Image
Image

Eyebrow
Blog
Phoenix Nanome|x および microme|x Neo のニューリリース
読むのに 2 分かかります
この記事で
- エレクトロニクス検査用次世代X線およびCT : ウェイゲート・テクノロジーズは、マイクロフォーカスおよびナノフォーカスX線およびCT(コンピュータ断層検査)の新しい基準を打ち立て、エレクトロニクス品質保証のためのPhoenix NanomexおよびMicromex Neoシステムのアップデートを発表しました。
- 超高分解能検出器によるイメージング強化 : ピクセルサイズが85 µmと小さい検出器オプションにより、半導体やPCBなどの小型部品の精密検査が可能
- スマートX線管による部品保護 線量制御機能を備えた再設計のX線管により、高感度な電子機器への放射線被ばくを最小限に抑え、検査中のコンポーネントの完全性を維持
- 自動化とMES統合によるワークフローの合理化 : 自動検査レポート、CADファイルインポート、製造実行システム(MES)接続などの機能により、効率性とトレーサビリティが向上します。
- 研究開発、品質管理、故障解析に最適です: このシステムは、プロセスの最適化から欠陥検出、製品開発まで、エレクトロニクス製造の幅広いアプリケーションをサポートします。

今年初め、Waygate Technologies は Phoenix Nanome|x and Microme|x Neo 製品の新リリースを発表し、マイクロフォーカスおよびナノフォーカス X 線および CT ( Planar CT を含む) 検査機能の最新業界標準をエレクトロニクス検査アプリケーションに焦点を当てて導入しました。この新リリースでは、次のようなものが提供されます。
- 複数のアプリケーションに対応するため、検出器のオプションを追加
- X 線に敏感な部品を保護するために最適化された X 線管
- 効率性と使いやすさを向上させるソフトウェア機能の強化

アプリケーション: 更新された製品は、上記の 2 つの主要垂直産業における幅広いアプリケーションを提供します。
主な機能とメリット:
- 100/85μm ピクセルサイズの超高分解能検出器オプションで、小型部品や半導体に対応
- スマート X 線管と線量測定で、長時間の X 線照射から検査部品を保護 (検査)
- 自動検査レポートが作成され、効率と使いやすさが向上
- 製造実行システム (MES) インターフェースと CADファイルインポートオプションにより、システムの相互接続性を向上