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Nuova versione di Phoenix Nanome|x e microme|x Neo
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A inizio anno, Waygate Technologies ha lanciato una nuova versione dei nostriprodotti Phoenix Nanome|x e Microme|x Neo, introducendo lo standard di settore più recente per raggi X e TC microfocus e Nanofocus, inclusa la capacità d'ispezione Planar TC con particolare attenzione alle applicazioni d'ispezione elettronica.La novità prevede:
- Più opzioni del rilevatore per adattarsi meglio alle molteplici applicazioni
- Un tubo a raggi X ottimizzato per la protezione dei componenti sensibili ai raggi X
- Funzionalità software avanzate per una maggiore efficienza e facilità d'utilizzo
Applicazioni:Il prodotto aggiornato offre un'ampia gamma di applicazioni per i due settori verticali chiave sopra visualizzati.
Caratteristiche e vantaggi principali:
- Opzione rilevatore ad altissima risoluzione con dimensioni pixel di 100/85μm per componenti e semiconduttori di piccole dimensioni
- Il tubo radiogeno serie Smart e la misurazione della dose proteggono i componenti (ispezionati) dalle radiazioni a raggi X prolungate
- I rapporti d'ispezione automatici vengono generati per una maggiore efficienza e facilità d'utilizzo
- L'interfaccia Manufacturing Execution System (MES) e l'opzione d'importazione di file CAD aumentano l'interconnettività del sistema
Waygate Technologies
In quanto leader mondiale per le prove non distruttive (NDT), siamo attenti in maniera ossessiva ai dettagli, così che non dobbiate preoccuparvene voi.Garantiamo sicurezza, qualità e rendimento alle industrie principali di tutto il mondo.
