计算机放射成像 (CR) 暗盒
 
专为无损检测应用设计的 CR 暗盒

Waygate Technologies(前身为 GE Inspection Technologies)的成像暗盒专为无损检测应用而设计。 CR暗盒重量轻,简单易用。 合成材料强度高,使得整体更为耐用。 工业 X 射线使用的辐射能量较高,因此无法使用标准的医用成像暗盒。 因此,此款成像盒可以提供 200μm (0.008") 的内置前置铜 (Cu) 屏,背面覆铜(厚度 200μm (0.008")),以确保最佳的反向散射保护,从而实现极佳的图像质量。

 

Waygate Technologies(前身为 GE Inspection Technologies)是无损检测解决方案的全球领导者,在确保质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。



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