검사 기술의 발달은 2D X-선 검사와 3D 컴퓨터 단층 촬영(microCT 및 nanoCT®) 및 3D 계측을 위한 다목적 고해상도 시스템 개발로 이어졌습니다. 이제 최대 두 배 더 빠른 microCT 스캔 속도와 두 배 더 높은 해상도로 소형 자산의 보다 효율적인 CT 스캔이 가능합니다.
속도, 세부 검출률 또는 이 두 가지를 모두 향상시켜야 하는 경우 Waygate Technologies(Baker Hughes 계열사)의 Phoenix V|tome|x S240을 3D 산업용 또는 과학 연구용 microCT 작업에 맞게 설정할 수 있습니다.이 CT 스캐너는 전자 장치, R&D, 과학 연구 및 자동차 산업의 검사 과제를 해결하는 데 적합한 기기입니다.
유연성을 향상시키기 위해 V|tome|x S240에 선택적으로 180kV/20W 고성능 나노포커스 X-선 튜브와 240kV/320W 마이크로포커스 X-선 튜브를 모두 장착할 수 있습니다. 독특한 조합의 이 시스템은 0.2마이크로미터의 우수한 세부 검출률로 저흡수성 재료에 초고해상도 nanoCT 스캔 방식을 적용하는 것은 물론 최대 15kg 무게와 500mm 직경의 고흡수성 개체를 microCT로 3D 분석하는 등 다양한 용도로 활용할 수 있는 적합한 도구입니다.
2003년에 출시된 Phoenix V|tome|x S는 실험실 용도에 맞게 제작된 최초의 고해상도 micro- 및 nanoCT® 시스템이며 고유한 Dual|tube 구성 옵션으로 전 세계 연구 기관과 품질 실험실에서 해당 용도 제품 중 빠른 속도로 가장 많이 판매된 CT 시스템이 되었습니다. 이 트렌드를 선도하는 차세대 시스템이 출시됨에 따라 고객은 고해상도, 사용 편의성 및 신뢰성과 뛰어난 가격 대비 성능을 결합한 2D 검사 및 3D CT 시스템의 전례없는 다재다능함은 물론 더 나은 기능의 혜택을 누릴 수 있습니다.
- 다중 구성 가능. 유연하고 개방적인 나노포커스-마이크로포커스 듀얼 튜브 조합(180kV/20W 고성능 나노포커스 X-선 튜브와 240kV/320W 마이크로포커스 튜브) 지원 가능.
- 검사 작업에 따라 3가지 다른 검출기 옵션(예: 뛰어난 해상도와 탁월한 검출 성능을 지원하는 2,500 x 3,000 픽셀(100 μm 픽셀 크기) 구성의 DXR S100 Pro
- 높은 신뢰성. 필라멘트 수명이 최대 10배 늘어나 Long-life|filament을 통해 장기적인 안정성이 확보되고 시스템 효율성이 최적화됩니다.
- 빠른 속도와 우수한 영상 품질. Diamond|window를 통해 동일한 수준의 우수한 영상 품질로 데이터 획득 속도가 최대 두 배 더 빠릅니다.
- 선택적 Offset|scan 및 Helix|scan 기능으로 스캔 유연성 극대화
- 우수한 품질과 고처리량: Phoenix V|tome|x S240은 고효율 Dynamic 41 검출기 기술과 High-flux|target 기능이 결합된 세계에서 몇 안 되는 CT 시스템 중 하나로, 더 빠른 스캔 속도와 향상된 정확성으로 우수한 영상 품질을 제공합니다.
- Full 2D 검사 기능: 유연한 방사선 검사를 위한 매니퓰레이터 경사 축(+/-45°)
- Flash! 영상 최적화: 2D 전자 장치 및 주조품 검사에 맞게 최적화된 우수한 차세대 결함 검출 성능
약 500대가 판매된 Phoenix V|tome|x S는 세계 전역에 설치된 듀얼 튜브 CT 시스템으로, 2D 방사선 검사에서 microCT, nanoCT에 이르기까지 우수한 유연성을 제공합니다. 최근 차세대 V|tome|x S 제품 출시와 함께 시스템 성능이 더 우수해졌습니다.
개별 검사 요구에 따른 최적의 검출기 옵션 선택:
- 영상과 결과 품질이 뛰어나고 410 x 410mm(16” x 16”), 200μm 픽셀 크기, 2036 x 2036픽셀(4 MP)을 지원하는 온도 안정화 Dynamic 41|200p+ 광역 검출기
- 300 mm x 250 mm의 넓은 영상 재생 면적에서 우수한 해상도와 뛰어난 검출 성능을 지원하는 100 μm 픽셀 크기, 2,500 x 3,000 픽셀 구성의 DXR S100 Pro 검출기(1.3배 가상 검출기 확대 옵션)
- 200 mm x 200 mm의 넓은 영상 재생 면적에서 실시간 검사를 위한 20 fps, 200 μm 픽셀 크기, 1,000 x 1,000 픽셀 구성을 지원하는 온도 안정화 DXR 250RT 배열 검출기(2배 가상 검출기 확대 옵션)
특허 받은 High-flux|target 기술 덕분에 두 배 더 빠른 CT 스캔 속도와 두 배 더 높은 해상도로 CT 스캔 작업의 효율성이 개선되었습니다. Velo|CT의 고속 3D CT 재구성 기능과 첫 번째 품목 검사 보고서를 1시간 이내에 자동으로 생성할 수 있어 결과를 훨씬 더 빠르게 검토할 수 있습니다.
Phoenix V|tome|x S는 최대 10kg, 최대 500mm 직경의 샘플을 2D, 3D로 검사할 수 있는 5축 조작 기능을 지원하는 다목적 소형 시스템입니다. 특히 옵션 Dual|tube 구성의 경우 180kV 나노포커스 X-선 튜브의 초미세 세부 검출률과 240kV 마이크로포커스 튜브의 검사 성능을 함께 제공합니다. 버튼 한 번 누르기로 빠르고 간편한 튜브 교체.
3D 측정 패키지로 신뢰할 수 있는 정밀한 결과를 제공하며 완전 자동 방식의 CT 스캔, 재구성 및 분석 프로세스 실행과 소프트웨어 간소화로 고품질의 검사 영상을 그 어떤 제품보다도 쉽게 캡처, 재생할 수 있습니다.
독점 인공 지능(AI) 기반 알고리즘으로 배터리 양극 돌출부 분석 또는 일반적인 주조 결함에 대한 탁월한 자동 결함 인식(ADR) 기능을 제공합니다. AI 기반 ADR 라이브러리는 기존 ADR 접근법보다 정확하고 사용하기 쉽게 개선되어 전문적인 매개변수화 기술이 필요하지 않습니다.
Waygate Technologies는 직관적이고 종합적인 워크플로 관리와 생산 현장에서의 자동 의사 결정을 위한 포괄적인 ADR 라이브러리를 지원하는 차세대 프리미엄 ADR 플랫폼, X|approver를 제공합니다. 생산 공정에 잠재된 부정적인 동향을 한눈에 파악할 수 있는 보고 기능도 함께 제공합니다.
허가 받은 작업자는 누구나 스캔 샘플을 매개변수화할 수 있으며(예를 들어 정확한 돌출부 문제 감지를 위해) 시간이 경과하면서 알고리즘은 더 정확해집니다.
첨단 2D 검사의 경우 Phoenix V|tome|x S가 X|act 검사 소프트웨어와 업계를 선도하는 Flash!™ 지능형 영상 처리 기술로 최적화된 불량 검출 성능을 제공합니다. 2가지 버전 제공:
- Flash! (주조품 검사와 같은 일반 NDT 용도)
- Flash! Electronics(전자 제품 검사에 최적화)
On-demand inspection, training, and consulting services
추가 옵션이 필요하지 않습니다. V|tome|x S는 매니퓰레이터 경사 축(+/-45°)과 오토포지셔닝(CNC) 및 디지털 영상 처리를 위한 Quality|assurance NDT 소프트웨어가 표준 버전에 이미 포함되어 있습니다.
V|tome|x S를 Dual|tube 구성으로 주문할 수 있습니다. 이 설정은 응용 범위를 크게 확장시키며 사용자는 240kV/320W 마이크로포커스 X-선 튜브와 180kV/20W 나노포커스 튜브를 버튼 한 번 누르기로 빠르고 쉽게 전환할 수 있습니다.
2µm(240kV/320W 마이크로포커스 튜브) 또는 1µm 미만(180kV 나노포커스 튜브)입니다.
10kg(Full 2D 방사선 촬영) 또는 최대 30kg(3D CT. 고하중)으로 샘플 형태와 용도에 따라 다릅니다.