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Nueva versión de Phoenix Nanome|x y microme|x Neo
Tiempo de lectura: 2 minutos
En este artículo:
- Nueva generación de rayos X y TC para la inspección electrónica: Waygate Technologies lanzó los sistemas actualizados Phoenix Nanomex y Micromex Neo, estableciendo un nuevo estándar en rayos X de microenfoque y nanoenfoque y tomografía computarizada (TC) para el aseguramiento de la calidad de la electrónica.
- Imágenes mejoradas con detectores de ultra alta resolución: Los sistemas ofrecen opciones de detectores con tamaños de píxel tan pequeños como 85 µm, lo que permite una inspección precisa de componentes pequeños como semiconductores y placas de circuito impreso.
- Tubo de rayos X inteligente para la protección de componentes: Un tubo de rayos X rediseñado con control de dosis minimiza la exposición a la radiación de los componentes electrónicos sensibles, preservando la integridad de los componentes durante la inspección.
- Flujo de trabajo optimizado con automatización e integración MES: Funciones como los informes de inspección automáticos, la importación de archivos CAD y la conectividad con el sistema de ejecución de fabricación (MES) mejoran la eficacia y la trazabilidad.
- Ideal para I+D, control de calidad y análisis de fallos: Los sistemas admiten una amplia gama de aplicaciones en toda la fabricación electrónica, desde la optimización de procesos hasta la detección de defectos y el desarrollo de productos
A principios de este año, Waygate Technologies lanzó una nueva versión de nuestros productos Phoenix Nanome|x y Microme|x Neo, presentando el último estándar de la industria para rayos X y TC de microenfoque y nanoenfoque, que incluye la capacidad de inspección Planar CT, con un enfoque en las aplicaciones de inspección de electrónica. La nueva versión proporciona:
- Más opciones de detectores para adaptarse mejor a múltiples aplicaciones
- Un tubo de rayos X optimizado para proteger los componentes sensibles a los rayos X
- Funciones de software mejoradas para una mayor eficiencia y facilidad de uso
Características y beneficios clave:
- Opción de detector de resolución ultraalta con tamaño de píxel de 100/85 μm para componentes y semiconductores de tamaño pequeño
- El tubo de rayos X inteligente y la medición de dosis protegen los componentes (inspeccionados) de la radiación de rayos X prolongada
- Se generan informes de inspección automáticos para mejorar la eficiencia y la facilidad de uso
- La interfaz del sistema de ejecución de fabricación (MES) y la opción de importación de archivos CAD aumentan la interconectividad del sistema
Waygate Technologies
Como líderes a nivel global en ensayos no destructivos (END), somos nosotros quienes nos encargamos de preocuparnos de los detalles. Garantizamos seguridad, calidad y productividad para los sectores principales en todo el mundo.
