Phoenix V|tome|x M300
Avec le Phoenix V|tome|x M, Waygate Technologies pousse l'innovation encore plus loin en vous offrant le système microfoyer de contrôle par tomographie le plus polyvalent et le plus précis pour la métrologie et l'analyse 3D.
Grâce à ses tubes à rayons X microfoyer de 300 kV et nanofoyer de 180 kV en option, ce scanner Dual|tube haute performance offre . une précision supérieure à des vitesses inégalées. Il vous permet d'optimiser considérablement les résultats de vos recherches en laboratoire et les processus qualité de votre production afin de répondre à la demande croissante actuelle.
Our powerful industrial computer tomography (CT) system, designed for 3D metrology and analysis, provides industry-leading magnification at 300 kV. It is the world’s first microCT scanner with Scatter|correct technology, to automatically remove scatter artifacts for higher image quality. With a variety of exclusive high performance detectors and proprietary premium CT technologies, the Phoenix V|tome|x M revolutionizes CT inspection and 3D metrology - delivering faster scans and higher throughputs without compromising image quality and measurement precision.
Highlights
Benefits
CT Scanning & Metrology at Higher Accuracy, Higher Speeds
- High-quality images via Scatter|correct technology
- High-speed scans thanks to exclusive detectors technology and patented
- Outstanding reliable metrology precision
- Highest versatility due to optional 300 kV micro- and 180 kV nanofokus Dual|tube setup
- Industry-leading microfocus magnification at 300 kV
Applications
The Phoenix V|tome|x M300 system covers an extremely wide range of application capabilities:
- Internal defect analysis
- 3D quantitative porosity analysis
- Assembly control
- Materials structure analysis for small high-absorbing castings
- Highest precision nanoCT of small or low absorbing samples
- Research: 3D printing, composites, battery cells and modules, ceramics, medical industry
- Precision 3D metrology
- CAD Data nom/act comparison
Tube à rayons X microfoyer bipolaire 300 kV / 500 W – spécialement optimisé pour les applications de tomographie – compatible avec un tube à rayons X nanofoyer (précision nanoscopique) haute puissance 180 kV/20 W en option, pour une plus grande précision d'analyse des échantillons de petite taille et à faible absorption
Durée de vie du filament jusqu'à 10 fois plus longue qui garantit une stabilité à long terme et optimise l'efficacité du système avec long-life|filament (en option)
La technologie brevetée exclusive de Waygate Technologies Scatter|correct vous permet de réaliser des contrôles tomographiques très précis sur des échantillons à haute diffusion, avec le niveau de qualité supérieur de la tomographie à faisceau en éventail et une cadence jusqu'à cent fois plus élevée que la tomographie à faisceau conique
Double résolution tomographique capturée à vitesse égale, ou à double cadence au même niveau de qualité qu'un détecteur DXR à pas de 200 µm. Comparée aux détecteurs 16 bits, la technologie optimisée 14 bits offre la meilleure efficacité et une plage dynamique de 10000:1, et permet ainsi de gagner du temps et de générer moins de bruit dans l'image
Prise en charge de pièces encore plus grandes avec un volume de balayage jusqu'à 70 % plus important
Définition d'un axe de rotation virtuel pour un ajustement plus facile des balayages, ainsi que des contrôles tomographiques plus flexibles des régions d'intérêt
L'outil Multi|bhc corrige les artefacts en stries, qui se présentent généralement par des bandes de stries sombres positionnées entre des zones denses dans les échantillons composés de plusieurs matériaux
Le filtre de correction adaptative Scatter|correct offre une qualité d'image sans pareille en diminuant significativement les artefacts causés par l'échelle de gris réduite dans les ensembles de données tomographiques d'échantillons à haute absorption
Ce support facile à retirer permet la permutation automatique des échantillons
Associé au Sample|changer, l'outil Filter|changer en option permet de contrôler via tomographie par ordinateur des lots mixtes
Automatisation intégrale de l'acquisition de données, du traitement des volumes et des évaluations, en toute simplicité
Services internationaux de contrôle industriel par radiographie 2D et tomographie 3D assistée par ordinateur par Waygate Technologies
The Phoenix V|tome|x M comes standard with our exclusive 4 MP Dynamic 41|200 next-generation photodiode design industrial X-ray detector. It provides 10x increased sensitivity relative to the state of the art 200µm pixel-size DXR detectors producing a 2-3x cycle time increase without image quality impact, making inspections and measurements more efficient and productive.
As a premium option, the 100µm / 16 MP Dynamic 41|100 detector provides 2x the resolution increase without impacting cycle times. Detection of 2x smaller defects without an increase of geometric magnification allows for the imaging of large objects at higher resolutions.
Dynamic 41 digital detector technology means you get up to 2-3x faster CT scans or doubled resolution.
Advanced Scatter|correct technology automatically removes scatter artifacts for artifact-free precision CT results on the quality level of fan-beam CT scanned several hundred times faster with advanced cone-beam CT.
Our proprietary High-flux|target allows for higher power on a smaller focal spot, so you can cut scan time in half.
Boost your CT scanning performance with a fully automated, robot-based workflow and 3D analysis in real-time.
Backed by our proprietary technology and durable hardware, you can maintain safe and reliable operations while remaining in compliance.
By bringing your CT inspection right onto the factory floor or into the lab, you can unite manufacturing with quality control for greater reliability, speed, and efficiency.
Unique Dual|tube configurations enhance the flexibility. Depending on the inspection task, fast and easy change between the microfocus and nanofocus X-ray tube is possible just by a push of a button.
With Ruby|plate and True|position technology, the Phoenix V|tome|x M has a specified accuracy of SD ≤ (3.8 + L/100 mm) µm, referring to VDI 2630-1.3 guideline. For all other positions between the VDI positions, a remarkable accuracy of SD ≤ (5.5+ L/100 mm) µm can be reached.
Proprietary machine learning (ML) based algorithms deliver exceptional Automated Defect Recognition (ADR) across various flaws for e.g. battery anode overhang analysis or typical casting defects. Our AI and data science based ADR library yields greater accuracy and enhanced ease of use compared to conventional ADR approaches, eliminating the need for expert parameterization skills.
Waygate Technologies offers X|approver, the next level and premium ADR platform consisting of the full and intuitive workflow management as well as a comprehensive ADR library running in the background of your production delivering automatic decision making. On top of it reporting functions are provided to see potential negative trends in production at a glance. Any authorized operator can parametrize scanned samples (e.g. for highly accurate overhang issue detection), and the algorithms get more accurate over time.
There is more information in an images acquired within a 2D application or slide taken from a CT scan visible for the human eye. The system includes Waygate Technologies X|act NDT inspection software with industry leading Flash!™ intelligent image processing technology unveil details that are not visible before. Users benefit from two versions:
- Flash! (for general NDT use such as casting inspection)
- Flash! Electronics (optimized for Electronics inspection)
Caractéristiques techniques
Envie de donner un coup de boost à votre système ? Avec nos mises à niveau matérielles et logicielles, vous pouvez optimiser l'efficacité et la cadence de vos activités. N'hésitez pas à regarder nos options de mise à niveau en cliquant ici !
Jusqu'à 50 kg, en fonction de l'application.
Jusqu'à 500 mm de diamètre et 600 mm de hauteur avec une plage de mouvement limitée.
Jusqu'à 420 mm de diamètre et 400 mm de hauteur.
