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Dynamic 41|100--卓越的图像质量 X 射线平板探测器
在更短的时间内获得优质的 CT 结果
- Dynamic 41|100 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台的首款产品。 其检测面积约为 410×410mm²（16"×16"），像素大小为 100μm，在实现卓越图像质量的同时提供更快的检测速度。
- Waygate Technologies 基于专有的 X 射线平板探测器技术，独家向其射线照相和 CT 客户提供其首个专门为粗加工和高能量消耗工业 X 射线应用而设计和优化的 100 μm、16M 像素的平板探测器。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比，Waygate 专有的EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。
产品亮点
开放式配置选项
Waygate 技术公司专有的 Dynamic 41|200 探测器像素间距为 200 µm，专门用于 Phoenix Vtome|x 系统。
Phoenix Vtome|x C 和 M Neo 系统可选配像素间距为 100 µm 的 Dynamic 41|100 探测器，从而实现以下功能
- 在不增加几何倍率的情况下，以更高分辨率检测两倍小的缺陷和大型物体图像
- 通过提高探测器灵敏度、加快帧频、扩大成像区域和自适应成像模式，缩短检测时间
我们的客户在说什么？
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益处
大面积 16" X 射线探测器，像素尺寸为 100 微米（1600 万像素），具有卓越的图像和结果质量，其设计和优化可确保工业高能应用的长期可靠性。
高分辨率图像，可轻松检测细微迹象（使用微型聚焦 X 射线管，特征检测可达 50 微米）。
新一代光电二极管设计，与最先进的 200 微米像素探测器相比，效率和灵敏度提高了 10 倍，使分辨率提高了 2 倍，而不影响周期时间。
资源
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/sites/bakerhughes/files/2024-11/updated_phoenix_dynamic_brochure_v3.pdf