Phoenix Nanotom® M
The Phoenix Nanotom® M is a nanofocus X-ray CT system for scientific and industrial computed tomography (microCT and nanoCT®) and 3D metrology. The system realizes a unique spatial and contrast resolution on a wide sample and application range. Fully automated execution of CT scan, reconstruction and analysis process ensures its ease of use and fast, reliable CT results. Precise and reproducible 3D measurements of complex objects and the automatic generation of first article inspection reports within an hour are possible.
Die hochauflösende Computertomographie (CT) hat sich zu einem leistungsstarken Inspektionswerkzeug für eine Vielzahl industrieller und wissenschaftlicher Inspektions- und Messanwendungen entwickelt, z. B. für die zerstörungsfreie Struktur- und Fehleranalyse sowie für die Qualitätssicherung oder Produktionskontrolle.
Mit seiner 180 kV/20 W Ultrahochleistungs-Nanofokus-Röntgenröhre, der Präzisionsmechanik und den fortschrittlichen Softwaremodulen ist das Phoenix Nanotom® M die Inspektionslösung für ein breites Spektrum von 3D-CT-Anwendungen. Einmal gescannt, bieten die vollständig dreidimensionalen CT-Informationen zahlreiche Analysemöglichkeiten, z. B. die zerstörungsfreie Visualisierung von Schichten, beliebige Schnittbilder oder die automatische Porenanalyse.
Highlights
Highlights
Benefits
Your Advantages:
- Unique spatial and contrast resolution on a wide sample range – from small material to medium sized plastic samples
- Also for electronics assemblies up to 240 mm in diameter, 250 mm hight and 3 kg (6.6lbs) in weight
- Optimized 3D metrology package for stable acquisition conditions, fast reconstruction within minutes and reproducible measurement results
- Optimized ease of use due to system design and advanced Phoenix Datos|x CT software
Features
The Phoenix Nanotom® M includes all essential features for CT with extremely high accuracy and reproducibility:
- Temperature stabilized cabinet
- High accuracy direct measuring system
- Vibration insulation of the manipulator
- Precision rotation unit on air bearings
- Temperature stabilized DXR detector for brilliant image quality
Applications
NanoCT can compete in many application fields with limited availabe synchrotron facililties, e.g.:
- Materials science
- Micro-engineering
- Electronics
- Life sciences/ Medical devices
- Geosciences
- Offene 180 kV/20-W-Hochleistungs-Nanofokus-Röntgenröhre mit Detailerkennung bis 200 nm und interner Kühlung – optimiert für Langzeitstabilität
- Extrem hohe Bildqualität durch einen einzigartigen, temperaturstabilisierten digitalen DXR-Detektor (3072 x 2400 Pixel) für einen hochdynamischen Bereich > 10.000:1
- Phoenix Datos|x Softwarepaket „click & measure CT“
- Metrologiepaket für 3D-Metrologie-Anwendungen: temperaturstabilisierte Kabine, hochgenaues direktes Messsystem, Schwingungsisolierung des Granitmanipulators
- Diamond|window
- Einzigartige Orts- und Kontrastauflösung bei einem breiten Probenbereich – von kleinen Materialien bis zu mittelgroßen Kunststoffproben, die 3 Größenordnungen abdecken (0,25 mm bis 250 mm Probenhöhe und 3 kg Probengewicht)
- Optimiertes 3D-Messtechnikpaket für stabile Erfassungsbedingungen, schnelle Rekonstruktion innerhalb von Minuten und reproduzierbare Messergebnisse
- Optimierte Benutzerfreundlichkeit durch das Systemdesign und die fortschrittliche Phoenix Datos|x CT-Software
- Optionale Helix|scan-Funktion zum Scannen längerer Teile mit besserer Qualität
- Diamond|window für extrem hohe Brennfleckstabilität und bis zu 2-mal schnellere Datenerfassung bei gleichbleibend hoher Bildqualität
Technische Daten
Technische Daten
Although the focal spot of microfocus tubes is as small as a few microns, it is still large enough to cause a half shadow, known as the penumbra effect. This results in a residual unsharpness and can be avoided by using nanofocus technology. Nanofocus provides focal spots well below one micron while maintaining the highest intensity needed. The Nanotom M combines state of the art microCT with the possibility to scan small, low absorbing samples with submicron detail detectability.
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