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CT 操作原理:什么是 X 射线吸收?
本文内容:
- X射线吸收是CT成像的基础:本文解释了工业计算机断层扫描(CT)如何基于X射线吸收原理实现对材料内部结构的无损成像。
- 材料密度与厚度对吸收的影响:密度较高的材料及较厚的区域会吸收更多X射线,导致探测器图像中对应区域变暗,而密度较低的区域则显得更亮。
- 束硬化和伪影解析:博客探讨了低能X射线更易被吸收的现象,这会导致束硬化效应及潜在图像伪影,需进行校正以确保CT扫描的准确性。
- 吸收数据实现3D重建:通过采集不同角度的多组2D投影,CT系统利用吸收差异重建内部特征的详细3D模型。
- 质量控制与失效分析的关键:理解X射线吸收原理对优化航空航天、汽车、电子及增材制造等领域零部件的CT检测至关重要。
什么是 X 射线吸收?
从物理角度来看,对比度来源于物体各部分对 X 射线的吸收程度,这可能是因为厚度及材质不同所导致:
在下图中,物体 A 虽然与物体 B 的厚度相同,但是由于具备更高的密度或更高的原子序数,因此吸收率也更高。 物体 C 虽然与物体 B 的材质相同,但是由于厚度不及物体 B,因此所吸收的辐射相对更低。