|tome|x L450 是一种多功能大型微型聚焦系统(可选微型聚焦 + 微聚焦),用于三维计算机断层扫描和二维无损 X 射线检测。该系统以花岗岩为基础,可处理重达 100 公斤、直径达 1,300 毫米的大型样品,精度规格极高,达到 SD ≤ (6.8 ± L/100 mm) µm,符合 VDI/VDE 2630-1.3 标准。



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