Dynamic 41|200 - 提高 CT 检测吞吐量的 X 射线平板探测器
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Dynamic 41|200

Dynamic 41|200 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台产品。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比,Waygate 专有的 EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。 凭借大约 405 x 405 mm² (16 "x16") 的检测区域和200 µm 的像素,与传统的 200µm DXR 平板探测器相比,它可以将检测周期时间增加 2-3 倍而不影响图像质量。

不同于从不同供应商采购大部分核心组件组装产品的做法,Waygate Technologies 是唯一一家将其专有核心部件,如 X 射线管、发生器、软件以及数字平板探测器结合起来形成统一的高性能系统的工业 CT 制造商。新型 Dynamic 41|200 平板探测器专为 Waygate Technologies 的客户提供。 它是 phoenix v|tome|x c、m 和 L CT 系统的标准配置。 根据要求,Dynamic 41|200 也可用于 Seifert x|cube。



产品特点
优势
  • 具有超大 16 英寸检测面积、100 µm 的像素 (4 MP) 的 X 射线平板探测器,可根据工业高能量消耗的长期可靠性进行设计和优化。
  • 高分辨率图像,便于检测细微的迹象(使用微聚焦 X 射线管可检测 100 µm 的特征)。
  • 新一代光电二极管设计,与最先进的 200 µm 像素 DXR 平板探测器相比,效率和灵敏度提高了 10 倍,可在不影响图像质量的情况下将分辨率提高 2-3 倍。
应用
  • 由于平板探测器的灵敏度更高,帧率更快,成像区域更大以及其自适应成像模式,因此减少了检测时间。
  • Dynamic 41 平板探测器系列专为 Waygate Technologies 系统客户提供。



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