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Phoenix Nanome|x 和 microme|x Neo 新版本
2 分钟阅读时间
本文内容：
- 电子检测领域的下一代X射线与CT技术：Waygate Technologies推出更新版的Phoenix Nanomex和Micromex Neo系统，为电子产品质量保证领域的微焦点和纳米焦点X射线及计算机断层扫描（CT）技术树立了新标杆
- 超高清探测器提升成像质量：系统提供像素尺寸小至85微米的探测器选项，可精准检测半导体和PCB等小型组件
- 智能X射线管保护组件：全新设计的X射线管配备剂量控制功能，可最大限度降低敏感电子元件的辐射暴露，确保检测过程中组件完整性
- 自动化与制造执行系统（MES）集成实现工作流程优化：自动生成检测报告、CAD文件导入及MES连接等功能提升效率与可追溯性
- 适用于研发、质量控制及失效分析：该系统支持电子制造全流程应用，涵盖工艺优化、缺陷检测及产品开发等环节
今年早些时候，Waygate Technologies 发布了我们的 Phoenix Nanome|x 和 Microme|x Neo 产品的新版本，引入了最新的微聚焦和纳米聚焦 X 射线和 CT 行业标准，且具备 Planar CT 检测能力，主要用于电子产品检测应用。 新版本提供：
- 更多的探测器选项，以适用于多种应用
- 优化的 X 射线管，可保护 X 射线敏感部件
- 增强的软件功能，可提高效率和易用性
应用：更新的产品可在上述两个主要行业垂直领域内提供广泛的应用。
主要特点和优势：
- 100/85μm 像素尺寸的超高分辨率探测器选件，适用于小型元件和半导体
- 保护（已检测）元件免受持久 X 射线辐射影响的智能 X 射线管和剂量测量功能
- 生成自动检测报告，可提升效率和易用性
- 制造执行系统 (MES) 接口和 CAD 文件导入选件，提升系统的互连性
