用于提高 CT 检测吞吐量的 X 射线探测器
Dynamic 41|200 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台产品。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比，Waygate 专有的 EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。 凭借大约 405 x 405 mm² (16 "x16") 的检测区域和200 µm 的像素，与传统的 200µm DXR 平板探测器相比，它可以将检测周期时间增加 2-3 倍而不影响图像质量。
不同于从不同供应商采购大部分核心组件组装产品的做法，Waygate Technologies 是唯一一家将其专有核心部件（如 X 射线管、发生器、软件以及数字平板探测器）结合起来形成统一的高性能系统的工业 CT 制造商。新型 Dynamic 41|200 探测器专为 Waygate Technologies 的客户提供。 它是 Phoenix V|tome|x C、M 和 L CT 系统的标准配置。 根据要求，Dynamic 41|200 也可用于 Seifert X|cube。
益处
大面积 16" X 射线探测器，像素为 200 微米（400 万像素），专为工业高能应用中的长期可靠性而设计和优化。
高分辨率图像可轻松检测出细微的体征（使用微聚焦 X 光管可检测出小至 100 微米的特征）。
下一代光电二极管设计的效率和灵敏度比最先进的 200 微米像素 DXR 探测器提高了 10 倍，可将周期时间延长 2-3 倍，而不会影响图像质量。
产品规格
详细信息
数据
像素大小
200 微米、400 微米，2 x 2 分档
活动区域（约）
405 x 405 毫米（16 英寸 x 16 英寸）
像素矩阵
2048 x 2048（4MP），可用：2024 x 2024
最大帧频 帧频
全 FOV：20 帧/秒；20 x 20 厘米 ROI： 30 帧/秒
动态范围
10000:1
使用寿命延长
针对工业高能 CT 应用进行了优化设计
低鬼影
快速连续拍摄图像
高灵敏度
相同亮度下的较短曝光时间
ASTM E2597/DICONDE
符合要求
- 具有超大 16 英寸检测面积、100 µm 的像素 (4 MP) 的 X 射线平板探测器，可根据工业高能量消耗的长期可靠性进行设计和优化。
- 高分辨率图像，便于检测细微的迹象（使用微聚焦 X 射线管可检测 100 µm 的特征）。
- 新一代光电二极管设计，与最先进的 200 µm 像素 DXR 平板探测器相比，效率和灵敏度提高了 10 倍，可在不影响图像质量的情况下将分辨率提高 2-3 倍。
- 由于平板探测器的灵敏度更高，帧率更快，成像区域更大以及其自适应成像模式，因此减少了检测时间。
- Dynamic 41 平板探测器系列专为 Waygate Technologies 系统客户提供。
