A inspeção eletrônica começa aqui

A tecnologia de raio X de alta resolução é amplamente utilizada em análises de falhas e testes de qualidade de produção de dispositivos eletrônicos para obter inspeções mais precisas. Quando o 2D AXI padrão não permitir resultados confiáveis devido aos recursos de sobreposição, as tecnologias de raio X de nano e microfoco da Waygate Technologies fornecem visualizações nítidas de cortes de pacotes ou PCIs. Qualquer falha de material e característica de qualidade que afetem a forma das juntas de solda podem ser detectadas, como filetes de solda ausentes, aberturas e bolhas, pontes de solda ou outros tipos de indicação.

Para avaliação 3D dos menores detalhes com a mais alta resolução, os scanners de TC avançados da Waygate Technologies e as tecnologias de raio X nano e microfoco trazem inspeções extremamente precisas geralmente reservadas para laboratórios de pesquisa e qualidade de linhas de produção com movimento rápido. Combinados com algoritmos de reconhecimento de defeitos automatizados baseados em IA (para aplicações como a análise de ânodos salientes em baterias), nossos sistemas podem ser totalmente integrados em sua linha de produção de eletrônicos para garantir a mais alta qualidade e eficiência.

Além de oferecer soluções de teste de eletrônicos líderes do setor, a Waygate Technologies também traz conselhos de especialistas e as certificações de que você precisa para concluir e interpretar os resultados de suas tarefas de inspeção de eletrônicos. Entre em contato com um especialista da Waygate Technologies para saber mais sobre nosso treinamento e ofertas educacionais.