Einführung von Phoenix Nanome|x und microme|x Neo

Dieses Jahr hat Waygate Technologies eine neue Version des Produkts Phoenix Nanome|x und Microme|x Neo veröffentlicht, die die neuesten Standards für Mikrofokus- und Nanofokus-Röntgen- und -CT-Inspektion, einschließlich Planar CT, mit einem Schwerpunkt auf Inspektionsanwendungen für Elektronik, umfasst. Die neue Version bietet: 

• Weitere Detektoroptionen zur besseren Anpassung an mehrere Anwendungen
• Eine optimierte Röntgenröhre zum Schutz röntgenempfindlicher Komponenten
• Verbesserte Softwarefunktionen für höhere Effizienz und Benutzerfreundlichkeit

Anwendungen: Das aktualisierte Produkt bietet eine große Bandbreite an Anwendungen für die beiden oben angegebenen Schlüssel-Industriezweige.

Hauptfunktionen und -vorteile:

• Detektoroption mit ultrahoher Auflösung mit einer Pixelgröße von 100/85 μm für kleine Komponenten und Halbleiter
• Die Intelligente Röntgenröhre und Dosismessung schützen die (geprüften) Komponenten vor anhaltender Röntgenstrahlung
• Die automatischen Inspektionsberichte werden für höhere Effizienz und Benutzerfreundlichkeit erzeugt
• Die Schnittstelle für ein Manufacturing Execution System (MES) und die Importoption für CAD-Dateien steigern die Vernetzbarkeit des Systems