Phoenix|x-ray 的先进工业 X 射线和 CT

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更高的精度、性能和生产力

我们屡获殊荣的 Phoenix|x-ray 解决方案结合了先进的工业射线照相和 CT 系统,适用于从科学和工业 CT 和 3D 计量到极高分辨率的电子检测等极其广泛的检测和计量应用。 我们专有的硬件、软件和服务的每一个元素都融入了行业领先的创新和专业技术——确保您能够比以往任何时候都更快、更准确地发现每一个缺陷。

提高实验室和在线检测的速度和准确性

使用我们功能强大、设计独特的 X 射线 CT 系统,您无需为提高速度而牺牲结果的准确性,该系统可用于广泛的 2D 和 3D 实验室和在线检测任务,包括 3D 计量和分析。 以最高的精度检测许多不同材料、物体和部件的小样品到大样品。

提高生产线的自动化程度

利用在线 3D 检测解决方案,能在不影响图像质量的情况下提高生产率。 我们的 Phoenix Speed|scan CT64 扫描仪实现了全自动在线扫描,与早期型号相比,检测速度提高了 4 倍,而与传统工业扇形束 CT 相比,对于大型轻金属铸件的检测速度要快 100 倍以上。

让您更容易获得专业知识和最新的技术

通过我们的检测服务获取我们最新的技术和专业知识——无论是客户解决方案中心 (CSC) 的按需检测,还是租赁、培训、定制和咨询服务。 利用我们最新的 Phoenix|x-ray CT 解决方案的检测扫描服务可按小时、扫描或项目提供,此外,我们还提供全天候技术支持、问题诊断支持等远程服务。



了解我们的产品



Phoenix X|aminer System

Phoenix X|aminer System

Phoenix X|aminer是Vigatech的入门级微焦X射线检测(AXI)系统,使用方便,性能优越,专为满足电子组件、元器件和PCBA的高分辨率检测需求而设计。



phoenix micromex and nanomex neo

Phoenix Microme|x Neo 和 Nanome|x Neo

高精度 2D X 射线电子检测技术与 3D 计算机断层扫描 (CT) 选项合二为一,非常适合于半导体、PCBA、锂离子电池等电子元件的高效无损检测 (NDT)。



Phoenix Nanotom® M

Phoenix Nanotom® M

Phoenix Nanotom® M 是一款用于科学和工业计算机断层扫描(microCT 和 nanoCT®)和 3D 计量的纳米聚焦 X 射线 CT 系统。 该系统在广泛的样品及应用范围内实现了独特的空间性及对比分辨率。 全自动执行 CT 扫描、重建和分析过程,确保其易于使用,并快速提供可靠的 CT 结果。 可对复杂物体进行精确和可重复的 3D 测量,并在一小时内自动生成首件检验报告。



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Phoenix V|tome|x S240

用于 2D X 射线检测和 3D 计算机断层扫描的高度通用的高分辨率系统,在 microCT 和 nanoCT 扫描仪中提供了无与伦比的灵活性和效率,使 microCT 扫描速度快 2 倍,分辨率提高一倍。



Phoenix V|tome|x M300

Phoenix V|tome|x M300

全球首款微型 CT (microCT) 扫描仪,专为 3D 计量和分析而设计,采用 scatter|correct 技术,能自动去除散射伪影,以获得更高的图像质量。 高质量的 3D microCT 和 nanoCT 结果,以及具有 300 kv 穿透能力的卓越计量精度,提高了安全性和生产量。



M Neo no background

Phoenix V|tome|x M Neo

Phoenix V®tome®x M Neo 是新一代工业 CT 系统,以广泛使用的 Phoenix V®tome®x 平台为基础,该平台已在全球安装了一千多台设备。它具有重大进步,包括更佳的图像效果、更大的扫描区域(适用于更大、更重的样品)、可变焦距探测器距离以及可提高灵活性和可访问性的新型机柜设计。



Phoenix V|tome|x C CT scanner

Phoenix V|tome|x C450

功能强大、结构紧凑的 450 kV 精密 CT 扫描仪,可选配计量版本,专为吸附部件和大型组件而设计。
其面向生产、低维护的设计提供了结合半自动无损检测和三维计量的速度和灵活性。



Powerscan HE

Phoenix Power|scan HE

穿透力与 Waygate Technologies 先进的 CT 功能(如 Scatter|correct 技术)相结合,使该 CT 系统能够以无与伦比的速度、精度和易用性扫描超大、超重和高吸收性的复杂部件和组件,从而实现比以往更快、更精确的检测。



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