Dynamic 41|100 - 고성능 영상 품질 X-선 검출기
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정확한 CT 결과와 빠른 속도
- Dynamic 41|100은 Waygate Technologies 최초의 차세대 산업용 X-선 평판 패널 X-선 검출기 플랫폼입니다. 약 410 x 410 mm²(16"x16") 검출 영역과 100 µm 픽셀 크기에서 뛰어난 영상 품질과 빠른 검출 속도를 제공합니다.
- Waygate Technologies가 자체 X-선 검출기 기술을 기반으로 방사선 촬영 및 CT 고객을 위해 극한의 고에너지 산업용 X-선 용도에 맞게 설계 및 최적화된 최초의 100 µm, 16M 픽셀 검출기를 제공합니다. Waygate의 EnduranceTM CSI 신틸레이터는 종래의 GadOx 또는 다른 분말형 신틸레이터와 비교하여 뛰어난 해상도와 밝기를 제공합니다.
제품 특징
혜택
- 넓은 영역에서 100 µm 픽셀 크기(16 MPixels)를 지원하는 16” X-선 검출기로 산업용 고에너지 환경에서 장기적인 신뢰성을 제공할 수 있도록 설계 및 최적화되어 우수한 영상 및 결과 품질을 제공합니다.
- 미세한 징후까지 쉽게 검출할 수 있는 고해상도 영상(미니포커스 X-선 튜브로 최대 50 µm 형상 검출)
- 최첨단 200 µm 픽셀 검출기 대비 최대 10배 향상된 효율성과 감도를 제공하도록 설계된 차세대 포토다이오드로 작동 주기에 영향을 주지 않고 두 배 더 향상된 해상도를 지원합니다.
용도
- 기하학적 배율을 올리지 않고도 두 배 더 작은 결함까지 검출할 수 있어 대형 제품의 영상을 더 높은 해상도로 얻을 수 있습니다.
- 향상된 검출기 감도, 더 빠른 프레임 레이트, 더 넓은 영상 면적, 적응형 영상 모드로 검사 시간이 단축됩니다.
독점 사용
- Waygate Technologies의 Dynamic 41 검출기는 시스템 고객 전용 제품입니다.
- Dynamic 41|100 검출기는 선택적으로 Phoenix v|tome|x c, m 및 L CT 시스템과 요청 시 Seifert x|cube에 사용할 수 있습니다.
