Ferramenta de redução de dispersão de TC de alta velocidade scatter|correct
scatter|correct
Ferramenta de correção automática exclusiva para dispersão de alta qualidade

Para o controle do processo de produção de componentes complexos e caros, a Tomografia Computadorizada (TC) é a tecnologia preferencial para muitas tarefas de inspeção e metrologia, por exemplo, para peças fundidas automotivas, pás de turbinas aeroespaciais ou peças impressas em 3D que, por natureza, possuem características ocultas. Um grande desafio são os requisitos de tempo de ciclo aumentados combinados com a alta profundidade de inspeção, que exige métodos aprimorados para lidar com artefatos de imagem.

A dispersão de raios X é o principal fator para esses artefatos na TC. Embora a redução de dispersão de última geração simule a dispersão com base nos dados do CAD ou nas propriedades do material da amostra, a tecnologia de scatter|correct patenteada da GE realmente mede a porção de dispersão dessa amostra específica no scanner de TC e a minimiza a partir do resultado de TC para cada voxel individual. O novo método impulsiona o rendimento da inspeção e a precisão das aplicações de TC de alta energia para escanear amostras difíceis de penetrar com um número atômico relativamente alto, como metais que são realmente realizados com TC de feixe em leque 2D clássico altamente colimado. Isso permite que os clientes obtenham qualidade de TC nunca antes alcançada com TC de feixe cônico baseado em painel plano industrial. Ao combinar a qualidade do TC de feixe em leque de alta precisão com o rendimento até 100 vezes maior da TC de feixe cônico totalmente automatizado, a produtividade de inspeção significativamente aumentada permite que a TC migre de aplicações de P&D para inspeções em série no chão de fábrica.

O novo método não substituirá apenas a TC de minifoco com feixe em leque mais lenta em muitos casos de aplicação: em vários casos de aplicação, agora podem ser aplicados escaneamentos microCT de 300 kV em tarefas de inspeção onde normalmente seria necessário o investimento em equipamentos mais caros de TC de alta energia de 450 kV.

A tecnologia avançada de correção de dispersão também aumenta a precisão da medição: a metrologia 3D com TC sempre usa algoritmos de detecção automática de superfície para determinar a superfície do volume 3D a ser medido. Comparado à TC de feixe cônico convencional, o novo método permite mais penetração de material (até 30%) com os mesmos parâmetros de escaneamento para ainda assim determinar a superfície exata. No mesmo comprimento de penetração do material, o novo método de correção de dispersão permite uma detecção de superfície mais precisa devido a menos artefatos afetando negativamente os resultados da metrologia.

O primeiro scanner de TC minifoco industrial do mundo disponível com a nova opção scatter|correct da GE é a série phoenix v|tome|x c 450, o primeiro sistema microCT é o scanner phoenix v|tome|x m.



Recursos do produto
Vantagens
  • Desempenho de alta precisão e baixo artefato da TC de feixe em leque combinada com velocidade de inspeção até 100 vezes mais rápida* do que a TC de feixe cônico.
  • Oferece melhoria significativa de qualidade não apenas para materiais de alta dispersão, como o aço e o alumínio, mas também para compostos e amostras de multimateriais.
  • Avaliação de volume quantitativo claramente melhorada, e. reconhecimento automático de defeitos ou metrologia 3D precisa de objetos multimateriais de difícil penetração.
  • Tecnologia patenteada da GE - disponível exclusivamente como opcional para o scanner industrial mini e microCT phoenix v|tome|x c e m, assim como o pacote de atualização para sistemas m já instalados.
Aplicações
  • Os escaneamentos de TC podem ser realizados com menos energia, reduzindo a necessidade de tubos e sistemas mais caros e de alta energia.
  • Muitos casos de aplicação podem ser realizados com escaneamentos microCT de 300 kV e outros exigem o investimento em equipamentos de TC mais caros de alta energia de 450 kV.
  • Enquanto um escaneamento típico de TC 1000 fatias precisa de 1 minuto por fatia = 1000 minutos, um escaneamento de TC de feixe cônico precisa apenas de 10 minutos.





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