Waygate Technologies 的射线照相技术：技术更新
Waygate Technologies 不断发展射线照相技术，以保持行业领先地位，并满足新兴的客户需求。以下是我们最近技术更新的汇总。 如需了解更多信息，请联系我们。
1. Phoenix V|tome|x M 系统搭载计量 2.0
作为真正的高精度计量工具，工业计算机断层扫描 (CT) 的重要性不断增加，随之我们的 Metrology|edition 1.0 也经过了大幅改进，以满足新出现的需求。 我们新推出的 Metrology|edition 2.0 正在以越来越快的速度对传统的计量方法（如触觉或视觉扫描仪）进行扩展或替换。 根据 VDI2630，更新的计量 2.0 规定了更高的精度 (SD = 3.8 µm + L/100mm)。
其他技术亮点，Metrology|edition 1.0 与 2.0 对比：
- 新的标准件 (Ruby|plate)，无需用户干预即可将精度验证速度提升 3 倍
- 增强版 True|position，基于激光的操纵器校准，现在可指定测量位置范围，不局限两个
- 新增了温度和湿度传感器，以进行热漂移补偿和追踪
即日起所有新系统均配备 Metrology|edition 2.0 功能。 已安装的带有压缩空气台和直接测量系统的 V|tome|x M 系统基础版可进行升级。
2. 将计算机断层扫描 (CT) 技术带入生产车间
随着越来越多的公司将 CT 迁移至生产车间，Waygate Technologies 开发了以下新的附加组件，以帮助完成无缝转变：
a) Sample|changer
我们高度灵活和自动化的 sample|changer 将 V|tome|x M 系统的生产率推动到了新的水平，从而提升了批量检测的效率。
主要亮点：
- 自动化批量检测效率提升达 70%
- 根据特定的需求定制样品托盘
- Sample|changer 完美适配自动化 Filter|changer
Sample|changer 适用于所有新款和现有 phoenix V|tome|x M 系统
b) Filter|changer
自动化 filter|changer 可与自动化 sample|changer 结合使用或作为独立的解决方案使用，帮助大幅提升生产率。 Filter|changer 与 Sample|changer 的结合能够将生产率提升到极致。
主要亮点：
- 根据应用需求，最多可对 10 个滤波器进行设置
- Filter|changer 可完全嵌入自动化工作流程中
Filter|changer 适用于新款或现有（通过升级）V|tome|x M 和 V|tome|x C 450 系统。
3.0 新的软件功能助力 CT 性能提升
软件对精确的 CT 结果具有很重要的作用。 我们最新获得专利的软件更新能够在以下三个特定领域进一步提升 CT 结果质量：
a) Multi|BHC（即“多射束硬化修正”）
Multi|BHC 专用于减少伪影，超越了当前减伪影算法的极限。 此种特别的滤波器技术尤其适用于兼具低吸收和高吸收区域的多材料部件，能够保证卓越的数据质量，甚至能够帮助衡量不同材料之间的接合区域。
此新功能适用于所有 Phoenix V|tome|x 系统。
b) ASC|filter（即“自适应散射校正滤波器”）
全新推出的 ASC|filter 能大幅减少因灰度值降低产生的伪影，在扫描中至高吸收性样品时的效果尤为显著。 ASC|filter 能够和 Scatter|correct 一起用于所有 V|tome|x 系统。
c) Datos|x 2.8.0
我们现已推出了最新的高级 CT 软件 Datos|x - 2.8.0，能够实现以下功能：
- + Metrology|edition 2.0 + Filter|changer + Multi|BHC
- + Sample|changer + ASC|filter + 全面的 Windows 10 系统支持
- + Flash!|filters
- Flash!|filters 现已成为我们的 Datos|x 2.8.0 软件的一部分，让您在
- 我们专有的 CT 软件中也可使用这一行业领先的图像增强技术。
