USIP 40 다중 채널 결함 검출기의 뒤를 잊는 신제품 Krautkrämer USIP|xs CV는 점점 더 커지는 쉽고 비용 효과적인 통합에 대한 요구를 충족시킵니다. 다중 기기 아키텍처 개선으로 자동화 기능을 최적화하며 더 많은 인터페이스와 유연성을 제공합니다. USIP|xs CV는 어떤 자동 및 반자동 검사 시스템에든 통합할 수 있습니다. 이 기기는 다양한 T/R 사양과 여러 채널 구성 지원으로 성능부터 가격대까지 용도에 맞게 선택할 수 있습니다. 따라서 품질 보증, 압력 제어, R&D 등 다양한 분야와 시스템 규모에 적합합니다.
고객 이점
최적의 자동화 기능
- 복잡한 자동 시스템에 효과적으로 통합
- 통합 필드 버스 연결을 사용하면 모든 PLC의 단일 케이블 연결이 가능하며 대규모 시스템 설계 시 배선 작업을 크게 줄일 수 있습니다
확장형 플랫폼의 시너지 효과
- 고객별 요구에 따른 완벽한 조정
- 시너지 효과 창출: 기술 인프라, 교육/통합 노하우, 수명주기 지원, 예비 부품 취급
간편한 사용과 조작
- 최신 사용 표준, 광범위한 통합 진단 기능: 교육과 학습 감소, 빠른 가동, 유지보수
- 슬롯 카드 설계 시스템보다 우수한 통합형 박스 설계: 부품 및 인터페이스 수와 실패 확률 크게 감소
- 플러그 앤 플레이 - TÜV 승인 EMC 및 안전: UT PCB 공급업체에 비해 시간, 위험, 비용 감소
Krautkrämer USIP|xs CV의 이점
플러그 앤 플래그 방식으로 최신 유용성 표준을 적용하며 다양한 통합 진단 기능을 제공합니다. 초보자도 기본적인 교육과 학습만으로 쉽게 시동, 작동할 수 있습니다. USIP|xs CV는 통합형 박스 설계로 슬롯 카드 방식 전자 제품에 비해 유지 관리가 매우 간편한 기기입니다.
업계 최고의 자동화 및 통합 기능으로 가장 복잡한 시스템도 쉽게 구축할 수 있습니다. USIP|xs CV는 필드 버스를 포함한 다중 인터페이스 표준을 적용하여 자동 시스템에 효과적으로 통합할 수 있는 최고의 장비 중 하나입니다.
새로운 Krautkrämer 기기는 기존 초음파 기기의 최대 플랫폼 중 하나로 개별 검사 요구에 최적화된 UT 성능과 채널 수를 제공합니다. USIP|xs CV는 “일반 범용” 솔루션과 달리 기술 인프라, 기기 비용, 교육 및 통합 노하우와 관련된 시너지 창출로 검사 시스템 설정 및 유지 관리에 수반되는 전반적인 복잡성을 줄여줍니다.
소프트웨어 하이라이트
- 최신 유용성 표준에 따라 완전히 업데이트된 GUI
- 채널당 5개의 게이트, 자체 앰프 사용 시 최대 3개 -> 하나의 채널로 결함 평가 및 BWE
- 최대 8개의 병렬 A-스캔
- 모든 디지털 필터, 사전 설정 및 사용자 정의 기능
- 전체 동적 범위에 대한 TCG, 모든 프로브의 곡선 1개 또는 개별 곡선
- L2 시스템에서 UT 설정을 로드하는 원격 제어
USIP|xs 시스템의 PC에 설치하기 위한 디지털 스트립 차트 기록 소프트웨어.
- USIP|xs 단일 기기 또는 다중 기기 배열의 디지털 데이터 엔터페이스
- 기기당 최대 160개의 게이트 결과 기록 및 표시
- 이벤트, 진폭, ToF [mm, 인치] 정보 표현
- 모든 게이트 정보는 개별 사용자 요구사항에 따라 그룹화하여 적합한 트랙에 할당할 수 있습니다
- 스트립 차트 디스플레이는 각각 최대 16개의 스트립 차트 트랙을 포함하는 최대 8개의 구성 가능한 보기로 그룹화할 수 있습니다
- 시험 개체당 최대 25000개의 길이 세그먼트 기록 가능(세그먼트 길이 구성 가능)
- 단일 개체 또는 배치 작업
- 외부 시험 데이터 릴리스 신호 또는 수동 작업을 통해 시작/일시 중지/중지 제어
- “Ok(올바름)” / “Not Ok(올바르지 않음)” 평가 및 인터페이스 신호
- 구성 가능한 통계
- 보고서 발생기
- csv 데이터 내보내기
- 저장된 검사 결과를 검토하기 위한 뷰어 모드
원하는 대로 맞춤형 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)를 만들거나 GUI를 다른 HMI 환경에 통합해 보세요. 장비는 표준 GUI와 맞춤형 GUI를 통해 병렬로 작동할 수 있습니다. 모든 매개변수 변경 사항은 SDK 소프트웨어를 통해 온라인으로 동기화됩니다.
다음과 같이 SDK를 사용하여 모든 검사 원시 데이터에 액세스하세요.
- 맞춤형 검사 데이터 표시, 평가 또는 기록의 추가적인 처리를 위해 게이트 데이터(진폭, 비행 시간, 게이트 이벤트)를 수집합니다.
- 완전 맞춤형 평가를 위해 실시간으로 디지털 Data-A-스캔을 기록합니다.
Data A-스캔 기능: 최대 4096개의 샘플, 채널당 해상도를 구성하여 데이터 크기 축소. 샘플당 콘텐츠:
- 1x 진폭 값(정류 진폭), 각 2x(RF 진폭)
- 인코더 데이터 x, y 위치(옵션)
- 게이트 데이터: 진폭, 비행 시간(옵션)
- 구성 가능한 진폭 해상도 16비트 또는 24비트(전역 매개변수)
SDK는 시스템 내 용이한 통신을 위해 PLC 핸드셰이크, 검사 시작/중지, 시험 준비 등 SDK-API를 통해 사용할 수 있는 추가 디지털 I/O 인터페이스 기능을 지원합니다.
- 출력: D-Sub 사용 시 3x, 버스 게이트웨이 사용 시 12x, 입력: D-Sub 사용 시 7x, 버스 게이트웨이 사용 시 16x
- SDK 소프트웨어 C# / .ne 지원
