여기서 전자 장치 검사가 시작됩니다

전자 장치의 장애 분석 및 생산 품질 시험에서 보다 정확한 검사를 위해 고해상도 X-선 기술이 널리 사용됩니다. 일반 2D AXI의 경우 오버레이 기능으로 인해 신뢰할 수 있는 결과를 얻을 수 없지만 Waygate Technologies의 나노포커스 및 마이크로포커스 X-선 기술로 패키지 또는 PCBS를 정확하고 세부적으로 볼 수 있습니다. 누락된 납땜 필렛, 빈 공간, 기포, 납땜 브릿지 또는 소수성 결함 등 납땜 접합 형태에 영향을 미치는 재료 결함과 품질 특성을 검출할 수 있습니다.

Waygate Technologies의 고급 CT 스캐너와 나노포커스 및 마이크로포커스 X-선 기술은 가장 작은 세부 사항을 가장 높은 해상도의 3D로 평가하기 위해, 일반적으로 연구 및 품질 실험실에서 사용되는 정밀 검사를 빠르게 진행되는 생산 라인에 구현합니다. Waygate Technologies 시스템은 AI 기반 자동 결함 인식 알고리즘(배터리의 양극 돌출부 분석과 같은 경우)과 결합되어 전자 장치 생산 라인에 완벽하게 통합됨으로써 가장 높은 수준의 품질과 효율성을 제공합니다.

Waygate Technologies는 업계 최고의 전자 장치 시험 솔루션을 제공할 뿐만 아니라 전자 장치 검사 작업을 완료하고 결과를 해석하는 데 필요한 전문가 조언과 인증을 지원합니다. Waygate Technologies가 제공하는 교육 및 훈련 프로그램에 대한 자세한 내용은 Waygate Technologies 전문가에게 문의하십시오.