电子产品无损检测

高分辨率 X 射线技术广泛应用于电子设备的故障分析和生产质量控制，以实现更精确的检测。 当标准的 2D AXI 因特征重叠而无法获得可靠的测量结果时，Waygate Technologies 的纳米焦点和微焦点 X 射线技术可提供组件或印刷电路板的清晰截面视图。 任何影响焊点形状的材料缺陷和质量特征都可以被检测出来，如缺失的焊锡、空洞和气泡、焊桥或润焊不良缺陷。

为了以最高的分辨率对最小的细节进行 3D 评估，Waygate Technologies 的先进 CT 扫描仪和纳米焦点和微焦点 X 射线技术将常用于研究和质量实验室的极其精确的检测带到了快速移动的生产线上。 结合基于人工智能的自动缺陷识别算法（适用于电池中的阳极overhang分析等应用），我们的系统可以完全整合到您的电子产品生产线中，以确保最高的质量和效率。

除了提供行业领先的电子行业测试解决方案外，Waygate Technologies 还可以为您提供专家建议及认证，以协助您更好地将检测结果运用到实践中。 联系 Waygate Technologies 专家，了解更多关于我们的培训及教育产品的信息。