電子機器の検査はここから始まります

高解像度 X 線技術は、より正確な検査を実現するために、電子機器の故障解析や製造品質テストで広く使用されています。 標準の 2D AXI ではオーバーレイ機能が原因で信頼できる結果が得られない場合、Waygate Technologies のナノフォーカスおよびマイクロフォーカス X 線技術により、パッケージまたは PCBS の鮮明なスライスビューが得られます。 はんだフィレットの欠落、ボイドやブリスター、はんだブリッジ、非湿潤欠陥など、はんだ接合部の形状に影響を与える材料の欠陥と品質特性を検出できます。

極小の細部を最高の解像度で3D評価するために、Waygate Technologies の高度な CT スキャナーとナノおよびマイクロフォーカス X 線技術により、通常は研究や品質ラボ専用の非常に正確な検査を、動きの速い生産ラインに持ち込むことができます。AI ベースの自動欠陥認識アルゴリズム (バッテリーのアノードオーバーハング分析などの用途向け) と組み合わせると、当社のシステムを電子機器の生産ラインに完全に統合して、最高の品質と効率を確保できます。

Waygate Technologies は、業界をリードする電子機器テストソリューションを提供するだけでなく、電子機器検査タスクを実行してその結果を解釈するために必要な専門家のアドバイスと認定も提供しています。 Waygate Technologies の専門家に連絡して、トレーニングと教育サービスの詳細をお尋ねください。