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Nova versão do Phoenix Nanome|x e microme|x Neo
Leitura de 2 minutos
Neste artigo:
- Raio-X e tomografia computadorizada de última geração para inspeção eletrônica: a Waygate Technologies lançou os sistemas Phoenix Nanomex e Micromex Neo atualizados, estabelecendo um novo padrão em raios-X de microfoco e nanofoco e tomografia computadorizada (TC) para garantia de qualidade eletrônica
- Imagens aprimoradas com detectores de ultra-alta resolução: os sistemas oferecem opções de detectores com tamanhos de pixel de até 85 µm, permitindo a inspeção precisa de pequenos componentes, como semicondutores e PCBs
- Tubo de raios X inteligente para proteção de componentes: um tubo de raios X redesenhado com controle de dose minimiza a exposição à radiação de eletrônicos sensíveis, preservando a integridade dos componentes durante a inspeção
- Fluxo de trabalho simplificado com automação e integração MES: Recursos como relatórios de inspeção automáticos, importação de arquivos CAD e conectividade com o Sistema de Execução de Manufatura (MES) melhoram a eficiência e a rastreabilidade
- Ideal para P&D, controle de qualidade e análise de falhas: Os sistemas suportam uma ampla gama de aplicações na fabricação de eletrônicos, desde a otimização de processos até a detecção de defeitos e o desenvolvimento de produtos
Anteriormente neste ano, a Waygate Technologies lançou uma nova versão dos nossos produtos Phoenix Nanome|x e Microme|x Neo, introduzindo a mais recente norma do setor referente à funcionalidade de inspeção por radiografia e TC com microfoco e nanofoco — incluindo a TC planar — com foco nas aplicações de inspeção de eletrônicos. A nova versão oferece:
- Mais opções de detectores para melhor se adequar a várias aplicações
- Um tubo de raios X otimizado para proteger componentes sensíveis a esses raios
- Recursos de software aprimorados para facilitar o uso e aumentar a eficiência
Principais recursos e benefícios:
- Opção de detector com resolução ultra-alta, com tamanho de pixel de 100/85 μm, para componentes de pequeno porte e semicondutores
- O tubo de raios X inteligente e medição da dose protegem os componentes inspecionados contra a radiação X prolongada
- Relatórios de inspeção automáticos são gerados, para aumentar a eficiência e facilitar o uso
- A interface com o sistema de execução de fabricação (MES) e a opção de importação de arquivos CAD aumentam a interconectividade do sistema
Waygate Technologies
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