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研发领域无损检测

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研发领域检测和无损检测

Waygate Technologies 拥有 125 年的 X 射线检测经验, 一直处于实验室和学术研究领域无损检测解决方案的前沿。 我们开创的技术包括纳米聚焦 X 射线管、微米和纳米级计算机断层扫描,以及超声波检测。 从材料科学到地质学到考古学等领域,全球范围内的杰出科学家利用我们卓越的成像能力来发现原本无法发现的事物。

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我们的技术专长

从材料科学和工业研发到地质学、自然科学和文化科学等其他应用



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针对您的行业挑战量身定做的技术



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工业研发

Waygate Technologies 为工业研发从业人员提供设计、过程中检验和最终检验的解决方案。 我们先进的计算机断层扫描检测系统和超声波浸泡槽通过快速揭示缺陷,可以产生更快的学习效果,缩短上市时间。

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材料科学

Waygate Technologies 为材料科学和工程领域的专家提供所需的工具,帮助他们发现原本无法发现的事物。高分辨率计算机断层扫描可用于分析材料、复合材料、陶瓷和粉末,也可用于分析地质、考古或生物样本。 材料的分布、空隙和裂缝均能以显微分辨率进行三维可视化。



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