O Phoenix V|tome|x L450 é um sistema versátil de minifoco para tomografia computadorizada 2D e 3D e inspeção por raio X 2D não destrutiva. Com sua manipulação baseada em granito, ele manuseia até mesmo grandes amostras com alta precisão. O sistema é uma solução excelente para detecção de aberturas e falhas e metrologia 3D (por exemplo, inspeção do primeiro artigo) de peças fundidas. Um segundo tubo de raio X microfoco de 300 kV opcional com high-flux|target opcional permite adaptar o Phoenix V|tome|x L450 para uma variedade extremamente ampla de aplicações de CT industriais e científicas.
- Tubo de raio X com minifoco bipolar de 450 kV/1500 W - especialmente otimizado para aplicações de CT - em design de metal/cerâmica para escaneamentos nítidos de CT de amostras grandes e de alta absorção
- Vida útil do filamento até 10 vezes maior, garantindo estabilidade a longo prazo e otimizando a eficiência do sistema por filamentos de longa duração (opcionalmente)
- Aquisição rápida de CT e imagens brilhantes pelo detector Dynamic 41|200 altamente sensível de próxima geração. (Dynamic 41|100 opcional com densidade de pixel de 100 µm para detecção de defeitos 2x menores e inspeção de objetos maiores em resolução mais alta.)
- High-flux|target opcional para escaneamentos de CT com velocidade ou resolução duplicada.
- Pacote para medição dimensional com extrema precisão, reprodutibilidade e facilidade de uso
- Offset|scan e Helix|scan opcional - capacidade para maximizar a flexibilidade do escaneamento
- Módulos de software excelentes para a mais alta qualidade de CT e facilidade de uso
- Metrologia 3D de alta reprodutibilidade por clique e measure|CT com datos|x: execução totalmente automatizada de tomografia computadorizada, reconstrução e processo de análise
- Detecção de falhas e metrologia 3D reproduzível de peças de aço e grandes fundições de alumínio
- Resultados de reconstrução de CT 3D acelerada em alguns segundos ou minutos (dependendo do tamanho do volume) por velo|CT
- Tecnologia avançada de scatter|correct para escaneamentos de CT até 100 vezes mais rápidos, sem comprometer a qualidade da imagem — mesmo para materiais de alta dispersão ou amostras de compostos.

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