Phoenix Nanome|x 和 microme|x Neo 新版本

今年早些时候，Waygate Technologies 发布了我们的 Phoenix Nanome|x 和 Microme|x Neo 产品的新版本，引入了最新的微聚焦和纳米聚焦 X 射线和 CT 行业标准，且具备 Planar CT 检测能力，主要用于电子产品检测应用。 新版本提供：

• 更多的探测器选项，以适用于多种应用
• 优化的 X 射线管，可保护 X 射线敏感部件
• 增强的软件功能，可提高效率和易用性

应用：更新的产品可在上述两个主要行业垂直领域内提供广泛的应用。

主要特点和优势：

• 100/85μm 像素尺寸的超高分辨率探测器选件，适用于小型元件和半导体
• 保护（已检测）元件免受持久 X 射线辐射影响的智能 X 射线管和剂量测量功能 
• 生成自动检测报告，可提升效率和易用性
• 制造执行系统 (MES) 接口和 CAD 文件导入选件，提升系统的互连性