Nova versão do Phoenix Nanome|x e microme|x Neo

Anteriormente neste ano, a Waygate Technologies lançou uma nova versão dos nossos produtos Phoenix Nanome|x e Microme|x Neo, introduzindo a mais recente norma do setor referente à funcionalidade de inspeção por radiografia e TC com microfoco e nanofoco — incluindo a TC planar — com foco nas aplicações de inspeção de eletrônicos. A nova versão oferece: 

• Mais opções de detectores para melhor se adequar a várias aplicações
• Um tubo de raios X otimizado para proteger componentes sensíveis a esses raios
• Recursos de software aprimorados para facilitar o uso e aumentar a eficiência

Aplicações: o produto atualizado oferece uma ampla variedade de aplicações nas duas importantes verticais dos setores exibidas acima.

Principais recursos e benefícios:

• Opção de detector com resolução ultra-alta, com tamanho de pixel de 100/85 μm, para componentes de pequeno porte e semicondutores
• O tubo de raios X inteligente e medição da dose protegem os componentes inspecionados contra a radiação X prolongada
• Relatórios de inspeção automáticos são gerados, para aumentar a eficiência e facilitar o uso
• A interface com o sistema de execução de fabricação (MES) e a opção de importação de arquivos CAD aumentam a interconectividade do sistema