
Waygate Technologies présente les meilleures solutions de tomographie assistée par ordinateur à Control 2022
Dans cet article :
- Waygate Technologies présente ses innovations CT à Control 2022: Lors du salon international de l'assurance qualité à Stuttgart, Waygate Technologies a présenté ses derniers systèmes industriels de tomographie assistée par ordinateur (CT) et d'inspection par rayons X pour des applications de haute précision et à haut débit.
- Phoenix V|tome|x M est à la pointe de la vitesse et de la précision: Le système microCT offre un grossissement et une métrologie 3D à la pointe de l'industrie, améliorés par le logiciel Scatter|correct pour une imagerie sans artefact et des temps d'inspection réduits.
- Phoenix Nanome|x cible l'inspection de l'électronique et des batteries: Ce système de tomographie nanofocus offre une résolution allant jusqu'à 200 nm, idéale pour l'inspection des semi-conducteurs, des circuits imprimés et des batteries lithium-ion à forte absorption.
- Phoenix Speed|scan HD permet la microtomographie en ligne: Conçu pour les environnements de production automatisés, ce système de tomographie à grande vitesse permet l'inspection en temps réel de composants électroniques et d'autres petits composants avec un minimum d'interruption.
- Les démonstrations de réalité augmentée mettent en évidence l'intégration numérique: Waygate a utilisé la technologie AR/MR pour présenter les capacités de ses systèmes de tomodensitométrie, en soulignant leur rôle dans la transformation numérique et la fabrication intelligente
Waygate Technologies présente les meilleures solutions de tomographie industrielle à Control 2022
HUERTH, Allemagne, 30 mars 2022 - Waygate Technologies, filiale de Baker Hughes et leader mondial des solutions de contrôle non destructif (CND) pour l'inspection industrielle, participera au salon international de l'assurance qualité, Control, qui se tiendra à Stuttgart, en Allemagne, du 3 au 6 mai 2022. Sur le stand 3404 dans le hall 3, l'entreprise présentera ses produits haut de gamme dans les domaines de la radiographie industrielle (rayons X) et de la tomographie assistée par ordinateur (CT), ainsi que de l'inspection visuelle (RVI) et du contrôle par ultrasons (UT).
Cette année, l'exposition se concentrera sur le système microCT Phoenix V|tome|x M. Ce système de pointe offre une métrologie et une analyse NDT et 3D de haute précision grâce à sa technologie propriétaire d'agrandissement et d'amélioration de l'image Scatter|correct.
À côté du V|tome|x M, Waygate Technologies présentera des solutions d'inspection par rayons X et par tomodensitométrie de pointe pour l'industrie de l'électronique et des batteries, y compris un nouveau système conçu pour l'inspection en ligne avec microtomodensitométrie. Il fera l'objet d'une démonstration sur site pour la première fois par le biais d'une technologie avancée de réalité augmentée/mixte (AR/MR).
Phoenix V|tome|x M - Scanner CT à haut débit associé à une métrologie 3D précise
L'inspection avec précision, sécurité et efficacité est essentielle dans le cadre de la fabrication automatisée. Avec Phoenix V|tome|x M, Waygate Technologies propose un système de tomographie industrielle polyvalent et très précis, qui se distingue par sa rapidité et sa précision de mesure. Le système de tomographie microfoyer haut de gamme pour les essais non destructifs, la métrologie et l'analyse 3D offre un grossissement de 300 kV et des images de haute qualité grâce au logiciel Scatter|correct de Waygate Technology qui supprime automatiquement les artefacts de diffusion en cliquant sur un bouton. Il permet un débit élevé sans compromis sur la qualité, de sorte que les entreprises et les laboratoires peuvent optimiser leurs processus et réduire les temps d'inspection.
Phoenix Nanome|x - Inspection nanofocale puissante pour l'électronique
Phoenix Nanome|x, un système nanofocus de haute performance particulièrement adapté à l'inspection électronique, sera également présenté à Control. Il combine la technologie des rayons X 2D à haute résolution, la PlanarCT et la CT 3D en un seul système, conçu pour l'inspection des composants électroniques, tels que les semi-conducteurs, les cartes de circuits imprimés et les batteries au lithium-ion. Il permet de détecter jusqu'à 200 NM de détails pour des résultats d'inspection brillants et d'inspecter même des échantillons à forte absorption.
Phoenix Speed|scan HD - Tout est question de vitesse en ligne
Dernier-né de la flotte de systèmes CT, Phoenix Speed|scan HD est un système microCT à grande vitesse entièrement automatisé, conçu pour l'inspection en ligne de pièces électroniques telles que les batteries et les semi-conducteurs. Il est doté d'un chargement robotisé entièrement automatisé d'un double manipulateur et d'un double sas, ce qui permet un fonctionnement 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7, c'est-à-dire que les fabricants peuvent "scanner 24 heures sur 24" pour suivre les équipes de production et atteindre leur objectif de zéro défaut en inspectant jusqu'à 100 % du volume de production.
Pour la première fois sur le stand de Waygate Technologies, les visiteurs de Control auront l'opportunité d'explorer les capacités d'inspection microCT du système à l'aide de lunettes intelligentes AR/MR de pointe.
Pour en savoir plus, contactez Waygate Technologies :
- Page de présentation des produits : https://www.bakerhughes.com/waygate-technologies/industrial-radiography-and-ct/atline-and-inline-ct-2d-xray-solutions
- Chaîne LinkedIn de Waygate Technologies
- Chaîne YouTube de Waygate Technologies