Компьютерная томография (КТ) используется для решения различных задач контроля и метрологии в производстве сложных и дорогостоящих деталей в автомобилестроении, авиакосмической отрасли и 3D-печати, которые в своей конструкции имеют скрытые элементы. Основная проблема — большая длительность цикла и габариты объектов контроля, что требует применения методов обработки артефактов изображения.
Основная причина появления таких артефактов в КТ — рссеяное излучение. Современные технологии уменьшения рассеяного излучения симулируют это излучение на базе данных CAD и свойств материала объекта контроля, в то время как фирменная технология GE scatter|correct измеряет фактические параметры рассеяного излучения в конкретном объекте посредством КТ-сканера и уменьшает его влияние на результат КТ на уровне отдельного вокселя. Новый метод повышает производительность высокоэнергетической КТ при сканировании сложных для контроля объектов, например изготовленных из металлов с высоким атомным номером, которые традиционно контролируют КТ c с линейным детектором. Это позволяет клиентам получить качество КТ, которое ранее не было достижимо с помощью КТ с коническим лучом на основе плоскопанельных детекторов. Благодаря сочетанию высокоточного качества КТ с веерным лучом и почти в 100 раз большей пропускной способности полностью автоматизированного КТ с коническим пучком, значительно увеличенная производительность контроля позволяет перейти от выполнения НИОКР к серийному контролю в производственном цеху.
Новый метод не просто заменяет медленные системы веерной КТ, но и в большинстве случаев позволяет использовать системы микротомографии напряжением 300 кВ для решения задач, для которых ранее необходимо было применять высокоэнергетическое дорогостоящее оборудование с напряжением 450 кВ.
Усовершенствованная технология уменьшения рассеивания также повышает точность контроля: при проведении трехмерных метрологических работ посредством КТ используются алгоритмы определения поверхностей и формирования объемной модели. По сравнению с традиционной технологией конусной КТ новый метод обеспечивает повышение проникающей способности (до 30 %) при прочих равных параметрах контроля для более точного определения границ раздела сред. При той же глубине проникновения в материал ОК новый метод коррекции рассеяния позволяет точнее определять границы раздела сред благодаря меньшему количеству артефактов и повысить точность метрологических измерений.
Phoenix v|tome|x c серии 450 — первый в мире промышленный минифокусный КТ с новой технологией GE scatter|correct, первый подобный сканер для микротомографии — phoenix v|tome|x m.
- Снижение количества артефактов, увеличение точности веерной КТ и повышение скорости конической КТ в 100 раз*.
- Существенно повышает качество контроля не только для материалов с высокой степенью рассеяния — стали и алюминия, но и для композитных материалов и объектов, состоящих из нескольких материалов.
- Существенно улучшена процедура оценки объемных данных, например, для распознавания дефектов или высокоточной 3D-метрологии при контроле объектов с высокой степенью поглощения.
- Фирменная технология GE доступна в качестве дополнительной функции для промышленных сканеров для мини- и микротомографии phoenix v|tome|x c и m, а также как обновление для систем серии m.
- Снижение требований к расходу энергии при КТ, что позволяет отказаться от дорогостоящих высокоэнергетических трубок и систем.
- Для решения многих задач можно использовать системы компьютерной микротомографии с напряжением 300 кВ вместо более дорогих высокоэнергетических установок 450 кВ.
- В то время как для создания 1000 сечений с помощью веерной КТ требуется 1000 минут (1 минута на сечение), конусная КТ может выполнить ту же задачу за 10 минут.